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在单列直插集成电路中，一般都有一个用来指示第一根引脚的标
记。把集成电路正面朝着自己，引脚向下，左侧端有一个小圆坑或其它标记，是用来指示第一脚位置的，即左侧端点的引脚为第一根引脚，然后依次从左向右为各引脚。双列直插集成电路是使用量最多的一种集成电路，这种集成电路的外封装材料最常见的是塑料，也可以是陶瓷，集成电路的引脚分成两列，两列引脚数相等，引脚可以是直插的，也可以是贴片式的。在双列直插集成电路中，将印有型号的的一面朝上，并将型号对着自己，这时集成电路的左侧下方会有不同的标记来表示第一根引脚。确定第一根引脚之后，依次逆时针方向为其它各引脚。四列集成电路的引脚分成四列，且每列的引脚数相等，所以这种集成电路的引脚数是4的倍数。四列集成电路常见于贴片式集成电路、大规模集成电路和数字集成电路中。将四列集成电路正面朝上，且将型号朝着自己，可见集成电路左下方有一个标记，左下方第一根引脚为第一脚。然后逆时针方向依次为各引脚。 （3）集成电路的检测
对于集成电路的质量检测，应了解它在电路中的作用，各引脚的
电气参数与其它元件的相互关系等，有的放矢地采取必要的手段来进行检测。集成电路的检测方法在这介绍以下三种；集成电路常用的检测方法有在线测量法、非在线测量法和代换法。○1非在线测量 ； 非在线测量潮在集成电路未焊入电路时，通过测量其各引脚之间的直
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流电阻值与已知正常同型号集成电路各引脚之间的直流电阻值进行对比，以确定其是否正常。○2在线测量 ；在线测量法是利用电压测量法、电阻测量法及电流测量法等，通过在电路上测量集成电路的各引脚电压值、电阻值和电流值是否正常，来判断该集成电路是否损坏。 3代换法 ；代换法是用已知完好的同型号、同规格集成电路来代换○
被测集成电路，可以判断出该集成电路是否损坏。 下面介绍一下常用集成电路的检测 。
1微处理器集成电路的检测 ○
微处理器集成电路的关键测试引脚是VDD电源端、RESET复位端、XIN晶振信号输入端、XOUT晶振信号输出端及其他各线输入、输出端。 在路测量这些关键脚对地的电阻值和电压值，看是否与正常值（可从产品电路图或有关维修资料中查出）相同。 不同型号微处理器的RESET复位电压也不相同，有的是低电平复位，即在开机瞬间为低电平，复位后维持高电平；有的是高电平复位，即在开关瞬间为高电平，复位后维持低电平。
2开关电源集成电路的检测 ○
开关电源集成电路的关键脚电压是电源端（VCC）、激励脉冲输出端、电压检测输入端、电流检测输入端。测量各引脚对地的电压值和电阻值，若与正常值相差较大，在其外围元器件正常的情况下，可以确定是该集成电路已损坏。 内置大功率开关管的厚膜集成电路，还
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可通过测量开关管C、B、E极之间的正、反向电阻值，来判断开关管是否正常。
3音频功放集成电路的检测 ○
检查音频功放集成电路时，应先检测其电源端（正电源端和负电源端）、音频输入端、音频输出端及反馈端对地的电压值和电阻值。若测得各引脚的数据值与正常值相差较大，其外围元件与正常，则是该集成电路内部损坏。
对引起无声故障的音频功放集成电路，测量其电源电压正常时，可用信号干扰法来检查。测量时，万用表应置于R×1档，将红表笔接地，用黑表笔点触音频输入端，正常时扬声器中应有较强的“喀喀”声。
4运算放大器集成电路的检测 ○
用万用表直流电压档，测量运算放大器输出端与负电源端之间的电压值（在静态时电压值较高）。用手持金属镊子依次点触运算放大器的两个输入端（加入干扰信号），若万用表表针有较大幅度的摆动，则说明该运算放大器完好；若万用表表针不动，则说明运算放大器已损坏。
5时基集成电路的检测 ○
时基集成电路内含数字电路和模拟电路，用万用表很难直接测出其好坏。可以做一个测试电路来检测时基集成电路的好坏。测试电路由阻容元件、发光二极管LED、6V直流电源、电源开关S和8脚IC
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插座组成。将时基集成电路（例如NE555）插信IC插座后，按下电源开关S，若被测时基集成电路正常，则发光二极管LED将闪烁发光；若LED不亮或一直亮，则说明被测时基集成电路性能不良。
2.9光耦的识别与检测
（1）光耦的识别
光电耦合器——又称光耦合器或光耦，它属于较新型的电子产品，现在它广泛应用于计算机、音视频……各种控制电路中。由于光耦内部的发光二极管和光敏三极管只是把电路前后级的电压或电流变化，转化为光的变化，二者之间没有电气连接，因此能有效隔断电路间的电位联系，实现电路之间的可靠隔离。 （2）光耦的作用
光耦的作用是电气隔离，抗干扰，开关等。 （3）光耦的检测
判断光耦的好坏，可在路测量其内部二极管和三极管的正反向电
阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。
○1比较法 拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。
○2数字万用表检测法 下面以ＰＣ１１１光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法，检测电路如图１所示。检测时将光耦内接二极
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管的＋端1脚和－端2脚分别插入数字万用表的Ｈfe的ｃ、ｅ插孔内，此时数字万用表应置于ＮＰＮ挡；然后将光耦内接光电三极管ｃ极5脚接指针式万用表的黑表笔，ｅ极4脚接红表笔，并将指针式万用表拨在Ｒ×１ｋ挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度——实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低；若表针不动，则说明光耦已损坏。
○3 光电效应判断法 仍以ＰＣ１１１光耦合器的检测为例，检测电路如图２所示。将万用表置于Ｒ×１ｋ电阻挡，两表笔分别接在光耦的输出端4、5脚；然后用一节１．５Ｖ的电池与一只５０～１００Ω的电阻串接后，电池的正极端接ＰＣ１１１的1脚，负极端碰接2脚，或者正极端碰接1脚，负极端接2脚，这时观察接在输出端万用表的指针偏转情况。如果指针摆动，说明光耦是好的，如果不摆动，则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大，表明光电转换灵敏度越高。
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