5. 全谱扫描((即Survey)中各峰对应的元素能级参考
http://www.xpsdata.com/ 提供的BE Lookup Table表
6. 各元素不同化学状态结合能可参考附件《各元素化学状态
表.pdf》，文件扫描自Phi公司出版的手册中的附录2，Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy—A Reference Book of Standard Spectra for Identification and Interpretation of XPS Data，John F. Moulder, William F. Stickle, Peter E. Sobol, Kenneth D. Bomben, Physical Electronics, Inc. ,1992
7. 有机聚合物中的C、O、N、F等的化学位移值可参考John Willey
& Sons出版的有机聚合物高分辨XPS谱图中的附录，High Resolution XPS of Organic Polymers-The Scienta ESCA300 Database, G. Beamson, D. Briggs,John Wiley &Sons, 1992 07年的时候去北京化学所刘芬老师实验室请教过拟合的问题，刘芬老师当初的解答主要有两点：1.扣背底选择平的点；2.半峰宽最大在2.0eV左右，峰宽与表面粗糙度有关。
08年开表面分析会议的时候大连化物所盛世善老师讲到谱线的曲线拟合，应考虑：
1，其合理的化学与物理意义 2，合理的半高宽
3，合理的G/L比：常取80％左右
4，对双峰还应考虑：两个峰的合理间距、强度比、半高宽比 *过渡金属的2p峰不对称，拟合较难
QQ光电子能谱群讨论时，北京化工大学的程斌老师对于谱图拟合的见解：
1、一定以物理意义为基础，而不是反过来；不要追求参差最小，而是追求物理意义；
2、半峰宽以几个峰接近为好，
3、合理的G/L比，对于我们新一代仪器，G可以100%，可以G/L80% 4、对双峰还应考虑：两个峰的合理间距、强度比。
从研究问题的角度程老师坚持第1点。必须以物理意义为基础来拟合，不追求参差最小。不以参差最小来确定物理意义。
关于拟合的准则，大家的共同认识是一致的。具体的操作及拟合的心得需要多做，才有更多的体会。拟合本身具有极大的随意性，只要拟合符合上述准则，结合其他表征手段，能说明问题，能合理解释数据就ok。
表面分析（XPS、AES）相关网络实用资源
1.英国表面分析论坛（UK surface Analysis Forum,UKSAF）：包括技术（Techniques）、演示教学（Tutorials）、数据库（Databases）、软件（Software）、期刊（Journals）、会议（Conferences）、学术动态（Academics）等。http://www.uksaf.org/home.html 2.XPS、AES数据库：
美国NIST美国国家标准与技术研究所网站：提供了免费在线查询XPS数据库，包括各元素的Binding Energy 、Doublet Separation、Auger parameter等数据的查询。http://srdata.nist.gov/xps/ XPSDATA网站：http://www.xpsdata.com/ 3.国内XPS论坛：
仪器信息网能谱仪综合讨论论坛：
http://bbs.instrument.com.cn/forum_476.htm 清华大学北京电子能谱中心：http://166.111.28.134/ 中国科技大学理化中心麻茂生教授主页：http://202.38.64.11/~mams/escalab.html
4.QQ光电子能谱群（群号：33079121）：为XPS、AES分析测试人员提供测试技术交流、实时通讯平台，该群使用实名制，并非公共群。请使用光电子能谱仪的专业人士申请加入该群时报真实姓名、单位及使用电子能谱仪的型号。
该群定于每周五中午1：30开始开讨论会，主要讨论与电子能谱分析、测试相关的问题。
5.QQ电子能谱咨询群（群号：106957460）：为公共群，群中有从事电子能谱分析测试的老师负责解答学生关于电子能谱测试及解谱方面的问题