EPSON ns80x0 MANUAL(3)

按Temp Setting 會產生下圖

Mode(模式)

:常溫模式 :高溫模式

常高溫模式

高溫模式設定

-當溫度到達設定時,設定IC放到加熱盤加熱的時間 卡料處理完,設定IC停置加熱盤加熱的時間 規劃等待時間,當機台從新開始運轉 常溫模式設定 -常溫溫度偵測

在常溫模式時,設定測試手臂(Index arm)要不要做常溫偵測 溫度設定 溫度校正點數

Temperature offset(溫度補賞) 溫度補賞值

3.5 Contact Parameter(Handler測試頭壓力參數)

按Contact Parameter會產生下圖

Direct Mode-(直接壓測)直接吸取IC做直接壓測

Drop Mode-(丟測)到接近手測夾(Socket)時放下IC在做壓測 當IC壓到Socket時,設定真空要不要關掉

ON: 測試手臂(Tester Arm)壓到手測夾(Socket)時真空打開 OFF: 測試手臂(Tester Arm)壓到手測夾(Socket)時真空關掉 -在做壓測時先空壓手測夾(Socket)一次

-做丟測時,設定停留多少時間在丟IC到手測夾(Socket)

釋放高度.

測試手臂(Tester Arm) 釋放到輸出運送台(Output Shuttle)的高度 吸取高度

測試手臂(Tester Arm)到運送台(Soak Boat)的吸取高度 接觸高度

測試手臂(Tester Arm)壓到手測夾(Socket)的高度 設定到接近手測夾(Socket)時放下IC的高度

正常操作

測試手臂(Tester Arm)依設定重量自動調整高度

手動設定測試手臂(Tester Arm)高度 手測和高度調整

規劃測試手臂(Tester Arm)設定重量可依IC每根腳去規劃重量

規劃Device的外觀大小

3.6 Tester Interface(與測試機台連線界面)

按Tester I/F會產生下圖

Interface Type(界面選擇)

有三種形式可以險選擇,DIO,GPIB,RS232,依Tester需求而去做選擇 Time(時間)

Handler等待最大時間,當Handler 送信號到測試機台,如果在等待的時間內沒有收到測試機台的信號將警報

模擬測試機台測試時間

延遲Handler 送信號到測試機的時間

Consecutive Failure Alarm(Socket)

偵測測試手臂(Tester Arm)到手測夾(Socket)時Socket連續幾顆不良的數量 啟動 關畢

設定連續幾顆不良就警報

Consecutive Failure Alarm(Head)

偵測測試手臂(Tester Arm)到手測夾(Socket)時Test Head連續幾顆不良的數量 啟動 關畢

設定連續幾顆不良就警報 Failure Rate Alarm

當良率低於設定值時就警報

啟動 關畢

設定從第幾顆開始計算良率 設定良率值就警報

3.7 Bin Select(分類選擇)

設定測試機台送出結果(Bin)到那一個Tray盤 按Bin會產生下圖

選擇測試到那一般個Bin要求重測 連續Fail要警報

設定Fail Bin超過%要警報 用不到的Bin

當Fix1不夠用可連接用Fix2 和Fix3 設定那個Tray盤為不良品 無法分辨的Bin 3.8 SETUP(設定)

按Setup會產生下圖