表面分析
来源：互联网
表面分析主要通过生成新数据集，诸如等值线、坡度、坡向、山体阴影等派生数据，获得更多的反映原始数据集中所暗含的空间特征、空间格局等信息。在ArcGIS 中，表面分析的主要功能有：查询表面值、从表面获取坡度和坡向信息、创建等值线、分析表面的 可视性、从表面计算山体的阴影、确定坡面线的高度、寻找最陡路径、计算面积和体积、 数据重分类、将表面转化为矢量数据等。
一 栅格插值
一般情况下采集到的数据都是以离散点的形式存在的，只有在这些采样点上才有较为准确的数值，而其它未采样点上都没有数值。然而，在实际应用中却很可能需要用到某些未采样点的值，这个时候就需要通过已采样点的数值来推算未采样点值。这样的一个过程也就是栅格插值过程。插值结果将生成一个连续的表面，在这个连续表面上可以得到每一点的值。栅格插值包括简单栅格表面的生成和栅格数据重采样。
通过栅格插值运算生成栅格表面是栅格空间分析中很重要的一部分，很多操作都将基于离散点插值生成的表面来进行。用来插值的离散点可以是多种数据，例如，空气污染指数，土壤有机质含量，或离散高程点。
在ArcGIS 9 栅格分析模块中，通过栅格 插值运算生成表面主要有三种实现方式：反距离权重插值，样条函数插值和克里格插值， 如图1 所示。
图1 栅格插值方法
下面以一组土壤元素PH 值的插值来逐一说明在Spatial Analyst 中三种表面生成插值的实现过程。 1. 反距离权重插值（IDW）
（1） 在Spatial Analyst 下拉菜单中选择Interpolate to Raster，在弹出的下一级菜单中点击Inverse Distance Weighted 命令, 弹出IDW 对话框，如图2。
图2 IDW 对话框
（2） 在Input points 的下拉菜单中选择被用来进行插值的离散点数据； （3） 在Z value field 的下拉菜单中选择要加入的字段；
（4） 在Power 栏中填入进行插值计算的幂值；幂值就是距离的指数。如幂指数为2时则进行反向距离平方插值。幂指数是一个正实数，其缺省值为2。
（5） 在Search radius type 栏中选择一种搜索半径设置类型；
1) Variable：当选择此项时,搜索半径由下面两两个量来控制，，Number of points 和Maximum distance。首先在Number of points 中 输入搜索的最近点的个数（缺省值为12），然后 在Maximum distance 中输入一个控制距离。如果最近点的个数超出控制距离，则将会以控制距离为限制来选取较少的点；
2) Fixed：当选择此项时，搜索半径由下面两个量来控制，Distance 和Minimum number of points。首先在Distance 中输入搜索半径距离（缺省值是输出栅格大小的五倍），然后在 Minimum number of points 中输入控制插值点个数的最小整数值。如果搜索半径距离内的点个数小于插值点个数的最小整数值，则搜索半径自动增大。
（6） Use barriers polyline 为可选项，输入 中断线文件。barriers 是在插值中，如有某些地方出现异常，（如某些断裂带），而要求插值时考虑到这样的因素，所设置的选项。它是一个打断表面的线特征。这一线特征没有 Z 值。悬崖，峭壁，堤岸或某些障碍都是典型的barriers。barriers 限制了插值计算，它使得计算只在线的两侧各自进行。而落在线上的点则会同时参与线两侧的计算。
（7） Output cell size：指定输出结果的栅格大小； （8） Output raster：为输出结果指定目录及名称； （9） 点击OK 按钮。生成结果如图3 所示。
图3 IDW 插值
2. 样条函数插值（SPLINE）
样条函数插值采用两种不同的计算方法，Regularized 和Tension。如选择Regularized， 它将生成一个平滑、渐变的表面，得出的插值结果很可能会超出样本点的取值范围。如选择Tension，它会根据要生成的现象的特征生成一个比较坚硬的表面，得出结果的插值更接近限制在样本点的取值范围内。
同时，计算过程中，除了需要选择不同的计算方法，还需要在每种方法中设定一个合适的权重（weight）。选择Regularized 时，他决定了表面最小曲率三次导的权重。权重越高表面越光滑。可能用到的典型值有：0、0.001、0.01、1 和5。选择Tension 时，他决定了Tension 的权重。权重越高，表面越粗糙。可能用到的典型值有：0、1、5 和10。 样条函数插值过程如下：
（1） 在Spatial Analyst 下拉菜单中选择 Interpolate to Raster, 在弹出的下一级菜单中点击 Spline，出现Spline 对话框，如图4，以下所有设置如图中所示。
图4 Spline 对话框
（2） 在Input points 的下拉菜单中选择被用来进行插值的离散点数据；在Z value field 的下拉菜单中选择要加入的字段；
（3） 在Spline type 中填入样条函数插值的类型 ； （4） 在Weight 栏中填入一个影响插值的特 征参数；
（5） 在Number of points 栏中输入每一个区域内用来估值点的个数。它的缺省值是 12。 （6） 指定输出结果的栅格大小； （7） 为输出结果指定目录及名称；
（8） 点击OK 按钮。插值结果如图5。
图5 Spline 插值结果
3. 克里格插值（Kriging）
（1） 在Spatial Analyst 下拉菜单中选择Interpolate to Raster, 在弹出的下一级菜单中点击Kriging，出现Kriging 对话框，如图6，以下所有设置如图中所示。
（2） 在Input points 的下拉菜单中选择被用来进行插值的离散点数据； （3） 在Z value field 的下拉菜单中选择要加入的字段； （4） 选择你所需要的克里格方法；
（5） 在Semivariogram model 的下拉菜单中选择你所需要使用的模型；
（6） 点击Advanced Parameters 按钮，如果知道可以指定这些参数，另外空间分析模块也将为你估算这些参数；
（7） 在Search radius type栏中选择一种搜索半径设置类型；（设置方法同IDW） （8） 指定输出结果的栅格大小；
（9） 可选项，是否需要生成预测的标准误差； （10） 为输出结果指定目录及名称； （11） 点击OK 按钮。结果如图7。
图6
图7 Kriging 插值结果
4. 数据重采样
栅格插值除了包括简单栅格表面的生成还应包括栅格数据重采样。重采样是栅格数据空间分析中处理栅格分辨率匹配问题的常用数据处理方法。进行空间分析时，用来分析的数据资料由于来源不同，经常会出现栅格不同大小问题，这时为了便于分析，就需要将不同的栅格大小转化为同样栅格大小，这样的一个过程就是栅格数据的重采样过程。
栅格数据的重采样主要基于三种方法：最邻近采样（NEAREST），双线性 ILINEAR）采样和三次卷积采样（CUBIC）。
（1) 最邻近采样：此重采样法用输入栅格数据中最邻近栅格值作为输出值。因此, 在重采样后的输出栅格中的每个栅格值, 都是输入栅格数据中真实存在而未加任何改变的 值。这种方法简单易用，计算量小，重采样的速度最快。
（2) 双线性采样：此重采样法取待采样点（x，y）点周围四个邻点，在y方向（或x 方向 ）内插