γ射线探伤 γ ray radiographic inspection：使用γ射线透射术进行金属材料或工件的内部缺陷（例如裂纹、疏松、缩孔等）的无损检验。
荧光液渗透探伤 fluorescent penetrant test：利用荧光渗透液的渗透探伤。“荧光液渗透探伤”是将添加了在紫外线照射后能发出荧光的物质的渗透液，涂布于被检物的表面，渗透液即渗入缺陷里去，随之清除净残留在表面上渗透液，再以波长为330±30nm的紫外线照射之，缺陷处便发出荧火，由之显示出缺陷的图象。
涡流检测 eddy current inspection：利用涡流现象的无损检验。
引伸计 extensometer：
测宽仪 width gauge：
测厚仪 thickness tester, thickness gauge
测压仪 load cell
同位素测厚仪 isotopic thickness gauge
管材试验机 pipe testing machine
磁力探伤仪 magnetic flaw detector
宏观组织 macrostructure：金属和合金的金相磨面经过适当处理后，以肉眼或借助与放大镜观察到的组织。
显微组织 microstructure：金属和合金的金相磨面经过适当的显露（例如蚀刻）后借助于显微镜所观察到的组织。
共晶组织 eutectic structure：完全由共晶体所组成的组织。
分离共晶体 divorced eutectic：本来是共晶体但其组成相分离开了，即其中与共晶相变之前形成的相（先共晶相）相同的那个相，依附于先共晶相生长，并把另一相推向最后凝固的晶界处，从而失去了共晶体的特征，这就是说，共晶体中前一种相在显微观察时已经看不出来了，而后一种相则游离出来、呈大块状，分布在晶界处。
层状共晶体 lamellar eutectic：其内至少有一种相是以片层状
存在的共晶体。
伪共晶体 pseudo eutectic：由成分偏离共晶成分的过冷熔体形成的、貌似共晶体的那种显微组织或组分。
亚共晶体 hypoeutectic：由共晶体和共晶点左侧的先共晶相所组成的组织。
过共晶体 hypereutectic：由共晶体和共晶点右侧的先共晶相所组成的组织。
共析体 eutectoid：合金冷却时其某一成分（共析成分）的固相（固溶体）在恒定温度（共析温度）下转变而形成（“同时析出”即“共析”）的两种或多种固相以固定比例组成的复相混合物。
伪共析体 pseudo eutectoid：由成分偏离共析成分的过冷固溶体形成的、貌似共析体那种显微组织或组分。
亚共析体 hypoeutectoid：由共析体和共析点左侧的先共析相所组成的组织。
过共析体 hypereutectoid：由共析体和共析点右侧的先共析相
所组成的组织。
包晶体 peritectic：合金在凝固过程中发生包晶相变所形成的产物。
包析体 peritectoid：合金于冷却时发生包析相变所形成的产物。
树枝状组织 dendritic structure：由于不平衡凝固而形成的诸树枝状晶体所组成的组织。
网状组织 network structure：一种组织组分出现在其它组织组分的晶粒的晶界上从而将后来的晶粒完全或部分地勾划出来而呈网状，这样的组织称为“网状组织”。
层状组织 lamellar structure：由共存的诸相的薄层交替重叠而成的复相物所组成的组织。
柱状组织 columnar structure：由相互平行的细长晶粒（柱状）所组成的组织。
球状组织 globular structure：其中的一相以大致呈球状的颗粒散布于另一相（基体）之内的复相组织。
针状组织 acicular structure：在显微磨面（经过蚀刻的）上观察之呈针状的晶体或复相物所组成的组织。
维氏组织 Widermanstaten structure：沿着过饱和固熔体（母相）的特定晶面析出从而在母相内的分布具有一定规律的片状或针状的第二相的组织。
反常组织 abnormal structure：渗过碳的钢内有时出现这样的组织，即大块渗碳体和其四周被游离铁素体所包围着的组织。这样的组织，在正常的情况下是不出现的，故称“反常组织”。
带状组织 banded structure：金属材料内与热形变加工的延伸方向大致平行的诸条带所组成的复相偏析组织。
过热组织 overheated structure：将金属或合金加热到了过高的温度以致造成晶粒变得粗大，由此得到的组织称为“过热组织”。
残余奥氏体 retained austenite：铁基合金发生γ→α相变以后在环境温度（通常是室温）下残存的奥氏体。