即特定点阵类型、晶胞大小、原子的数目和原子在晶胞中的排列等。因此，从
布拉格公式和强度公式知道，当X 射线通过晶体时，每一种结晶物质都有自己
独特的衍射花样，衍射花样的特征可以用各个反射晶面的晶面间距值d 和反射
线的强度I 来表征。其中晶面网间距值d 与晶胞的形状和大小有关，相对强度I
则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。通过与物相衍射分析标准数据比较
鉴定物相。
单相物质定性分析的基本步骤是：
（1）计算或查找出衍射图谱上每根峰的d 值与I 值；
（2）利用I 值最大的三根强线的对应d 值查找索引，找出基本符合的物相名
称及卡片号；
（3）将实测的d、I 值与卡片上的数据一一对照，若基本符合，就可定为该物
相。
3．扫描电镜的分辨率受哪些因素影响? 用不同的信号成像时，其分辨率有何
不同? 所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号成像时的分辨率?
答：影响因素:电子束束斑大小,检测信号类型,检测部位原子序数.
SE和HE信号的分辨率最高, BE其次,X射线的最低.
扫描电镜的分辨率是指用SE和HE信号成像时的分辨率.
4．举例说明电子探针的三种工作方式(点、线、面)在显微成分分析中的应用。
答：(1). 定点分析：
将电子束固定在要分析的微区上用波谱仪分析时，改变分光晶体和探测器的位
置，即可得到分析点的X射线谱线；
用能谱仪分析时，几分钟内即可直接从荧光屏（或计算机）上得到微区内全部
元素的谱线。
(2). 线分析：
将谱仪（波、能）固定在所要测量的某一元素特征X射线信号（波长或能量）
的位置把电子束沿着指定的方向作直线轨迹扫描，便可得到这一元素沿直线的浓
度分布情况。
改变位置可得到另一元素的浓度分布情况。
(3). 面分析：
电子束在样品表面作光栅扫描，将谱仪（波、能）固定在所要测量的某一元
素特征X射线信号（波长或能量）的位置，此时，在荧光屏上得到该元素的面分
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布图像。改变位置可得到另一元素的浓度分布情况。也是用X射线调制图像的方
法。
5．分别指出谱图中标记的各吸收峰所对应的基团?
答：3250 –含氢键的O-H. 伸缩振动， 2820 –可能是醛的C-H，1690 –对应C=O
但存在共轭，3120 和1200—分别是芳香族C-H 和酚C-O 吸收带，1600 & 1500
对应芳香核，780 和 720 对应取代基定位峰。
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材料现代分析方法试题3
材料学院材料科学与工程 专业 年级 班级 材料现代分析方法 课程
200 —200 学年 第 学期（ ）卷 期末考试题（ 120 分钟）
考生姓名 学 号 考试时间
题 号
分 数
主考教师： 阅卷教师：
一、基本概念题（共10题，每题5分）
1．什么是光电效应？光电效应在材料分析中有哪些用途？
得 分
2．当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时，相邻两个（hkl）晶面衍射线的
波程差是多少？相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少？
0
3．测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成30角，则计数管
与入射线所成角度为多少？能产生衍射的晶面，与试样的自由表面是何种几何关
系？
4．宏观应力对X射线衍射花样的影响是什么？衍射仪法测定宏观应力的方法
有哪些？
5．薄膜样品的基本要求是什么? 具体工艺过程如何? 双喷减薄与离子减薄
各适用于制备什么样品?
6．图说明衍衬成像原理，并说明什么是明场像、暗场像和中心暗场像。