四、典型系统的实验内容
1 一阶系统的性能研究
积分环节经反馈构成的一阶系统
Ui R1 R1 C Uo
图七 输出波形
2 二阶系统性能的研究
⑴典型二阶系统
Ui R0 R4 R0 · ·· · · ·· · R2 R3 图八
R1 C1 C2 Uo 1.推导典型二阶系统的闭环传递函数。
2．记录典型二阶系统的输出波形
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3．记录参数改变（注明参数如何改变）后的典型二阶系统的输出波形
4．分析参数变化对输出的影响。
⑵比例—微分控制的二阶系统
R2 Ui R0 R0 ·· ·· · ·· ·· · 图九
C1 C2 C3 R4 R1 R3 Uo 16
1．记录典型二阶系统的输出波形
2．记录加入比例—微分控制的二阶系统输出波形
3．分析比例微分对典型二阶系统输出的影响。
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实验二 系统频率特性的测试
一、实验目的
1 通过对系统频率特性的测量，验证频率法分析系统的正确性； 2 根据实验数据学会绘制伯德图和乃氏图，并和理论数据进行比较； 3 学习测量系统或环节频率特性的方法。 二、实验仪器
1 ZK—III型自动控制原理模拟实验系统一台； 2 接插线若干。 五、实验线路
10K Ui Uo
0.033μ 接交流“输入
接信号发生器，同时接交流“输入1”
· ·· 2”
实验线路图
G(S)=1/(1+TS) 其中：T=RC A(ω)=Uo/Ui
L(ω)=20*lg A(ω) 其中：ω=2πf f(Hz)_ 48 Ui(V) Uo(V) φ 计算A（ω） 计算lgω 计算L(ω) f(Hz) 482 Ui(V) Uo(V) φ 计算A（ω） 计算lgω 计算L(ω)
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85 517 152 556 202 642 270 857 361 1142 417 1524 448 2710
伯德图
幅频特性
相频特性
乃奎斯特图
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