比对报告 编号：比对报告第页码：1/2 17份 RI-BCI辐射抗扰大电流注入重复二次校版本：A0 准数据比对测试 一、目的：
验证RI-BCI辐射抗扰大电流注入重复二次校准数据差异。
二、测试说明：
用二次校准结果做成图表比对。
三、测试方法：
根据ISO11452-4 2005中的设置连接进行校准。
四、试验设备： 名称(Equipment) 型号(Model) 编号(SN) 厂商(Manufactory) BCI注入干扰发生器 BCI校准夹具 大电流注入钳 屏蔽室 3DB衰减器注入R-48 CWS500 FCC-BCICF-1 F-130A-1 RFD-F/A-100 V0542100802 540 31 3764 R-48 EM TEST FCC FCC ETS LIND GREN EM TEST 计量有效期(Cal. due) 2008.01.05-2009.01.05 2007.12.23-2008.12.23 2008.09.06-2009.09.06 2007.12.23- 2008.12.23 五、校准条件
校准频率: 1-400MHz 步进：5% 驻留时间：2s
调制方式：AM 80%
注入干扰电流等级：100mA
六、校准布置图
校准内部连接图
拟 制: 李守乾 日 期: 2008.11.17 审 核： 日 期： 审 核: 日 期: 批 准: 日 期: 比对报告 编号：比对报告第页码：2/2 17份 RI-BCI辐射抗扰大电流注入重复二次校版本：A0 准数据比对测试 七、校准数据
2次校准比对图1201008060402001112131415161718191101111121
第一次校准Read[mA]第一次校准Cal.net-pwr [dBm]第一次校准Cal.rev-pwr [dBm]第二次校准Read[mA]第二次校准Cal.net-pwr [dBm]第二次校准Cal.rev-pwr [dBm]八、校准结论：
针对此次校准，从校准数据来看没有太大的变化。
拟 制: 李守乾 日 期: 2008.11.17 审 核： 日 期： 审 核: 日 期: 批 准: 日 期: