? 2004年质量专业理论与实务（中级）[4] 一、单选[共5题，每题1分，总计5分]
1、一种电子元件的正常寿命服从λ=0.1的指数分布，则这个电子元件可用时间在100小时之内的概率为（ ）。 A．99.95% B．99.85% C．99.05% D．99.99%
2、随机变量X的平均值为5，标准差也为5，随机变量Y的均值为9，方差为16，则V＝2X+3Y的均值与方差为（ ）。 A．37，164 B．37，244 C．22，164 D．22，244
3、下列不是用来描述样本集中位置的统计量的是（ ）。 A．样本均值 B．样本中位数 C．样本众数 D．样本标准差
4、判定点估计优良性的标准有（ ）。 A．简易性与准确性 B．准确性与有效性 C．无偏性与有效性 D．无偏性与简易性
5、已知X服从指数分布Exp(λ)，其概率密度函数为：P(X)=λe-λX，X≥0 在λ=0.1情况下，P(5≤X≤20)＝（ ）。 A．0.1353 B．0.6065 C．0.4712
D．0.7418
6、正态方差σ2的无偏估计是（ ）。 A． B． C．
D．
7、以下字母不是常用来表示随机变量的是（ ）。 A．X B．Y C．Z
D．y
8、当分布在散布图上的点可能毫无规律，不过也不能完全否定这些点表示的变量间存在某种曲线的趋势，此时相关系数（ ）。 A．r=0 B．r＝±1 C．r＞0 D．r＜0
9、对于曲线回归方程的比较，以下不属于其常用到的准则的是（ ）。 A．要求相关指数R大 B．要求残差平方和小 C．要求标准残差S小
D．要求决定系数小
10、某车间从生产线上随机1000个零件进行检验，发现5个产品有A类不合格；4个产品有B类不合格；2个产品既有A类又有B类不合格；3个产品既有B类又有C类不合格；5个产品有C类不合格，则该批产品中各类不合格数和不合格品数的计算正确的是（ ）。 A．A类不合格：7 A类不合格品：7 B．B类不合格：8 B类不合格品：7
C．C类不合格：8 C类不合格品：6
D．合计不合格数：23 合计不合格品数：2011、二项分布计算法的公式是（ ）。 A． B． C． D．
12、对一批轴承用的钢球10万个进行外观检验，采用(100，15)的抽检方案，当p=10%时Pa为（ ）。 A．0.951 B．0.851 C．0.751 D．0.651
13、计数调整型加严检验设计的主要目的是（ ）。 A．提高对生产方交检批的质量要求 B．保护使用方利益
C．扩大生产方的生产能力 D．检索抽样方案
14、某产品有5个质量特性，根据其重要程度不同分为A、B、C三类不合格，若对批量N=2000 件进行全数检验，发展5个产品有不合格项，结果如下： 产品编号 A类不合格数 B类不合格数 C类不合格数 3 1 0 2 7 0 1 1 12 1 1 0
19 0 1 2
20 0 0 3
则：其中C类不合格品数为（ ）。 A．1 B．2 C．3 D．4
15、设电阻规范下限为95Ω，规范上限为105Ω，过程能力指数为（ ）。 A．3/5 B．5/6 C．6/5
D．5/3
16、对于双侧公差情况下，过程能力指数的公式是（ ）。 A．CP= = B．CPU= C．CPL= D．CP=
17、产品可靠性与（ ）无关。 A．规定时间 B．规定条件 C．规定功能 D．规定维修
18、（ ）是产品的可靠性、维修性和维修保障的综合反映。 A．使用可用性 B．固有可用性 C．基本可靠性 D．任务可靠性
19、平均修复时间表达式为（ ）。 A．MTTR= B．MTTR= C．MTTR= D．MTTR=
20、元器件计数法适用于产品设计开发的（ ）。 A．早期 B．中期
