图2-1 图2-2
低电平输入电流IiL 和高电平输入电流IiH。每一门和每一输入端都测试一次。测试电路如图2-2。
2、电压传输特性。调节电位器RW，使Vi从0V向5V变化，逐点测试Vi和VO值，将结果记录入下表中。测试电路如图2-3。
图2-3
3、CMOS双四输入与非门CC4012静态参数测试
将CC4012正确插入面包板，测电压传输特性。测试电路和方法同上，输出端为空载测量。将结果记录入下表中。
四、实验结果分析（回答问题）
1、测量TTL与非门输出低电平时要加负载，因为要求集成块有一定带负载的能力，而TTL与非门输出低电平时会有较大负载电流。图2-3中R选用360Ω
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是根据最大允许负载电流为：扇出系数（8）×低电平输入电流I iL（1.6mA）得到的。若R很小会使负载电流过大，无法得到正常的输出低电平。
2、与非门输入端悬空可以当作输入为“1”，因为悬空相当于Ri=∞，由输入端负载特性可得此结论。
3、TTL或非门闲置输入端的处置方法：与其它输入端并联；接地。 4、实验中所得ICCL和ICCH为整个器件值，单个门电路的ICCL和ICCH 为所测值的一半。
5、CC4012的VDD=15V，则其VOH=14.95V、VOL=0.05V、VTH =7.5V。 重点讲解组合逻辑电路的实验分析的方法与步骤及在实验设备中如何去实现。
实验三 组合逻辑电路的实验分析
一、实验目的
1、学会组合逻辑电路的实验分析方法。 2、验证半加器、全加器的逻辑功能。
二、实验仪器及设备
1、数字逻辑实验箱1台 2、万用表 2只
3、元器件：CD4011 74LS20 各一块 74LS55 74LS86 各一 电阻及导线 若干
三、实验线路图
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四、实验内容
1、测试用与非门构成的电路的逻辑功能
按图3-1接线。按下表要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平，并填入表中。分析电路的逻辑功能为半加器，写出逻辑表达式为：
Y=A⊕B Z=AB
2、测试用异或门和与非门组成的电路的逻辑功能
按图3-2接线。按下表要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平，并填入表中。分析电路的逻辑功能为半加器，写出逻辑表达式为
3、测试用异或门、非门和与或非门组成的电路的逻辑功能
按图3-3接线。按下表要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平，并填入表中。分析电路的逻辑功能为半加器，写出逻辑表达式为：
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五、实验结果分析（回答问题）
1、总结用实验来分析组合逻辑电路功能的方法为：
按图接线，将输入的所有取值组合对应输出测出来，得到该电路的真值表，进而写出逻辑函数表达式，概述电路的逻辑功能
讲解74LS138的用法及数据选择器在微机控制等领域的应用。此为学生自拟实验由学生自拟，老师着重是辅导。
实验四 数据选择器
一、实验目的
1、进一步熟悉用实验来分析组合逻辑电路功能的方法。 2、了解中规模集成八选一数据选择器74LS151的应用。
3、了解组合逻辑电路由小规模集成电路设计和由中规模集成电路设计的不同特点
二、实验仪器及设备
1、数字逻辑实验箱 1台 2、万用表 1只
3、元器件：CD4011 74LS04 各1块 74LS20 74LS151 各1块 导线 若干
三、实验线路图
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四、实验内容（简单实验步骤、实验数据及波形）
1、利用数字逻辑实验箱测试74LS151八选一数据选择器的逻辑功能，按图5-1接线，将实验结果记录在下表中。
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