硅片生产工艺技术流程1(7)

2020-02-21 11:19

粘在喷沙面上 粘 棒 AB胶 固 位 将一组棒固定在切割机相应位置上 切 割 线切割线径120μm,切速0.5mm/min 脱胶、清洗 高压水冲洗 硅片浸在水槽中 去 胶 手工剥离 废 片 插 片 插在片夹里 加清洗液完整片超声清洗 去离子水 鼓风吹 烘 干 温度70℃,3min 崩边、裂纹、色斑、污物、晶面脱落等 合 格 片 外观检查 废 片 、TTV、TVρ、BOW 不合格片 参数检测 热 处 理 消除热施主 合 格 片 分 档 电阻率分档 成 品 硅片主要加工工序工艺技术简述

·配棒:按不同长度将两根晶棒配置成一组,要求每组的出片率

大致相同。

·粘棒:将硅棒固定在专用的沾棒机床上,使晶棒的一端面与底板用热溶胶在420oC的温度下进行粘接。

·晶棒开方:将晶棒固定在底盘的相应位置上,采用线径为120μm

的大型线切割机进行切割,切割速度为0.8 ㎜/min。加工好的尺寸为125X125mm硅锭,一盘最多可加工25根硅锭。

·去热溶胶:将开方的硅锭浸在温度为60~100oC的水槽内,保

持20~30分钟可将粘在晶棒端面上的热溶胶去掉。

·滚磨:开方的硅锭通过滚磨使其四个顶角的直径尺寸达到150

±0.5mm。滚磨机装置有粗,中,细三种尺寸不同的粒径的砂轮,依次进行加工,这样既可获得比较高的滚磨速度,又可保证加工表面粗糙度Ω和损伤层均比较小的满意结果。

·碱腐蚀:腐蚀的用意是去除硅锭表面在滚磨加工过程中形成的

损伤层,这样可减少和避免硅片在后序加工中产生边缘缺陷。具体工艺为:将硅锭置放于盛有NaOH饱和溶液的腐蚀槽中,在90~1000C温度下,腐蚀8分钟,表面去除量为0.5~1.0㎜。硅锭表面损伤层可完全去除掉。

·配棒:将两根棒不同长度配置成一组,使其每组总长度大致相

同,便于每组切出的片子数量也大致相同。配棒好的每组棒摆放在一起并设有标记。

·粘棒:将配置好的硅锭的喷砂面与石英板用AB胶在常温下牢

固地粘接在一起。

·切割。线径为120μm,切速为0.34㎜/min。工艺中使用的切削

浆液是本厂配制的,粒径为1500目(8μm)。

去胶:粘接在硅片上的A,B胶,用水喷射办法与石英板底脱离。

硅片取出后放入水槽内,用手工的办法将胶剥离干净。

·装片(插片):带上手套将去胶片装入片篮内,以便于对硅片后

续处理和记数等。插片过程也是选片过程,可将不合格的硅片挑选出。

·清洗:硅片清洗是在超声清洗槽内进行。清洗槽共有8个工位

槽,分别为清水槽(一个工位),放有清洗剂的清洗槽(三个工位)以及四个工位的清水槽。片篮依次按设定的程序进行清洗。清洗所用的水均为去离子水。

·烘干:烘干是在链式鼓风干燥炉内进行。片篮放在运行的链带

上,缓慢通过加热炉加热3分钟,在700C热风吹烤下将硅片烘干。

热处理:硅片通过热处理消除体内热施主对电阻率的影响。采用

的加热设备为马弗炉,温度为6500C,受热时间30分钟后,立即取出并用风扇急速冷却到室温。

三、硅片几何参数和性能参数检测:

加工好硅片进行厚度(TV),总厚度偏差(TTV),弯曲度(BOW)和电阻率等参数检测。上述参数均

在同一台型号为MS203无接触测量仪上进行。根据电阻率检测结果对硅片进行分档。掺镓硅片: 0.5~3Ω.㎝; 2~4Ω.㎝; 3~6Ω.㎝分为三档,掺硼硅片:1~3Ω.㎝为一档。按分档的硅片进行分别包装。


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