环氧树脂。 调用如下：
选择[参数]-[工件]-[材料]，材料被选中，按【“+ -”键】，选择材料，则当前材料声速被调用。
手动调节声速，操作方式如下；
(1) 选择[基础]-[接收]-[声速]，声速被选中如右图。
(2) 此时按【调节键】，声速在0~99999m/s之间连续可调。 3.8.6 回波显示
回波显示波次功能是仪器根据被检测工件厚度，
探头的特征，通过闸门对回波的定位，来计算当前闸门内波形是几次回波，并将结果显示在电池电量前面。
注意：结果和用户对仪器的校准有关(见第四章)。 A：工件厚度调节
选择[参数]-[工件]-[工件厚度]，工件厚度被选中此时按【调节键】即可调节。调节范围：1~999mm。
B：探头参数的调节见3.9节。 C：打开回波显示波次功能
选择[参数]-[工件]-[回波显示]，回波显示被选中，按【“+ -”键】即可调节。
D：结果显示在电池电量显示位置的前面，如图： 。 3.8.7 回波处理方式
数字仪器在处理回波数据显示通常有两种处理方式：平均和峰值。 采用平均的处理方式，将多次发射采集回来的数据进行平均显示，特点是波形稳定，噪声低。通常用这种方式。
采用峰值的处理方式，是将多次发射采集回来的数据进行取峰值显示，特点是回波幅度容易保证，在扫查的过程中比较容易发现缺陷。
操作方式如下：
选择[参数]-[系统]-[处理方式]，处理方式被选中，按【“+ -”键】即可调节。
3.9 探头参数调节
探头参数含探头形式、探头晶片参数、K值、探头延时、前沿距离等。在探伤工作前，我们一般都需标定直、斜探头(含小角度，以下同)延时，斜探头K值及前沿距离等，并且一经标定，最好不要改变，否则会影响探伤结果，用户调节需慎重(标定见第四章)。
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3.9.1 探头形式
探头形式分为直、斜探头、小角度探头和其它。 操作如下：
选择[基础]-[探头]-[探头形式]，探头形式被选中，按【“+ -”键】即可调节。
3.9.2 探头晶片参数
晶片频率：单位MHz 晶片尺寸：单位mm，圆晶片用直径表示，方晶片用长×宽来表示。 晶片频率和晶片尺寸仪器常用来计算超声场的近场区，输入要仔细。
操作如下：
选择[基础]-[探头]-[晶片]，按
进入[晶片]菜单下的子菜单，按
、及【调节键】即可输入晶片的频率和尺寸。选择直探头时，宽度菜单栏不可用。
仪器默认直探头均为圆晶片，而斜探头为方晶片，所以斜探头
需要输入长、宽。 3.9.3 探头K值
直探头K值不可调，斜探头可按角度调节，范围0°~90°。 操作如下：
选择[基础]-[探头]-[K值/角度]，K值/角度被选中，按【左右键】选择数位，按【“+ -”键】调节数值。 3.9.4 探头延时及前沿距离
探头延时及前沿距离均需要标定，如果用户手动调节，操作如下： 探头延时：选择[基础]-[探头]-[探头延时]，探头延时被选中，按【调节键】即可调节。
前沿距离：选择[基础]-[探头]-[前沿距离]，前沿距离被选中，按【调节键】即可调节。
3.10 仪器的显示特性
仪器的显示特性显示刻度、波形的显示方式、标尺、颜色、亮度等。
A刻度：指回波在不同坐标轴上的声程投影值，分水平、深度、声
程、普通(照顾模拟仪器使用者习惯)。
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声程 深度 水平 操作方式如下：
选择[基础]-[显示]-[刻度]，刻度被选中，按【“+ -”键】即可调节，如下图：
斜探头，45度，延时0μs，移位为0mm，范围888mm。
B波形：指波形的显示方式，分实心及空心，实心在扫查或仪器在
户外使用时，效果明显。
操作方式如下：
选择[基础]-[显示]-[波形]，波形被选中，按【“+ -”键】即可调节，如下图：
空心
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实心
C标尺：仪器波形后面的栅格，用户可以粗略的对波形幅度定量，
分简单/细致/标准。
操作：选择[基础]-[显示]-[标尺]，标尺被选中，按【“+ -”键】即可
调节。
D颜色：仪器显示界面的颜色方案。提供十种供用户选择：用0~9
数字表示。
操作：选择[基础]-[显示]-[颜色]，颜色被选中，按【“+ -”键】即可
调节。
E亮度：显示屏亮度调节，从最暗到最亮，功耗也随之增加。 操作：选择[基础]-[显示]-[亮度]，亮度被选中，按【“+ -”键】即可
调节。
4 仪器的校准及标定
4.1 扫查的设置
在进行超声波检测时，检测面上探头与试块的相对运动称为扫查，在扫查过程中，需要考虑以下两个原则：
1. 保证整个工件的检查区有足够的声束覆盖以避免漏检； 2. 扫查过程中声束入射方向始终符合所规定的要求。 本仪器在以下设定状态下，扫查速度最佳。 (1) 将仪器的波形显示方式设置为实心； (2) 波形处理方式设置为峰值；
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(3) 由于仪器的发射重复频率和探头有效直径对扫查速度影响很
大，请尽可能使用高重复频率，大直径探头。 以上操作设定见第二章相关章节。 用户在扫查过程中需注意：
(1) 探头接触的稳定性：探头应施以一定的、一致的压力，否则会
使检测灵敏度发生变化；
(2) 探头的方向性：应严格按照扫查方式所规定的方向； (3) 同步与协调。
4.2 声速的标定
声速对缺陷的定位影响非常大，特别是一般斜探头的标定均是在试块上进行，当工件和试块的声速不同时，就会使探头的K值发生变化。
本仪器提供声速标定功能，操作如下：
(1) 进入[基础]-[探头]，调节探头参数。操作方法(见3.9节探头参
数调节)。
(2) 选择[标定]-[声速]，进入声速标定菜单，见图4-1。 (3) 选择[试块]，试块被选中。按【“+ -”键】即可调节，一般选择
CSK-1。测工件声速是请选其他，下面以CSK-1试块、直探头为例：
(4) 选择[基准量]，如上图按【调节键】输入100mm。 (5) 按【闸门1】键，调节闸门1到一次回波位置，选择[起点确定]，
按【确定】键确定。
(6) 调节闸门1到二次回波位置，选择[终点确定]， 按【确定】键
确定。
(7) 此时[声速]位置，出现标定结果，如图4-1为5941m/s。仪器
将自动记录。
注：在示例中所输入数值仅为举例，用户应根据使用试块的实际情况进行输入。
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