数字电子技术实验讲义 目录
目 录
前言………………………………………………………………………….….………I 目录…………………………………………………………………………….………II 实验一 KHD-2型数字电路实验装置的使用和集成门电路逻辑功能的测试…….1 实验二 用与非门构成逻辑电路……………………………………………..…..……7 实验四 译码器和数据选择器的使用……………………………………………..…13 实验五 译码器和数据选择器的应用……………………………………………..…23 实验六 触发器及其应用……………………………………………..…………..…..30 实验七 计数器及其应用………..…………..…………..…………..…………..……38 实验八 时序逻辑电路的设计………..…………..…………..…………..…………..46
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数字电子技术实验讲义 实验一
实验一 KHD-2型数字电路实验装置的使用和集成门电路逻辑功
能的测试
一、实验目的
1、 熟悉和掌握KHD-2型数字电路实验装置的使用 2、 熟悉74LS20和74LS00集成门电路的外形和管脚引线
3、 掌握与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门逻辑功能的测试
二、实验器材及设备
KHD-2型数字电路实验台 4输入2与非门74LS20（一块）
2输入4与非门74LS00或CC4011（一块）
三、实验原理
（一） KHD-2型数字电路实验台
KHD-2型数字电路实验台由实验控制屏与实验桌组成。实验控制屏主要由两块单面敷铜印刷线路板与相应电源、仪器仪表等组成。控制屏由两块相同的数电实验功能板组成，其控制屏两侧均装有交流220V的单相三芯电源插座。
使用注意事项：
1、 使用前应先检查各电源是否正常。
2、 接线前务必熟悉实验大块板上各单元、元器件的功能及其接线位置，特别要熟知各集成块
插脚引线的排列方式及接线位置。
3、 实验接线前必须先断开总电源，严禁带电接线。
4、 接线完毕，检查无误后，再插入相应的集成电路芯片后方可通电；只有在断电后方可拔下
集成芯片，严禁带电插拔集成芯片。
5、 实验始终，板上要保持整洁，不可随意放置杂物，特别是导电的工具和导线等，以免发生
短路等故障。
6、 实验完毕，及时关闭电源开关，并及时清理实验板面，整理好连接导线并放置规定的位置。 7、 实验中需了解集成电路芯片的引脚功能及其排列方式时，可查阅实验讲义的附录部分。
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数字电子技术实验讲义 实验一 （二） 与门、非门、与非门、或门、或非门、异或门逻辑功能的测试
1、 与门的逻辑表达式为Y=ABCD，它的逻辑功能为：输入A、B、C、D皆为“1”时，输
出为“1”；输入中有一个是“0”时，输出一定为“0”。
2、 非门的逻辑表达式为Y=A，它的逻辑功能为：输入A为“1”时，输出Y为“0”，输入
A为“0”时，输出为“1”。
3、 与非门的逻辑表达式为Y=ABCD，它的逻辑功能为：只有输入全为“1”时，输出为“0”，
输入有“0”，输出就为“1”。
4、 或门的逻辑表达式Y=A+B，其逻辑功能为：输入皆为“0”时，输出为“0”，输入有“1”
时，输出为“1”。
5、 或非门的逻辑表达式为Y=A?B，其逻辑功能为：只有输入全为“0”时，输出为“1”，
只要输入有“1”输出就为“0”。
6、 异或门的逻辑表达式为Y=AB?AB，其逻辑功能为：当两个输入端相异，即一个为“0”，
另一个为“1”，输出为“1”；当两个输入端均为“0”或均为“1”时，输出为“0”。
四、实验内容及步骤
1、用74LS20分别测试与非门和与门的逻辑功能
首先用74LS20分别做出实现与非门和与门的逻辑电路，连接电路并测试其逻辑功能，并将实验结果分别填入表1-1和1-2中。
2、用74LS00分别测试非门、或门、或非门的逻辑功能
首先用74LS00分别做出实现与非门、或门和或非门的逻辑电路，连接电路并测试其逻辑功能，并将实验结果分别填入表1-3、1-4和1-5中。
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数字电子技术实验讲义 实验一 3、用74LS20和74LS00测试异或门的逻辑功能
用74LS00和74LS20做出实现异或门的逻辑电路，连接电路并测试其逻辑功能，并将实验结果填入表1-6中。
表1-1 与非门测试记录 表1-2 与门测试记录
输 入 输出 A B C D Y 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 1 1 0 1 0 0 0 1 0 1 0 1 1 0 0 1 1 1 1 0 0 0 1 0 0 1 1 0 1 0 1 0 1 1 1 1 0 0 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1
输 入 输出 A B C D Y 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 1 1 0 1 0 0 0 1 0 1 0 1 1 0 0 1 1 1 1 0 0 0 1 0 0 1 1 0 1 0 1 0 1 1 1 1 0 0 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 - 3 -
数字电子技术实验讲义 实验一
表1-3 非门测试 表1-4 或门测试 输入 输出 A Y 输入 输出 A B Y
0 0 0
0 1 1 1 0 1 1 表1-5 或非门测试 表1-6 异或门测试
输入 输出 输入 输出 A B Y 0 0 0 1 1 0 A B Y 0 0 0 1 1 0 1 1 1 1 五、实验预习要求
1、 阅读实验讲义，熟悉KHD—2型数字电路实验装置。
2、 复习与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门的逻辑功能特点。 3、 阅读实验讲义附录，了解74LS00、74LS20和CC4011的管脚引线。
六、实验报告
1、 将实验结果填入表中，并验证理论值与实验值是否相符合。 2、 总结与门、与非门、非门、或门、或非门、异或门的逻辑功能。 3、 考虑如何用与非门来实现Y=AB+CD与或逻辑关系，并画出逻辑图。
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