5、Logical scanning 逻辑扫描
5.1 |---------------------------------------------------------------------------------------------| | initial LBA position : x | 初始 LBA 位置 : X
| final LBA position : xxxxxxxxxxxx | 结束的 LBA 位置 : xxxxxxxxxxxx
| reversive scanning : NO
| 从后面向前面扫描 : NO 键入(Y)就从后面向前面扫描 | number of passes : 3
| 通过的次数 : 3 (可在1-x之间选择,默认是3)
| number of retry of a defect : 3
| 一个坏道重复测试的次数 : 3(可在1-x之间选择,默认是3) | critical time test (ms): 300
| 测试的临界时间(毫秒):300 (意思是停顿多少毫秒就视为坏道) | perform writing test : NO
| 执行写测试 : NO/YES (N)不是 (y)是 默认是(N)
| verify instead of reading : yes | 校验代替读 : yes
| place defecfs to : P-List
| 放置坏道到 : P-List 空格健变换P-List和Glist
|----------------------------------------------------------------------------------------------|
6、S.M.A.R.T. table S.M.A.R.T 表
6.1 to review S.M.A.R.T. table 观察 S.M.A.R.T 表
6.2 to load S.M.A.R.T. (external module) 加载 S.M.A.R.T. (外部模块) 6.3 S.M.A.R.T. parameters reset 复位 S.M.A.R.T. 参数
7、Defects table 坏道表
7.1 to review defects teble 观察坏道表 7.2 Add LBA defects 按 LBA 添加坏道表 7.3 Add physical sector 按物理扇区添加
7.4 Add physical track 按物理磁轨添加
7.5 Grouping defects into tracks 封闭坏道到磁轨里 7.6 import of logical defects table 逻辑坏道表的输入 7.7 Erase defects table 删除坏道表 7.8 Defects table export 坏道表输出 7.9 Defects table import 坏道表输入
7.10 Work with module 06h 对06h 模块工作
8、Automatic mode 自动化模式
9、SELFSCAN 自我扫描 9.1 condition viewing 条件观察 9.2 load selfscan 加载自我扫描 9.3 start selfscan 起动自我扫描 9.4 stop selfscan 停止自我扫描
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10、EXIT 退出
三、西数(EB AB BB JB DA)(中文说明)
1、Disk firmware zone 磁盘固件区 1.1 Disk firmware zone 磁盘固件区
1.1.1 disk firmware surface test 硬盘固件表面测试(硬盘固件物理测试) 1.1.2 disk firmware structure test 硬盘固件结构测试及观查 1.1.3 disk firmware data read/write 硬盘固件数据读/写 1.1.3.1 write FW to the disk 写FW到硬盘 1.1.3.2 Add FW to the DATABASE 添加FW到数据库 1.1.3.2 Remove FW the DATABASE 册除FW数据库 1.1.4 Read modules 读模块 1.1.5 write modules 写模块
1.1.6 Erase firmware area 清除固件范围 1.1.7 Change Servo Area SPT 改变伺服范围 1.1.8 Security subsystem 安全子系统 1.2 Translator operations 变换器操作 1.3 Spindle stop 主轴停转
1.4 Change time scale 改变时间等级
2、drive description 驱动器描写(改硬盘容量)
3、Formatting 低级格式化
3.1 Take into account PList and Glist 考虑 PList和GList 3.2 Take into account Plist 考虑 PList
3.3 Take into account Glist 考虑 GList
3.4 Do not Take into account neither PList and Glist PList 和 GList 两者都不考虑 4、Logical structure scaning 逻辑结构扫描
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4.1 |----------------------------------------------------------------------------------------------------| | start LBA : x
| 开始 LBA : X | End LBA : xxxxxxxx | 结束 LBA : XXXXXXXX | passes : 3 | 通过的次数: 3 | carefulness index : 3 | 仔细指标
| perfrom writing test : NO | 按照写测试
| verification instead of reading : yes
| 校验代替读
|---------------------------------------------------------------------------------------------| 5、S.M.A.R.T. table S.M.A.R.T. 表 6、Defects table 坏道表
6.1 View defects table 观察坏道表 6.2 Add physical track 添加物理磁道
6.3 import logical defects table 输入逻辑坏道表 6.4 clear defects table 清除坏道表
6.5 move G-List to P-List G-List 转 P-List 6.6 Group to tracks 封闭磁道 7、Automatic mode 自动模式 8、Exit 退出
四、迈拓ver1.07 （中文说明）
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迈拓ver1.20 （中文说明）
1、Logicaln scanning 逻辑扫描
1.1 |------------------------------------------------------------------------------------------------ | | initial LBA position:xxxxxxx | 开始位置
| final LBA position:xxxxxxxx | 结束位置
| reversive scanning:on | 反向扫描打开、关闭 | number of passes:3 | 通过的次数
| perform writing test:on | 执行写测试打开关闭 | verif. instead of reading | 读版本代替
| put defects to:p-list | 放置默认列表
|---------------------------------------------------------------------------------------------------| 2、disc firmware zone 固件区
2.1 work with momeory buffer 操作存储缓冲器 1.1 memory buffer reading 存储缓冲器读 1.2 memory buffer writing 存储缓冲器写 2.2 work with sa 操作sa
1.1 checking of disc fw structure 检查磁盘固件结构 1.2 sa surface checking sa表面检查 1.3 reading of the modules 读那个模块 1.4 writing of modules 写那个模块 1.5 reading modules groups 读全部模块 1.6 writing modules groups 写全部模块 1.7 sa write test sa写测试 1.8 modules repairing 模块修理
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1.9 transltor regeneration 扇区再生 1.10 spindle stop 主轴停转 2.3 LDR-file loading 加载ldr文件 2.4 LDR-file creation 制造ldr文件 2.5 security subsystem 安全系统 3、disc id 硬盘id号 4、defects table 缺陷表 1.1 view p-list 查看p-list
1.2 view g-list 查看g-list
1.3 move g-list defects to p-list 转移g表到p表 1.4 erase g-list 擦除g-list
1.5 erase g-list and p-list 擦除g-list和p-list 1.6 import from defectoscope 引入探测器 5、exit 退出
五、IBM （中文说明）
六、西捷（中文说明）
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