C．详细设计期
D．定稿期21、对可靠性实验叙述错误的是（ ）。
A．可靠性实验是实验室的实验
B．环境应力筛选试验不能提高产品固有可靠性，但通过改进设计和工艺等可以提高产品的可靠性水平
C．可靠性增长试验是通过发现故障，分析和纠正故障，以及对纠正措施的有效性而进行验证以提高产品可靠性水平的过程
D．可靠性测定试验的目的是通过试验测定产品的可靠性水平
22、产品的累积故障分布中最简单的分布是（ ）。 A．威布尔分布 B．对数正态分布 C．二项分布 D．指数分布
23、产品的可靠性框图是用方框的形式表示产品中各单元之间的功能（ ），产品原理图表示产品各单元的（ ）。 A．逻辑关系，物理关系 B．物理关系，逻辑关系 C．逻辑关系，统计关系 D．物理关系，统计关系
24、故障模式发生的概率等级中，（ ）产品在工作期间发生故障的概率很高，即一种故障模式发生的概率大于总故障概率的0.2。 A．B级（很可能发生） B．A级（经常发生） C．D级（很少发生） D．E级（极不可能发生）
25、排列图是建立在巴雷特原理的基础上，主要的影响往往是由（ ） 导致的，通过区分最重要的与较次要的项目，可以用最少的努力获取最佳的改进效果 。 A．多数项目 B．次要项目 C．少数项目
D．多数不合格项目
26、在排列图中，用矩形的高度表示（ ）。 A．发生次数
B．每个项目的累计作用 C．每个项目的成本
D．每个项目相应的作用大小
27、在制作排列图的过程中，为了抓住“关键的少数”，在排列图上通常把累计比率归类，其中在（ ）间的因素为主要因素。 A．0%～60% B．0%～70% C．0%～80% D．0%～90%
28、排列图可用来确定采取措施的顺序，从排列图中（ ）的项目着手采取措施能够事半功倍。
A．矩形柱面积 B．累计频数 C．矩形柱高 D．发生次数
29、由于工序异常、测量错误或混有另一分布的少量数据，这将导致直方图呈（ ）。 A．陡壁型 B．平顶型 C．双峰型 D．孤岛型
30、假定在500块电路板中，每个电路板都含有2000个缺陷机会，若在制造这500块电路板时共发现18个缺陷，则其机会缺陷率为（ ）。 A．0.9% B．1.4% C．0.0018%
D．0.14%二、多选[共5题，每题2分，总计10分] 31、关于标准正态分布的计算公式表示正确的有（ ）。 A．φ(a)=P(u
B．P(u＞a)=1-φ(a) C．φ(-a)=1-φ(a) D．P(0≤u≤a)=-φ(a) E．P(-a≤u≤a)=2φ(a)-1
32、符合对数正态分布的随机变量具有（ ）共同特点。 A．这些随机变量都在正半轴(0，+∞)上取值
B．这些变量分布大都为“右偏分布”
C．若随机变量X服从对数正态分布，则经过对数变换Y＝lnX后服从正态分布
D．若记正态分布的均值为μY，方差为σY2，则相应的对数正态分布均值μX与方差σX2分别为μX＝E（X）＝exp(μY＋σ2Y/2)σX2＝Var(X)＝UX2｛exp(σY2/2)-1｝ E．对数正态变量经过对数变化后变为标准正态变量 33、以下属于从样本推断总体的内容的是（ ）。 A．推断总体中有多少个个体 B．推断总体是什么类型的分布 C．推断总体的均值是多少 D．推断总体的方差是多少
E．推断总体的标准差是多少
34、N(μ，0.082)其中μ的设计值为1.50，每天都要对“μ＝1.50”作例行检验，以观察生产是否正常运行。某天从生产线中随机抽取了25根化纤，测得纤度为：X1，X2，X3，…，X25。其纤度平均值为 ＝1.47。问当日的生产运行情况是否正常。以下说法正确的是（ ）。 A．这不是一个参数估计问题 B．这不是一个假设检验问题