试实验室应设计自己的测试方法和步骤。 10.2.4 背光I-V测试
背光I-V测试主要是为了比较测试前后样本的串联电阻值。这主要是为了评估样本在运输前后所发生的任何可能的变化。
背光I-V测试也是一种比较经济的方法来监控和判断测试模组或组件在接下来的测试中所发生的功率衰减，或者可以监控对照样本的电学性能稳定性。 10.2.4.1 步骤
除了并行的IV基线测试要为之后的并排IV作参考之外，如果用背光I-V测试来进行诊断，那它应该在最初的测量中就很规范，以此来为之后的背光I-V测试作参考。这个方法也适用于接收器和模组的测试。
a) 选择一个合适的电源，这个电源可以是一个普通的直流电源或者是一个跟进电容 器，只要它能够产生额定短路电流Isc的1.6倍就可以。并且电流范围可以调整，在短路电流Isc的0.9到1.6倍之间至少有10个调整点，且间距相等；
a) 假如要进行安装，可以通过跨旁路二极管的引线放置一个跳线片来缩短旁路二极管； b) 连接电源的正负极到样本的正负极；
c) 阻挡电池的光源，例如，可以把样本倒置，以至于测量的样本开路电压小于额定开路电压的5%；
d) 对模组测量至少10个不同的电流值并记录下电流、电压以及电池温度等；
注意：应尽快完成这个过程以避免在测试过程中电池持续升温。假如温度变化太快而不能进行重复读数的时候，也允许模组继续加热知道温度平衡，然后再记录下稳态时候的值。
e) 在垂直轴表示电压，水平轴表示电流的坐标系中标出电压和电流的数据，然后在曲线的线性区域进行线性回归（通常，位于电流的最高点）
V=R×I+V0
其中：
R是模组的串联电阻 V0是线性回归常数
10.2.4.2 要求
无光I-V测试并不是为了将其作为质量检测是否通过的标准，而是一种能够确定样本在接下来每项测试中衰减程度的有效方法。