晶样品、检偏器及光电探测器组成。
图4 液晶电光效应实验仪装置图
【实验内容及步骤】：
1．光学导轨上依次为：半导体激光器－起偏器－液晶盒－检偏器（带光电探测器）。打开半导体激光器，调节各元件高度，使激光依次穿过起偏器、液晶盒、检偏器，打在光电探测器的通光孔上。
2．接通主机电源，将光功率计调零，用话筒线连接光功率计和光电转换盒，此时光功率计显示的数值为透过检偏器的光强大小。旋转检偏器，观察光功率计数值变化，若最大值小于200 W，可旋转半导体激光器，使最大透射光强大于200 W。最后旋转检偏器使透射光强达到最小。
3．将电压表调至零点，用红黑导线连接主机和液晶盒，从零开始逐渐增大电压，观察光功率计读数变化，电压调至最大值后归零。
4. 从０开始逐渐增加电压，0 2.5V每隔0.2V或0.3V记一次电压及透射光强值，2.5V后每隔0.1V左右记一次数据，6.5V后再每隔0.2V或0.3V记一次数据，在关键点附近宜多测几组数据。
5．作电光曲线图，纵坐标为透射光强值，横坐标为外加电压值。
6．用数字存储示波器， 测试液晶样品的电光响应曲线。
【注意事项】：
1、拆装时只压液晶盒边缘，切忌挤压液晶盒中部；保持液晶盒表面清洁，不能有划痕;应防止