利用原子力显微镜对A型流感病毒的形态学研究
病毒学报CHINESE JOURNAL OF VIROLOGY 第24卷第2期 2008年3月
刘燕飞, 胡孔新, 洪一江, 杨蕴秋, 索华倩, 王静
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(1南昌大学生命科学学院, 江西南昌330031;2中国检验检疫科学研究院,北京100025)
AFM具有很高的分辨率, 横向和纵向分辨率分别可达2-3nm和0.5nm, 可直接用来观察物质的分子或原子。其突出特点是制样简单, 不需要染色、固定以及其他复杂的制样过程[ 4], 并可以在液相实现观测。因此, AFM非常适合于进行病毒形态结构分析, 成为近年来病毒形态学研究热点之一。
AFM样品制备 取10 μl 病毒浓缩液, 滴于2%( 3-Amin-opropyl)triethoxysilane丙酮溶液处理的玻片上, 在一湿盒中静置30min, 并用双蒸水冲洗几次, 氮气吹干。然后将该玻片用双面胶固定于15mm铁片上进行扫描观察。
AFM成像 流感病毒A的AFM图像通过Multimode和NanoScopeⅢ a控制器, 在室温、大气条件下以Tapping 模式采集。选用E型扫描器。悬臂的长度为115-135μm,弹性常数k为20~ 80N/m,共振频率为200~ 400kHz。所用探针为由硅制成的RTESP 探针, 针尖曲率半径为5~10nm, 扫描速度为1Hz和28Hz,相应每条扫描线的像素分别为256×256pixel 和512×512pixel。数据采集模式为恒力模式,图像采用高度( Height) 与相位(Phase) 两种信号输出,并经Nanoscope Image Analysis分析处理软件进行病毒形貌的截面(Section) 与粗糙度等参数的测量和分析, 其中表面均方根粗糙度Rq, 为给定区域内每一点Z值的标准偏差,而表面平均粗糙度Ra, 为给定区域内每一点偏离中心平面的算术平均数。
一、原子力显微镜的硬件架构：
图1、原子力显微镜(AFM)系统结构