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d、 如图
现象：在光纤纤连接器、耦合器、熔接点处产生一个明显的增益； 原因：模场直径不匹配造成的；
对策：测试衰减和接头损耗必须双向测试，取平均值； e、如图
现象：曲线斜率正常，光纤均匀性合格，但两端光纤衰减系数相差很大 原因：模场不均匀造成，一般为光纤拉丝引头和结尾部分； 对策：测试衰减必须双向测试，取平均值； f、如图
现象：在整根光纤衰减合格，曲线大部分斜率均匀，但在菲涅尔反射峰前沿有一小凹陷
原因：未端几米或几十米光纤受侧压； 对策：复绕观察有无变化，无变化则剪掉；
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g、如图
1310nm 1550nm
现象：1310nm光纤曲线平滑，光纤衰减斜率基本不变，衰减指标略微偏高；但1550nm光纤衰减斜率增加，衰减指标偏高； 原因：束管内余长过短，光纤受拉伸；
对策：确认束管内的余长，增加束管内的余长； h、如图
1310nm 1550nm
现象：1310nm光纤曲线平滑，光纤衰减斜率基本正常，衰减指标正常；但1550nm光纤衰减斜率严重不良，衰减指标严重偏高； 原因：束管内余长过长，光纤弯曲半径过小； 对策：确认束管内的余长，减少束管内的余长； i、如图
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现象：尾纤与过渡纤有部分曲线出现有规则的曲线不良，但被测光纤后半部分曲线正 常，整根被测光纤衰减指标基本正常；
原因：一般是由设备本身和测试方法综合造成的； 对策：关机，重新起动，对各个光纤接触部分进行清洁；
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