将实验箱面板上“波形选择“开关拨至脉冲档，“探测器选择”开关拨至光敏电阻档，此时由“输入波形”的光敏电阻处应可观测到方波，由“输入”处引出的输出线（蓝线）即可得到光敏电阻
3．用幅频特性法测量CdSe光敏电阻的响应时间
（1）将本实验箱面板上“波形选择”开关拨至正弦档，“探测器选择”开关拨至光敏电阻档，此时由“输入波形”的光敏电阻处应可观测到正弦波形，由“输出”处引出的输出线（蓝线）即可得到光敏电阻的输
出波形，其频率可改变“频率调节”处的正弦旋钮来调节。
（2）改变光波信号频率，测出不同频率下CdSe的输出电压（至少测三个频率点）并记录。 （3）根据公式（2－3）计算出其响应时间。 4．用截止频率测量CdSe光敏电阻的响应时间
改变正弦波的频率，可以发现随着调制频率的提高，CdSe负载电阻两端的信号电压将减小。测出其衰减到超低频的70.7％时的调制频率fc，并由式（2－4）确定响应时间τ。
六、实验报告
（1）列出表2－1、表2－2并解释光电二极管的响应时间与负载电阻和偏置电压的关系。
（2）列出用脉冲响应法测得的CdSe光敏电阻的响应时间，并与用幅频特性法测出的响应时间相比较。 （3）写出用截止频率测得的CdSe的响应时间。并比较这三种方法的特点。
七、思考题
（1）CdSe光敏电阻在弱光和强光照射下的响应时间是否相同？为什么？
（2）如欲测量响应时间速度更快的光电探测器的响应时间，则必须提高光源的调制频率，试想还有哪些方法。