6 7 8
0 0 0 0 1 1 1 1 1 1 1 0 03H 07H 06H 实验步骤
1. 按图5-1-2连接实验线路，编写实验程序，编译无误后联机调试。 2. 运行程序，观察步进电机的运转情况。
注意：步进电机在不使用时请断开连接，以免误操作使电机过分发热。
实验六 直流电机PWM调速实验
实验目的
了解单片机控制直流电机的方法，并掌握脉宽调制直流调速的方法。
实验原理
直流电机单元由DC12V、1.1W的直流电机，小磁钢，霍尔元件及输出电路构成。PWM的示意图如图5-2-1所示。通过调节T1的脉冲宽度，可以改变T1的占空比，从而改变输出，达到改变直流电机转速的目的。
图5-2-1 PWM脉冲示意图
实验内容
实验接线图如图 5-2-2 所示，通过单片机的 P17 口来模拟 PWM 输出，经过驱动电路来驱动直流电机，实现脉宽调速。在 TD-NMC+实验平台中将 P17 直接与驱动电路的 N 端连接，驱动单元的输出 N’连接直流电机单元的 2 端。
图5-2-2 直流电机实验接线
实验步骤
1. 按照图5-2-2接线，编写实验程序，编译无误后联机调试。 2. 运行程序，观察电机运转情况。
3. 复位并停止调试，改变T1_value的值，重新编译、链接后运行程序观察实验现象。 4. 也可以改变定时器时间来改变时间脉宽，观察实验现象。 5. 实验结束，复位系统板，退出调试状态。
附录1 SST89E554RC简介
SST89E554RC 具有在系统可编程（ISP）和在应用可编程（IAP）技术，该器件是 SST 公司 推出的 8 位微控制器 FlashFlex51 家族中的一员，内置仿真程序，完全取代传统的硬件仿真器和 编程器。这种先进的单片机将仿真系统和应用系统合二为一，大大降低了应用开发成本，极大 地提高了研发效率。把单片机的仿真开发和应用设计提高到一个崭新的技术领域。SST89E554RC 具有如下特征：
·与8051兼容，嵌入SuperFlash存储器 － 软件完全兼容 － 开发工具兼容 － 引脚全兼容
·工作电压5V，工作时钟0～40MHz ·1Kbyte内部RAM
·两块SuperFlash EEPROM，主块32Kbyte，从块8Kbyte，扇区为128Byte ·有三个高电流驱动端口（每个16mA） ·三个16位的定时器/计数器 ·全双工、增强型UART － 帧错误检测 － 自动地址识别
·八个中断源，四级优先级
·可编程看门狗定时器（WDT） ·可编程计数阵列（PCA） ·双DPTR寄存器
·低EMI模式（可禁止ALE） ·SPI串行接口
·标准每周期12个时钟，器件提供选项可使速度倍增，达到每周期6个时钟 ·低功耗模式
－ 掉电模式，可由外部中断唤醒 － 空闲模式
SST89E554RC的功能框图如图1-1-1所示，外部引脚如图1-1-2所示。 SST89E554RC的特殊功能寄存器如表1-1-1所列。
图1-1-1 SST89E554RC功能框图 图1-1-2 SST89E554RC外部引脚图
表1-1-1 SST89E554RC特殊功能寄存器存储器映象
F8H F0H
IPA B1 1
CH 8字节 CCAP0H CCAP1H CCAP2H CCAP3H CCAP4H IPAH FFH F7H
E8H E0H D8H D0H C8H C0H B8H B0H A8H A0H 98H 90H 88H IEA1 ACC1 CCON1 PSW1 T2CON1 WDTC1 IP1 P31 IE1 P21 SCON1 P11 TCON1 CL CCAP0L CCAP1L CCAP2L CCAP3L CCAP4L CMOD CCAPM0 CCAPM1 CCAPM2 CCAPM3 CCAPM4 T2MOD RCAP2L RCAP2H TL2 TH2 SADEN SFCF SFCM SFAL SFAH SFDT SFST SADDR SPSR AUXR1 SBUF TMOD TL0 TL1 TH0 TH1 AUXR IPH EFH E7H DFH D7H CFH C7H BFH B7H AFH A7H 9FH 97H 8FH 80H
P01 SP DPL DPH WDTD SPDR PCON 注：1表示该特殊功能寄存器可位寻址。
87H
附录2 TD-NMC+实验系统的硬件环境
2.1 概述
TD-NMC+实验平台上的电路结构主要由三部分：系统总线单元、面包板总线扩展单元和实 验接口单元。实验平台结构如图 2-1 所示。
2.2
实验平台单元电路
图 2-1 TD-NMC+实验平台结构图