6、 超标 如果 RX Quality 超标，没有达到标准，说明手机接收到的信号强度不够，可能为天线性 能不良，或接收链路的匹配问题等，还需要考虑重新校准后测试，另外如果外界干扰太大， 也可能造成 RX Quality 太低！ 第 34 页 共 43 页 GSM 手机射频测试指导
第三章 接收机指标及其测试 3.4 阻塞（Blocking） 阻塞（Blocking） 3.5 同频干扰抑制 3.6 领道干扰抑制 3.7 互调响应抑制 3.8 RX 多径衰落
以上这些指标这里没有做详细介绍，因为我们平时没有测试！ 后续经过我们小组详细研究后， 对这些测试指标有比较深的任何和熟悉后， 在补充在此 资料中，希望各位理解！ 第 35 页 共 43 页 GSM 手机射频测试指导 第四章 其余测试补充 第四章 其余测试补充
除了前几种介绍的基本常规测试外，经常在 RF 部分会出现某些指标超标，但没有好的 方法解决的情况，我们对一些部分进行补充测试，这里和大家进行一些分享。 4.1 RC 滤波电路对 PA－RAMP 的影响 滤波电路对 －
RC 电路主要起滤波作用， 用于滤除噪声。 我们现在所使用的电阻为 15K， 电容为 100pF， 根据 fc=1/(2ΠRC)，加大电阻或加大电容都会使低通的截至频率降低，降低干扰，但截止频 率过高也会滤除信号分量，造成调制频谱在上升端超出模板。可以在推荐值附近，劲盈优化 调整。在相同截至频率时，部分组合同时也出现开关频谱不良，调制频谱也超标,原因未知。 图片为改变电阻电容值的测试结果。
首先改变电阻 R2 的值，从 15K 分别改为 5.6K 和 22K，三种情况的图片如下： 第 36 页 共 43 页 GSM 手机射频测试指导 第四章 其余测试补充
原始波形 －24.8dBm/0.4MHz R2＝5.6K 时，－21.2dBm/0.4MHz 第 37 页 共 43 页 GSM 手机射频测试指导 第四章 其余测试补充
R2＝22K 时，－27.3dBm/0.4MHz
通过不同电阻值可以看到随着电阻增大，开关频谱会变好 通过不同电阻值可以看到随着电阻增大，开关频谱会变好!
改变电容 C68 的值，从 100pF 分别改为 56pF 和 150pF，各种情况的图片如下： C68＝56pF 时，－21.6dBm/0.4MHz 第 38 页 共 43 页 GSM 手机射频测试指导 第四章 其余测试补充
C68＝150pF 时，－27.1dBm/0.4MHz 通过不同电容值的对比，可以看到电容变大有相同结果；但是同时会造成调制谱不良。 可以见下图。 原始图形
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GSM 手机射频测试指导 第四章 其余测试补充 C68＝150pF 时
通过上面简单试验可以看出， 这两个器件的调整， 可以引起调制频谱和开关频谱的改善， 但需要中和考虑改善情况！ 4.2 PA 匹配调整
测试仪器 矢量网络分析仪 同轴线 50 欧终端 直流源 1 校准矢网，选择频段(DCS 选择 1710－1785M，以 DCS 为例)，注意要将输入端的同轴线 在 electrical delay 中校入矢网。 2 将同轴线焊接在 PA 输出端，将匹配电路用 22pF 电容短路。在射频口接 50 欧终端。在天 线开关的控制脚上加控制电压，打开天线开关。 3 选择 smith chart，通过 marker 点记录 1710 1750 1785M 频点上的阻抗。 4 通过 load pull data，选择要匹配的目标值，通过软件仿真，选择匹配电路。 通过实际测试来优化匹配，选择最佳匹配电路。 4.3 天线开关指标测试
测试仪器 矢量网络分析仪 同轴线 射频线 直流源 1 选择矢量分析仪的频段为 500－2500M。
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2 通过同轴线和射频线将输入端同矢网的 1 口相连，2 口同输出端相连。测量 S21，选择 log scale， 激活之， 可以测量插损 纹波 二倍频处的衰减值； 选择 SWR， 并激活即可测试 VSWR 等指标 3 通过观察电流源可以测量工作电流。 4 通过选择不同频段和不同的输入输出端口， 即可测试相关频段、 相关模式的天线开关指标. 第 41 页 共 43 页 GSM 手机射频测试指导 第四章 其余测试补充 第 42 页 共 43 页