Tianhuang Teaching Apparatuses 天煌教仪 版本号：V3.1 单片机2CPLD/FPGA及其应用系列 THMEMU-1型 单片机技术实训装置 实训指导书 （含使用说明书） 天煌教仪 浙江天煌科技实业有限公司
目 录
第一章 单片机软件实验 .......................................................................................................... 3
实验一 存储器块清零 .................................................................................................... 3 实验二 二进制BCD码转换 ............................................................................................ 5 实验三 二进制ASCII码转换 ........................................................................................ 7 实验四 程序跳转表 ........................................................................................................ 9 实验五 内存块移动 ....................................................................................................... 11 实验六 数据排序 .......................................................................................................... 13 第二章 单片机基础实验 ........................................................................................................ 15
实验七 P1口输入、输出实验 ..................................................................................... 15 实验八 继电器控制实验 .............................................................................................. 18 实验九 音频驱动实验 .................................................................................................. 20 实验十 定时器实验 ...................................................................................................... 23 实验十一 定时器输出PWM实验 .................................................................................. 25 实验十二 计数器实验 .................................................................................................. 26 实验十三 看门狗实验 .................................................................................................. 28 实验十四 外部中断实验 .............................................................................................. 30 实验十五 EEPROM外部程序存储器实验 ..................................................................... 32 实验十六 FLASH ROM外部程序存储器实验 ............................................................... 34 实验十七 SRAM外部数据存储器扩展实验 ................................................................. 36 实验十八 93C46串行EEPROM数据读写实验 ............................................................. 38 实验十九 IC总线实验 ................................................................................................ 40 实验二十 8253定时/计数器实验 ............................................................................... 45 实验二十一 8155 I/O扩展实验 ................................................................................. 47 实验二十二 8255 I/O扩展实验 ................................................................................. 50 实验二十三 74LS164串转并实验 ............................................................................... 52 实验二十四 74LS165并转串实验 ............................................................................... 54 实验二十五 用74LS245读入数据实验 ...................................................................... 56 实验二十六 用74LS273输出数据实验 ...................................................................... 58 实验二十七 74HC138译码器实验 ............................................................................... 60 实验二十八 查询式键盘实验 ...................................................................................... 61
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实验二十九 7279阵列式键盘实验 ............................................................................. 63 实验三十 LED双色点阵显示实验 ........................................................................... 66 实验三十一 串行静态显示实验 .................................................................................. 68 实验三十二 16316 LED点阵显示实验 ..................................................................... 70 实验三十三 DAC0832并行D/A转换实验 ................................................................... 72 实验三十四 ADC0809并行A/D转换实验 ................................................................... 75 实验三十五 MC14433并行A/D转换实验 ................................................................... 78 实验三十六 LTC1446串行D/A转换实验 ................................................................... 81 实验三十七 TLC549串行A/D转换实验 ..................................................................... 84 第三章 单片机接口应用开发实验 ........................................................................................ 85
实验三十八 RS232通信接口 ....................................................................................... 85 实验三十九 RS485通信接口 ....................................................................................... 87 实验四十 实时时钟（RTC）实验 ............................................................................ 89 实验四十一 IC卡读写实验 ......................................................................................... 93 实验四十二 语音芯片控制实验 .................................................................................. 98 实验四十三 V/F转换与F/V转换实验 ..................................................................... 104 实验四十四 DS18B20温度传感器实验 ..................................................................... 107 实验四十五 红外发射与接收实验 ............................................................................. 111 实验四十六 电子琴模拟实验 ..................................................................................... 114 实验四十七 汽车转弯信号灯模拟实验 ..................................................................... 117 实验四十八 十字路口交通灯模拟实验 ..................................................................... 119 实验四十九 舞台灯模拟实验 .................................................................................... 121 实验五十 步进电机模拟实验 ................................................................................ 122 实验五十一 直流电机控制实验 ................................................................................ 126 实验五十二 步进电机控制实验 ................................................................................ 128 附录一 THKL-C51仿真器联机及软件的使用说明 ............................................................. 131 附录二 ISP在线下载器使用说明 ....................................................................................... 152
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第一章 单片机软件实验 实验一 存储器块清零
一、实验目的
1.掌握存储器读写方法 2.了解存储器块的操作方法 二、实验说明
本实验指定某块存储器的起始地址和长度，要求能将其内容清零。通过该实验学生可以了解单片机读写存储器的方法，同时也可以了解单片机编程、调试方法。 三、实验内容及步骤
1.安装好仿真器，用串行数据通信线连接计算机与仿真器，把仿真头插到模块的单片机插座中，打开模块电源，插上仿真器电源插头（USB线）。
2.启动PC机，打开KEIL软件（KEIL软件使用见附录一），软件设置为模拟调试状态。在所建的Project文件中添加TH1.ASM源程序进行编译，编译无误后，打开数据窗口，选择外部数据存储器窗口XDATA，观察8000H (MEMORY#2窗口输入X:8000H 后回车)起始的256个字节单元的内容，若全为0，则点击各单元，用键盘输入不为0的值。按程序提示设置断点，执行程序，点击全速执行快捷按钮，点击暂停按钮，观察存储块数据变化情况，256个字节全部清零(红色)。点击复位按钮，可再次运行程序。
3.打开CPU窗口，选择单步或跟踪执行方式运行程序，观察CPU窗口各寄存器的变化，可以看到程序执行的过程，加深对实验的了解。 四、流程图及源程序（见光盘中的程序文件夹）
1.源程序 ORG 0000H START EQU 8000H
MOV DPTR， #START ；起始地址
MOV R0，#0 ；设置256字节计数值 CLR A Loop：
MOVX @DPTR，A
INC DPTR ；指向下一个地址 DJNZ R0，Loop ；计数值减一 NOP LJMP $ END 2.流程图
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是否清除完?
五、思考题
如何将存储器块的内容置成某固定值(例全填充为0FFH)? 请用户修改程序，完成此操作。
是 结束 否 地址加1 当前地址内容清零 设置块长度 设置块起始地址 4