图3-2 实验接线图
(2) 用二进制数码开关向DR1和DR2寄存器置数，具体方法：
① 关闭ALU输出三态门(ALU-B=1)，开启输入三态门(SW-B=0)，设置数据开关； ② 例如向DR1存入01010101，向DR2存入10101010。具体操作步骤如下： 数据开关 寄存器DR1 寄存器DR2 三态门 数据开关 (01010101) (01010101) (10101010) ALU-B=1 LDDR1=1 LDDR1=0 SW-B=0 LDDR2=0 LDDR2=1 T4= T4= 关寄存器 LDDR1=0 LDDR2=0
(3) 关闭输入三态门(SW-B=1)，开启ALU输出三态门(ALU-B=0)。 (4) 进位标志清零具体操作方法如下：
实验板中SWITCH UNIT单元中的CLR开关为标志CY，ZI的清零开关，它为零时是清零状态，所以依次将开关做1→0→1操作，即可使标志位清零。 注：进位标志指示灯CY亮时表示进位标志为“0”，无进位：标志指示灯CY灭时表示进位为“1”，有进位．
(5) 验证带进位运算及进位锁存功能，使Cn=1，AR=0来进行带进位算术运算。 例如：做加法运算，首先向DR1，DR2置数，然后使ALU-B=0，S3S2S1S0M状态为10010，此时数据总线上显示的数据为DR1加DR2加当前进位标志，这个结果是否产生进位，则要
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按动微动开关KK2，若进位标志灯亮，表示无进位；反之，有进位。因做加法运算时数据总线一直显示的数据为DR1+DR2+CY，所以当有进位打入到进位锁存器后，总线显示的数据为加上进位位的结果。
六 、实验报告要求
填写实验报告，包括姓名、学号、专业班级和实验名称等项，在报告中详细记录实验结果及遇到的问题和解决办法。
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实验四 移位运算实验
一、实验目的
1、了解移位发生器74LS299的功能。 2、验证移位控制电路的组合功能。 二、实验要求
掌握实验箱的连线操作方法，按实验内容及步骤完成操作，完成实验报告，所有实验环节均由每位学生独立完成，严禁抄袭他人实验结果。
三、实验环境
DN-CM+计算机组成原理实验箱一台，排线若干。 四、实验内容及原理
移位运算实验原理图如图4-1所示，使用了一片74LS299作为移位发生器，其8位输入/输出端与总线单元连接。74LS299移位器的片选控制信号为299-B，在低电平时有效。T4为其控制脉冲信号，由“W/R UNIT”单元中的T4接至“STATE UNIT”单元中的单脉冲发生器KK2上而产生的， S0、S1、M 作为移位控制信号，此移位控制逻辑功能如下表4-1所示：
表4-1 移位控制电路功能表
299-B 0 0 0 0 0 任意 S1 0 1 1 0 0 1 S0 0 0 0 1 1 1 M 任意 0 1 0 1 任意 功能 保持 循环右移 带进位循环右移 循环左移 带进位循环左移 装数
五、实验步骤
1、按图4-2连接实验线路，仔细查线无误后接通电源。
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图 4-2 实验接线图
2、向移位寄存器置数。
数据开关 （01101011） 三态门 置数 （01101011） 三态门 { SW-B=0 }
{ }
S0=1 S1=1 T4= { SW-B=1 }
3、移位运算操作。参照“移位控制电路功能表”的内容，先将S1、S0和299-B置为0、
0和0，检查移位寄存器单元装入的数是否正确，然后通过改变S0、S1、M的状态，并按动微动开关KK2，观察移位的结果。
六、实验报告要求
填写实验报告，记录实验过程中遇到的问题及解决方法，将实验观测到的移位结果填入实验报告。
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实验五 存储器实验
一、实验目的
掌握静态随机存储器RAM工作特性及数据的读写方法。
二、实验要求
掌握实验箱的连线操作方法，按实验内容及步骤完成操作，完成实验报告，所有实验环节均由每位学生独立完成，严禁抄袭他人实验结果。
三、实验环境
DN-CM+计算机组成原理实验箱一台，排线若干。 四、实验内容及原理
实验所用的半导体静态存储器电路原理如图5—1所示，实验中的静态存储器一片6116(2K*8)构成，其数据线接至数据总线，地址线由地址锁存器(74LS273)给出。地址灯AD0—AD7与地址线相连，显示地址线内容。数据开关经一三态门(74LS245)连至数据总线,分时给出地址和数据。
因地址寄存器为8位，接入6116的地址A7—A0，而高三位A8—A10接地，所以其实际容量为256字节。6116有三个控制线：CE(片选线)、OE(读线)、WE(写线)。当片选有效(CE=0)时，OE=0进行读操作，WE=0时进行写操作。本实验中将OE常接地，在此情况下，当CE=0，WE=0时进行读操作，CE=0、WE=1时进行写操作，其写时间与T3脉冲宽度一致。
实验时将T3脉冲接至实验板上时序电路模块的TS3相应插孔中，其脉冲宽度可调，其它电平控制信号由”SWITCH UNTY”单元的二进制开关模拟，其中SW-B为低电平有效，LDAR为高电平有效。
图5-1 存储器实验原理图
五、实验步骤
1、形成时钟脉冲信号T3，具体接线方法和操作步骤如下： （1）、接通电源，用示波器接入方波信号源的输出插孔H24，调节电位器W1，使H24
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