半导体物理学(刘恩科第七版)课后习题解第四章习题及答案(精)

2018-11-15 13:00

第四章习题及答案

1. 300K时,Ge的本征电阻率为47Ωcm,如电子和空穴迁移率分别为

3900cm2/( V.S)和1900cm2/( V.S)。 试求Ge 的载流子浓度。 解:在本征情况下,n=p=ni,由ρ=1/σ= 47?1.602?10 -19 1nqu n +pqu

= p

1niq(un+up)cm -3 知

ni=

ρq(un+up) =

?(3900+1900) =2.29?10

13

2. 试计算本征Si在室温时的电导率,设电子和空穴迁移率分别为1350cm2/( V.S)和500cm2/( V.S)。当掺入百万分之一的As后,设杂质全部电离,试计算其电导率。比本征Si的电导率增大了多少倍?

解:300K时,un=1350cm2/(V?S),up=500cm2/(V?S),查表3-2或图3-7可知,室温下Si的本征载流子浓度约为ni=1.0?1010cm-3。 本征情况下, σ=nqun+pqu p

=niq(un+up)=1?10 10

?1.602?10 18 -19

?(1350+500)=3.0?10 12 -6

S/cm

金钢石结构一个原胞内的等效原子个数为8?+6?的晶格常数为0.543102nm,则其原子密度为

+4=8个,查看附录B知Si。 8

(0.543102?10 11000000 -7 )

3

=5?10 22 cm -3

掺入百万分之一的As,杂质的浓度为ND=5?1022? =5?10 16 cm -3

,杂质全

2

ND>>ni,部电离后,这种情况下,查图4-14(a)可知其多子的迁移率为800 cm/( V.S)

σ≈NDqun=5?10 ''16

?1.602?10 -19

?800=6.4S/cm

比本征情况下增大了 σσ ' =

6.43?10 -6

=2.1?10倍

6

3. 电阻率为10Ω.m的p型Si样品,试计算室温时多数载流子和少数载流子浓度。 解:查表4-15(b)可知,室温下,10Ω.m的p型Si样品的掺杂浓度NA约为1.5?1015cm-3,查表3-2或图3-7可知,室温下Si的本征载流子浓度约为ni=1.0?1010cm-3,NA>>ni p≈NA=1.5?10 15 cm -3

n=ni2

p=(1.0?1010

15)21.5?10=6.7?10cm4-3

4. 0.1kg的Ge单晶,掺有3.2?10-9kg的Sb,设杂质全部电离,试求该材料的电阻率[μn=0.38m/( V.S),Ge的单晶密度为5.32g/cm,Sb原子量为121.8]。 解:该Ge单晶的体积为:V=

Sb掺杂的浓度为:ND=0.1?10005.32-923=18.8cm3;

233.2?10?1000121.8?6.025?10/18.8=8.42?1014cm 3

查图3-7可知,室温下Ge的本征载流子浓度ni≈2?1013cm-3,属于过渡区 n=p0+ND=2?1013+8.4?1014=8.6?1014cm-3

=1.9Ω?cmρ=1/σ≈1

nqun=18.6?1014?1.602?10-19?0.38?104

5. 500g的Si单晶,掺有4.5?10-5g 的B ,设杂质全部电离,试求该材料的电阻率[μp=500cm2/( V.S),硅单晶密度为2.33g/cm3,B原子量为10.8]。 解:该Si单晶的体积为:V=

B掺杂的浓度为:NA=4.5?1010.85002.33-5=214.6cm3;

16?6.025?1023/214.6=1.17?10cm 3

查表3-2或图3-7可知,室温下Si的本征载流子浓度约为ni=1.0?1010cm-3。 因为NA>>ni,属于强电离区,p≈NA=1.12?1016cm-3

ρ=1/σ≈1

pqup=11.17?1016?1.602?10-19?500=1.1Ω?cm

6. 设电子迁移率0.1m2/( V?S),Si 的电导有效质量mc=0.26m0, 加以强度为104V/m的电场,试求平均自由时间和平均自由程。 解:由μn=qτnmc知平均自由时间为 -31τn=μnmc/q=0.1?0.26?9.108?10/(1.602?10-19)=1.48?10-13s 平均漂移速度为

=μnE=0.1?104=1.0?10ms3-1

平均自由程为

l=n=1.0?10?1.48?103-13=1.48?10-10m

7 长为2cm的具有矩形截面的Ge样品,截面线度分别为1mm 和2mm,掺有1022m-3受主,试求室温时样品的电导率和电阻。再掺入5?1022m-3施主后,求室温时样品的电导率和电阻。

解:NA=1.0?1022m-3=1.0?1016cm-3,查图4-14(b)可知,这个掺杂浓度下,Ge的

迁移率up为1500 cm2/( V.S),又查图3-7可知,室温下Ge的本征载流子浓度 ni≈2?1013cm-3,NA>>ni,属强电离区,所以电导率为 16σ=pqup=1.0?10?1.602?10-19?1500=2.4Ω?cm 电阻为

