DSP技术实验四

1970-01-01 08:00

实验四 数字I/O 实验

一、实验目的

1. 熟悉CCS 的开发环境;

2. 掌握DSP 扩展数字I/O 口的方法; 3. 了解SEED-DEC5416 的硬件系统;

二、实验设备

电脑、SEED-DTK_DBD 实验箱

三、实验背景

DSP 系统中一般只有少量的数字I/O 资源,而一些控制中经常需要大量的数字量的输 入与输出。因而,在外部扩展I/O 资源是非常有必要的。在扩展I/O 资源时一般占用DSP 的I/O 空间。其实现方法一般有两种:其一为采用锁存器像74LS273、74lS373 之类的集成 电路;另一种是采用CPLD 在其内部做锁存逻辑,我们采用的是后者。 3.4.3.2 DTK5416 系统中数字IO 所占的资源如下:

1. 交通灯控制口地址为:0x080000(I/O 空间);其说明如下: WG:方向西的绿灯控制位; WY:方向西的黄灯控制位; WR:方向西的红灯控制位; SG:方向南的绿灯控制位; SY:方向南的黄灯控制位; SR:方向南的红灯控制位; EG:方向东的绿灯控制位; EY:方向东的黄灯控制位; ER:方向东的红灯控制位; NG:方向北的绿灯控制位; NY:方向北的黄灯控制位; NR:方向北的红灯控制位;

当以上各位置“1”时,点亮各控制位所代表的交通灯状态的LED 灯。 2. LED 控制口地址为:0x080002(IO 空间):其说明如下: D7 D6 D5 D4 D3 D2 D1 D0 OUT7 OUT6 OUT5 OUT4 OUT3 OUT2 OUT1 OUT0 向控制位OUT[7:0]写入“1”时,点亮相应位置的LED 灯。

注:8 个LED 灯是位于SEED-CPLD 板上的,其控制线是通过DTK_IO 单元模块 转接的,然后经SEED-CPLD 单元模块驱动后再点亮LED 灯的。

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在数字IO 调试程序中,主要包含以下文件: 1. boot.asm:C 环境的引导程序;

2. dec5416.c:对SEED-DEC5416 各项资源的操作的函数集,主要包含了对 UART 的操作的各个函数,对CODEC 的各个控制函数。以及对系统各项的初始 化函数。

3. io.c:这是实验的主程序,包含了系统的初始化,及控制交通灯与数字量输出。 4. memory.asm:包含了对FLASH 的各项操作、程序空间MEMORY 的读写。 5. sysreg.asm:包含了对DSP 的各项控制,像中断的设置、系统时钟设置、及 各 项寄存器的操作。

6. uart.asm:对异步串口的寄存器的读与写。 7. vector.asm:包含了VC5416 的中断向量表。

8. dec5416.cmd:声明了系统的存贮器配置与程序各段的连接关系。

四、实验内容

1. DSP 的初始化 2. UART 的初始化

3. TMS320C5416 数字I/O 口使用。

通过本实验,了解DSP 对I/O 口的操作,完成交通灯与LED 的控制。熟练使用CCS 对程序进行调试。

实验步骤

脱机实验介绍:

本实验的主要功能是将串口通讯(SEED-DEC5416 与 MMI5402 异步串口通讯)与调 试好的数字I/O 实验结合在一起,形成一个完整的脱机实验程序。 数字I/O 实验主要完成的功能:

在此实验中,SEED-DEC5416 首选进行初始化,包括对外设UART、本身频率的设定 及一些状态区的初始化。然后等待SEED-MMI5402 发送命令;SEED-DEC5416 响应交通

灯自动模式、交通灯手动模式、交通灯东西通、交通灯南北通、及交通灯的禁行与夜间模式 的操作命令。同时还响应,对SEED-DEC5416 的复位。

实验演示

在脱机(不接CCS)的情况下,可以首先进行实验的演示。

1. 打开SEED-DTK_DBD 的电源。观察SEED-DTK-IO1 单元的+5V,+3.3V,+ 15V,-15V 的电源指示灯,SEED_DEC5416 的D2 以及SEED-DSK2812 的D2 是否均亮;若有不亮的,请断开电源,检查电源。

2. 等待LCD 显示器上出现“引导程序启动完成!”。

3. 进入SEED-DTK_DBD 的实验选项的菜单下,选择数字IO 实验一项。

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4. 进入实验后,等待LCD 显示器上出现“数字IO 实验装载成功”之后(数字IO 实验 程序从MMI5402 的Flash 装载到SEED-DEC5416 的Flash 处,且程序跳转成功)。 即可按菜单指示操作,完成数字IO 实验的演示。

实验报告

1、 实验步骤和实验结果 2、 理解DSP 程序的编写过程。

注意事项:

数字IO 实验流程图包括两个部分:主程序、实验处理的流程图。实验处理是主程序中 的一部分,即是主程序流程图中的实验处理部分。此部分在是第一部分数字IO 调试程序的 基础上进行修改而来的,为了使读者能够更好的理解整合实验的程序与数字IO 调试程序的 结构不同之处,特地将此部分内容单独介绍。

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