第十章 扫描电子显微镜
一、名词解释
1、SEM 2、二次电子 3、背散射电子 4、阴极发光
二、判断题
1、背散射电子像是原子序数衬度，背散射系数与原子序数成正比。（ ） 2、扫描电镜的分辨本领高于透射电镜。（ ） 3、扫描电镜的背散射电子像是原子序数衬度。（ ） 4、二次电子象是表面形貌衬度。（ ） 5、二次电子的产额与原子序数成正比。（ ）
6、SEM一般是采用二次电子成像，这种工作方式叫发射方式。（ ）
三、问答与计算
1．SEM如何制备样品？ 2．SEM如何成像？
3．简述扫描电镜样品制备应主要考虑的问题。 4．简述扫描电镜的工作原理及样品制备。
5．扫描电镜的主要工作方式有哪几种，它们收集什么信号成像？ 6、扫描电镜的成像原理与透射电镜有何不同？
8、 电子束入射固体样品表面会激发哪些信号？它们有哪些特点和用途？
9、 二次电子像景深大，样品凹坑底部都能清楚地显示出来，从而使图像的立体感很强，其原因
何在？
10、扫描电镜的分辨率受到哪些因素影响，用不同的信号成像时，其分辨率有何不同？所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号成像时的分辨率？
11、扫描电镜的放大倍数与透射电镜放大倍数相比有何特点？
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第十一章 电子探针X射线显微分析
一、名词解释
1、EPMA 2、分光晶体 3、点分析 4、线扫描 5、面扫描
二、填空题
1.电子探针的基本分析方法为： 。 2、常用的X射线谱仪有两种： 和 。
三、问答与计算
1、 电子探针与扫描电镜有何异同？电子探针如何与扫描电镜和透射电镜配合进行组织结构与微
区化学成分的同位分析？
2、电子探针X射线显微分析基本原理是什么？
3、试比较波谱仪和能谱仪在进行微区化学成分分析时的优缺点。 4、为什么说电子探针是一种微区分析仪？
5、要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量，应选用哪种电子探针仪？为什么？
6、要在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成分，选用什么仪器？用怎样的操作方式进行具体的分析？
7、电子探针所分析的元素范围一般从硼(B)——铀(Ｕ)，为什么不能分析轻元素（氢、氦、锂和铍）。
8、举例说明电子探针的三种工作方式（点、线、面）在显微成分分析中的应用。
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第十三章 绪论
名词解释
1、热分析
2、差热分析（DTA） 3、TG 4、EDS 5、DTG
6、差示扫描量热法（DSC）
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第十四章 差热分析
一、名词解释
1、DTA曲线 2、零线 3、基线 4、吸热峰 5、放热峰
二、填空题
1、影响差热曲线的主要因素是： 。 2、利用DTA法测定混合物中各种矿物含量的方法，通常有下列几种： 。 3、DTA曲线是 曲线和 曲线的总称。 4、DTA中用参比物稀释试样的目的是： 。 5、DTA仪主要有 种基本形式。 式，是把温差电流通过 而记录差热曲线； 式，是通过 而记录差热曲线。
6、.DTA仪结构，一般有 、 、 和 四个系统。
7、对称度是指试样和参比物在 、 、 、
等方面的符合程度。
三、判断题
1、DTA曲线上温度基本不变的部分叫基线。（ ）
2、DTA曲线中的峰面积是指峰和基线之间所围的面积。（ ） 3、DTA中随升温速度增大，试样反应温度会出现滞后。（ ） 4、试样不发生热效应情况下，曲线偏离基线，称为基线漂移。（ ） 5、非晶质体重结晶时DTA曲线上产生放热峰。（ ） 6、基线是△T＝0的直线。（ ）
7、△T热偶的工作原理是由于两种金属间的接触电位差。（ ）
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四、问答与计算
1、影响差热曲线形态的主要因素有哪些？
2、 差热分析仪的基本原则是什么？差热曲线与温度曲线如何测绘？ 3、 利用DTA曲线如何进行定性分析？ 4、 利用DTA曲线如何进行定量分析？
5、 差示扫描量热法与差热分析方法相比有何优越性？ 6、 在陶瓷工业中，差热定性分析的主要内容有哪些？
7、 以普通陶瓷原料（由高岭、石英、长石组成）为例，分析其可能出现哪些热效应。 8、 粘土类矿物在加热过程中主要热效应的实质是什么？ 9、 粘土矿物常见的热效应有哪几种？
10、绘出高岭、多水高岭的DTA曲线并解释之。
11、绘出高岭石与多水高岭石的DTA曲线，并讨论峰热效应实质，对这两种矿物进行DTA分析时应注意什么问题？
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