R=ρl s=l σ?s=2

2.4?0.1?0.2=41.7Ω 掺入5?1022m-3施主后

n=ND-NA=4.0?1022m-3=4.0?1016cm-3

总的杂质总和Ni=ND+NA=6.0?1016cm-3,查图4-14(b)可知,这个浓度下,Ge

的迁移率un为3000 cm2/( V.S),

σ=nqu'

n=nqun=4.0?1016?1.602?10-19?3000=19.2Ω?cm 电阻为

R=ρl s=l

σ?s'=219.2?0.1?0.2=5.2Ω

8. 截面积为0.001cm2圆柱形纯Si样品,长1mm,接于10V的电源上,室温下希望通过0.1A的电流,问: ①样品的电阻是多少? ②样品的电阻率应是多少? ③应该掺入浓度为多少的施主? 解:① 样品电阻为R=V I=10 0.1 Rs

l=100Ω =1Ω?cm ② 样品电阻率为ρ==100?0.001

0.1

③ 查表4-15(b)知,室温下,电阻率1Ω?cm的n型Si掺杂的浓度应该为5?1015cm-3。

9. 试从图4-13求杂质浓度为1016cm-3和1018cm-3的Si,当温度分别为-50OC和+150OC时的电子和空穴迁移率。

解:电子和空穴的迁移率如下表,迁移率单位cm2/( V.S)

10. 试求本征Si在473K 时的电阻率。

解:查看图3-7,可知,在473K时,Si的本征载流子浓度ni=5.0?1014cm-3,在这个

浓度下,查图4-13可知道un≈600cm2/(V?s),up≈400cm2/(V?s)

ρi=1/σi=1niq(un+up)=15?1014?1.602?10-19?(400+600)=12.5Ω?cm

11. 截面积为10-3cm2,掺有浓度为1013cm-3的p型Si样品,样品内部加有强度为10V/cm的电场,求;

①室温时样品的电导率及流过样品的电流密度和电流强度。 ②400K时样品的电导率及流过样品的电流密度和电流强度。 解:

①查表4-15(b)知室温下,浓度为1013cm-3的p型Si样品的电阻率为ρ≈2000Ω?cm,则电导率为σ=1/ρ≈5?10-4S/cm。 电流密度为J=σE=5?10-4?103=0.5A/cm2 电流强度为I=Js=0.5?10-3=5?10-4A

13-3②400K时,查图4-13可知浓度为10cm的p型Si的迁移率约为up=500cm2/(V?s),3

则电导率为σ=pqup=1013?1.602?10-19?500=8?10-4S/cm 电流密度为J=σE=8?10-4?103=0.8A/cm2 电流强度为I=Js=0.8?10-3=8?10-4A

12. 试从图4-14求室温时杂质浓度分别为1015,1016,1017cm-3的p型和n型Si 样品的空穴和电子迁移率,并分别计算他们的电阻率。再从图4-15分别求他们的电阻率。

硅的杂质浓度在1015-1017cm-3范围内,室温下全部电离,属强电离区,n≈ND或p≈NA 电阻率计算用到公式为ρ=1

pqup 或ρ=1nqun

13.掺有1.1?1016硼原子cm-3和9?1015磷原子cm-3的S i样品,试计算室温时多数载流子和少数载流子浓度及样品的电阻率。 解:室温下,Si的本征载流子浓度ni=1.0?1010/cm3

有效杂质浓度为:NA-ND=1.1?1016-9?1015=2?1015/cm3 多数载流子浓度p≈NA-ND=2?1015/cm3 少数载流子浓度n=ni2>>ni,属强电离区 p0=1?102?102015=5?10/cm 43

总的杂质浓度Ni≈NA+ND=2?1016/cm3,查图

up多子≈400cm/V?s, un少子≈1200cm/V?s 224-14(a)知, 电阻率为

ρ=1

pqup+nqu≈n1upqp=11.602?10-19?2?1015?400=7.8Ω.cm

14. 截面积为0.6cm2、长为1cm的 n型GaAs样品,设un=8000 cm2/( V?S),n=1015cm-3,试求样品的电阻。 解:ρ=1

nqun= l

s11.602?10-19?1?1015?8000=0.78Ω.cm 电阻为R=ρ=0.78?1/0.6=1.3Ω

15. 施主浓度分别为1014和1017cm-3的两个Ge样品,设杂质全部电离: ①分别计算室温时的电导率;

②若于两个GaAs样品,分别计算室温的电导率。 解:查图4-14(b)知迁移率为

Ge材料,

14-3浓度为10cm,σ=nqun=1.602?10-19?1?1014?4800=0.077S/cm 17-3浓度为10cm,σ=nqun=1.602?10-19?1?1017?3000=48.1S/cm

GaAs材料,

14-3浓度为10cm,σ=nqun=1.602?10-19?1?1014?8000=0.128S/cm

浓度为1017cm-3,σ=nqun=1.602?10-19?1?1017?5200=83.3S/cm

16. 分别计算掺有下列杂质的Si,在室温时的载流子浓度、迁移率和电阻率: ①硼原子3?10cm;

