HS616e说明书END(10)

2020-06-16 23:22

仪器校准

回波,将波高调节到80%左右(按

键或转动旋钮到自动增益栏单击)。按

键或右转旋钮到波峰记忆栏进入峰值搜索状态,前后移动探头使得此回波达到最大波幅。当达到了最大波幅时 ,按住探头不动,再按栏退出峰值搜索。 ② 按K值相对应的

键或旋转旋钮到 K值 栏单击旋钮,此时该栏反显。如图3-5-4

键或右转旋钮到波峰记忆所示。同时滚出测量K值的相关信息:

? 请选择K值测试方式 手动 ? 请输入测试孔孔径:50.0 mm 用

或单击旋钮

再按K值相对应的③ 按

键,此时就进入探头角度的调节。

或单击旋钮

键或左右调节旋钮将参数改为50

键或左右转动旋钮来调节K值或探头角度。同时观察数据显示区

的垂直距离显示。当垂直距离为30mm时,此时的K值或角度就是此斜探头的K

值或探头角度。如图3-5-5所示。

注:如果知道探头K值或探头角度,用户也可以在参数列表中直接输入。

2.自动测试K值 ① 按

键或右转旋钮到 调校 栏单击旋钮,将范围调整到合适的值。使得?50孔

键或左右转动旋钮使闸门锁定此回波,将波高调节到

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的回波在显示区内。按

仪器校准

80%左右(利用自动增益功能)。按

键或右转旋钮到波峰记忆栏进入峰值搜索状态,前后移动探头使得此回波达到最大波幅。当达到了最大波幅时 ,按住探头不动,再按

键或右转旋钮到波峰记忆栏退出峰值搜索状态。 ② 按K值相对应的

键或旋转旋钮到 K值 栏单击旋钮,此时该栏反显。如图3-5-6

所示。同时滚出测量K值相关的信息:

图 3-5-6

? 请选择K值测试方式 手动 用

提示信息变为:

? 请选择K值测试方式 自动 按 ?请输入测试孔孔径:50.0 mm 用

? 请输入测试孔深度:30.0 mm 用

或单击旋钮

键或左右调节旋钮将参数改为50mm 或单击旋钮

键或左右调节旋钮将参数改为30mm 或转动旋钮

或单击旋钮(如果显示的数值与实际数值相符则无需改动)

③ 此时如果已找到该测试孔的最高回波,则按

键或转动旋钮到确认栏单击旋钮仪器将自动计算K值。如图 3-5-7。并在屏幕下方出现提示:

·所测为K值:X.XX

图 3-5-7

或单击旋钮退出自动K值测试状态。

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仪器校准

3.6 距离—波幅曲线的应用

距离—波幅曲线是一种描述反射点至波源的距离、回波高度及当量大小间相互关系的曲线。大小相同的缺陷由于距离不同,回波高度也不相同。因此,距离—波幅曲线对缺陷的定量非常有用。本仪器可自动制作距离—波幅曲线(DAC曲线)。

3.6.1 进入曲线制作功能菜单

操作:

键或右转旋钮到曲线栏,进入曲线制作功能菜单。如图3-6-1所示。

3.6.2 曲线的制作

操作:

① 在曲线制作子功能菜单中,按制作相对应的

键或单击旋钮,此时该栏反显,

同时滚出一个提示信息:请用闸门锁定测试点!信息消失后制作变为闸门移位,(此时按其对应的

键或单击旋钮可对闸门移位和范围两种功能进行切换便于曲线制作中调节闸门位置和范围的选择。)在回波显示区的右上角显示当前的测试点。且测试点后面的数闪动。如图3-6-3所示。(注意:在制作曲线时,是单闸门操作,闸门不能上下移动,只能左右平移)下面我们就用CSK—IIIA试块来制作DAC曲线。(注AVG曲线制作方法与DAC曲线制作方法相同,选择相应的探头及试块即可)

② 选择测试点:

将探头放置在CSK-IIIA试块上,如图3-6-2所示,对准第一个测试孔(10mm深

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仪器校准

的孔),移动探头直到找出最高波回波。使用门锁定此回波,按80%左右。再按

键或左右转动旋钮移动闸

键,或右转旋钮到自动增益栏单击,把该回波的幅度调到键锁定闸门内的最大回波(测试点后面的数字固定不闪烁时,

键或右转旋钮到确认栏单击,完成该点的测试。此时表示以锁定回波);再按

显示的测试点后的序号自动向后顺延,并闪烁,表示进入下一个测试点的采样。按照上面的步骤锁定下一个测试点(20mm、30mm、40mm??)。依照以上方法逐点采样。

③ 制作波幅曲线的测试点最少要选择两个或两个以上,最多只有十个测试点可供选择。当您选择完测试点后,在新的测试点序号闪烁时,直接按

键结束测试。同

时仪器将针对刚才被选择的测试点自动的连接成一条平滑的曲线。

图 3-6-3

④ 对于DAC曲线来说此时得到的曲线是?1×6mm的基准线,根据探伤要求不同还需要根据相关标准来输入参数,从而得到探伤时所需要的三条曲线。按转旋钮到参数栏单击旋钮 进入参数列表,用

键或右

或左右调节旋钮将光

或左

标移动到评定栏按确认键或单击旋钮进入参数修改状态,使用右调节旋钮将数值输入后,按确认或单击旋钮完成参数修改。依照以上方法依次输入定量、判废、表面补偿的标准数值。最后按参数键,或左右转动旋钮将光标移动到退出栏单击旋钮返回探伤界面。

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仪器校准

图 3-6-4 图 3-6-5 3.6.3 曲线的调整

如果用户对已制作出的波幅曲线稍有拐点时,可利用调整功能做局部的调整。

操作:在制作波幅曲线后(如果没有制作波幅曲线的话,仪器将会提示:没有做波幅曲线!!)。

① 按

键或右转旋旋钮到曲线栏单击先进入曲线制作功能菜单,按调整相对应的键或转动旋钮到调整栏单击进入曲线调整功能,此时该栏反显,同时波幅曲线的第一个测试点上显示一个大三角形。在回波显示区的右上角显示:测试点:1的字样,

说明此点被选定为调整点。如图3-6-6所示。

② 测试点的选择: 再按调整相对应的

键或单击旋钮时,可选择其它的测试点来做调整点,被选择的

键或两次单击

测试点上显示一个大三角图形。当选择到最后一个测试点时,再按旋钮,又回到第一个测试点,如此反复。

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