3.扫查方法的选择
锻件探伤时，原则上应在探测面上从两个相互垂直的方向进行全面扫查。扫查覆盖面应为探头直径的15%，探头移动速度不大于150mm/s。挡查过程中要注意观察缺陷波的情况和底波的变化情况。 4.材质衰减系统的测定
当锻件尺寸较大时，材质的衰减对缺陷定量百一定的影响。特别是材质衰减严重时，影响更明显。因此，在锻件探伤中有时要测定材质的衰减系数a。衰减系数可利用下式来计算：
式中：[B]1一[B]2——无缺陷处第一、二次底波高的分贝差： X——底波声程(单程)。
(6.1)
值得注意的是：测定衰减系数时，探头所对锻件底面应光洁干净，底面形状为大平底或圆柱面，χ≥3N，测试处无缺陷。一般选取三处进行测试，最后取平均值。 5.试块选择
锻件探伤中，要根据探头和探测面的情况选择试块。
采用纵波直探头探伤时，常选用CS—1和CS一2试块来调节探伤灵敏和对缺陷定量。采用纵波双晶直探头伤时常选用图6.6所示的试块来调节探伤灵敏度和对缺陷定量。该试块
的人工缺陷为平底孔，孔径有有φ2、φ3、φ4、φ6等四种，距离L分别为5、10、15、20、25、30、35、40、45mm
当探测面为曲面时，应采用曲面对比试块来测定由于曲率不同引起的耦合损失。对比试块如图6.7所示
6.探伤时机
锻件超声波探伤应在热处理后进行，因为热处理可以细化晶粒，减少衰减。此外，还可以发现热处理过程中产生的缺陷。 对于带孔、槽和台阶的锻件，超声波探伤应在孔、槽、台阶加工前进行。因为孔、槽、台阶对探伤不利，容易产生各种非缺陷回波。 当热处理后材质衰减仍较大且对于探测结果有较大影响时，应重新进行热处理。 四、扫描速度和灵敏度的调节 (一)扫描速度的调节
锻件探伤前，一般根据锻件要求的探测范围来调节扫描速度，以便发现缺陷，并对缺陷定位。
扫描速度的调节可在试块上进行，也可在锻件上尺寸已知的部位上进行，在试块上调节扫描速度时，试块上的声速应尽可能与工件相同或相近。 调节扫描速度时，一般要求第一次底波前沿位置不超过水平刻度极限的80%，以利观察一次底波之后的某些信号情况。
(二)探伤灵敏度的调节
锻件探伤灵敏度是由锻件技术要求或有关标准确定的。一般不低于φ2平底孔当量直径。 调节锻件探伤灵敏度的方法有两种，一种是利用锻件底波来调节，另一种是利用试块来调节。 1.底波调节法
当锻件被探部位厚度χ≥3N，且锻件具有平行底面或圆柱曲底面时，常用底波来调节探伤灵敏度。 底波调节法，首先要计算或查AVG曲线求得底面回波与某平底孔回波的分贝差，然后再调节。 (1)计算：对于平底面或实心圆柱体底面，同距离处平底波与平底孔回波的分贝差为：
(6.2) 式中 λ——波长；
X——被探部泣的厚度； Df——平底孔直径。
对于空心圆柱体，同距离处圆柱曲底面与平底孔回波分贝差为：
(6.3) 式中 d——空心圆柱体内径； D——空心圆柱体外径；
“+“——外圆径向探测，内孔凸柱面反射； “－”——内孔径向探测，外圆凹柱面反射。
(2)调节：探头对准完好区的底面。衰减(△+5～10)dB，调“增益”使底波B1达基准高，然后用“衰减器”增益△dB，这时灵敏度就调好了。为了便于发现缺陷可
再增益5～10dB作为搜索灵敏度，即扫查灵敏度。
例1，用2.5P20Z探头径向探伤φ500mm的实心圆柱锻件，CL=5900m/S，问如何利用底波调节500/φ2灵敏度？
解：由题意得:
①计算：50Gmm处底波与φ2平底孔回波分贝差为：
就调好了。必要时再增益6dB作为扫查灵敏度。
②调节；探头对准完好区圆柱底面，衰减55dB，调“增益”使底波B1最高达基准60%高，然后用“衰减器”增益46dB，即去掉46dB，保留9dB，这时φ2灵敏度 例2，用2.5P20Z探头径向探伤外径为φ1000mm，内径为φ100mm的空心圆柱体锻件，CL=5900m/s，问如何利用内孔回波调节450/φ2灵敏度?
解：由题意得:
①计算：450mm处内孔回波与φ2回波的分贝差为：
②调节：探头对准完好区的内孔，衰减45dB，调“增益”使底波B1达基准60%高。然后用“衰减器”增益35dB作为探伤灵敏度，再增益6dB作为扫查灵敏度。 2.试验块调节法
(1)单直探头探伤：当锻件的厚度χ<3N或出于几何形状所限或底面粗糙时，应利用具有人工缺陷的试块来调节探伤灵敏度，如CS一1和CS一2试块。调节时将探头对准所需试块的平底孔，调“增益”使平底孔回波达基准离即可。
值得注意是，当试块表面形状、粗糙度与锻件不同时，要进行耦合补偿。当试块与工件的材质衰减相差较大时，还要考虑介质衰减补偿。