②硼原子1.3?1016cm-3+磷原子1.0?1016cm-3 ③磷原子1.3?1016cm-3+硼原子1.0?1016cm

④磷原子3?1015cm-3+镓原子1?1017cm-3+砷原子1?1017cm-3。

解:室温下,Si的本征载流子浓度ni=1.0?1010/cm3,硅的杂质浓度在1015-1017cm-3

范围内,室温下全部电离,属强电离区。 ①硼原子3?1015cm-3

p≈NA=3?101515-3/cm n=3ni2p=1?10 3?102015=3.3?10/cm 43

查图4-14(a)知,μp=480cm2/V?s ρ= 1upqN A = 1

1.602?10 -19 ?3?10 15 ?480 =4.3Ω.cm

②硼原子1.3?1016cm-3+磷原子1.0?1016cm-3 p≈NA-ND=(1.3-1.0)?10 16 16 /cm 3

=3?10 15

/cm ,n=

3 ni 2 p =

1?103?10 2015

=3.3?10/cm 43

Ni=NA+ND=2.3?10 /cm,查图

3

4-14(a)知,μp=350cm2/V?s =5.9Ω.cm ρ≈ 1upqp = 1

1.602?10

-19 ?3?10 15 ?350

③磷原子1.3?1016cm-3+硼原子1.0?1016cm n≈ND-NA=(1.3-1.0)?10Ni=NA+ND=2.3?10 16

16 /cm 3

=3?10 15

/cm ,p= 3 ni 2

n =

1?103?10 2015

=3.3?10/cm 43

/cm,查图

3

4-14(a)知,μn=1000cm2/V?s =2.1Ω.cm

ρ≈ 1unqp = 1

1.602?10 -19 ?3?10 15 ?1000

④磷原子3?1015cm-3+镓原子1?1017cm-3+砷原子1?1017cm-3 n≈ND1-NA+ND2=3?10 15

/cm ,p= 3 ni 2

n =

1?103?10 2015

=3.3?10/cm 43

Ni=NA+ND1+ND2=2.03?10 17

/cm,查图

3

4-14(a)知,μn=500cm2/V?s ρ≈ 1unqp = 1

1.602?10 -19 ?3?10 15

?500 =4.2Ω.cm

17. ①证明当un≠up且电子浓度n=niupun,p=niunup时,材料的电导率最小,并求σmin的表达式。 解:σ=pqup+nqun= dσdn nin 22 ni 2 n qu p

+nqun 2 =q(- up+un),

dσdn 2 2 =q 2nin 3 up 令 dσdn

2

=0?(- nin 22

up+un)=0?n=niup/un,p=niuu/up dσdn 2 n=ni up/un =q

2ni 3 2

ni(up/un)up/un up=q

2ununniup up >0

因此,n=niup/un为最小点的取值

σmin=q(niuu/upup+niup/unun)=2qniuuup

②试求300K时Ge 和Si样品的最小电导率的数值,并和本征电导率相比较。 查表4-1,可知室温下硅和锗较纯样品的迁移率

Si: σmin=2qniuuup=2?1.602?10-19?1?1010??500=2.73?10-7S/cm σi=qni(up+un)=1.602?10 -19 ?1?10

10

?(1450+500)=3.12?10

-6 S/cm

Ge: σmin=2qniuuup=2?1.602?10-19?1?1010?3800?1800=8.38?10-6S/cm σi=qni(up+un)=1.602?10 -19 ?1?10 10

?(3800+1800)=8.97?10 -6 S/cm

18. InSB的电子迁移率为7.5m2/( V?S),空穴迁移率为0.075m2/( V?S), 室温时本征载流子浓度为1.6?10cm,试分别计算本征电导率、电阻率和最小电导率、最大电导率。什么导电类型的材料电阻率可达最大。

解:σi=qni(up+un)=1.602?10-19?1.6?1016?(75000+750)=194.2S/cm ρi=1/σi=0.052Ω.cm 16 -3

借用17题结果

σmin=2qniuuup=2?1.602?10 -19

?1.6?10 16

?75000?750=38.45S/cm

ρmax=1/σmin=1/12.16=0.026Ω.cm

当n=niup/un,p=niuu/up时,电阻率可达最大,这时 n=ni750/75000

19. 假设S i中电子的平均动能为3k0T/2,试求室温时电子热运动的均方根速度。如将S i置于10V/cm的电场中,证明电子的平均漂移速度小于热运动速度,设电子迁移率为15000cm/( V?S).如仍设迁移率为上述数值,计算电场为10V/cm时的平均 2 4

漂移速度,并与热运动速度作一比较,。这时电子的实际平均漂移速度和迁移率应为多少?

20. 试证Ge的电导有效质量也为 1mc=1?12? ? + 3?m1mt??


半导体物理学(刘恩科第七版)课后习题解第四章习题及答案(精).doc 将本文的Word文档下载到电脑 下载失败或者文档不完整,请联系客服人员解决!

下一篇:校园是我家,爱家靠大家主题班会教案

相关阅读
本类排行
× 注册会员免费下载(下载后可以自由复制和排版)

马上注册会员

注:下载文档有可能“只有目录或者内容不全”等情况,请下载之前注意辨别,如果您已付费且无法下载或内容有问题,请联系我们协助你处理。
微信: QQ: