现在，我们必须测量如图10.6所示的Zo（小信号AC开环输出阻抗）。该Tina SPICE测试电路将测试空载OPA177的Zo。R2和R1以及LT为低通滤波器函数提供了一条AC通道，这样，使得我们能将DC短路和AC开路一起并入反馈电路。DC工作点在输出端显示为接近零伏，这也就是说，OPA177没有电流流入或流出。此时，通过运用1Apk AC电流生成器（我们能够扫视10mHz至1MHz的AC频率范围），Zo的测量工作就可以轻松完成。最后，得出测量结果Zo = Vout（如果将测量结果的单位从dB转换为线性或对数，那么Vout也将为以欧姆为单位的Zo）。
图10.6 空载Zo测试电路：发射极跟随器
从图10.7中，我们可以看出，OPA177 Zo是双极发射极跟随器输出级所独有的特征，而且这种输出级的Ro在OPA177单位增益带宽之内，是控制输出阻抗的专门组件。OPA177的Ro为60欧姆。
图 10.7 开环输出阻抗：发射极跟随器
图 10.8 Zo外部模型：发射极跟随器
为了使1/β分析的情况包括在Zo与Riso、CL、 CF以及RF之间相互作用的影响结果内，我们需将Zo从运算放大器的宏模型中分离出来，以便于弄清楚电路中所需的节点。这种构思如图10.8所示。U1将提供了产品说明书中的Aol曲线，并从Riso、CL、 CF以及RF的各种影响中得到缓冲。
图 10.9 Zo外部模型详图：发射极跟随器
通过如图10.9所示的Zo外部模型，我们能够测量Zo与Riso、CL、RF以及CF之间相互作用对1/β的影响。在Zo外部模型中，设置Ro = Ro OPA177，实际测量值为60欧姆。压控电压源VCV1将运算放大器宏模型U1从 Ro、Riso、CL、CF以及RF中隔离开来。将VCV1设置为x1，以确保产品说明书中的Aol增益不变。由于我们要在稳定性状况最糟的情况下（只存在CL以及我们计算得出的空载Zo [此时Ro=60 欧姆]）分析这种电路，因此，务必排除各种大的DC负载。VOA是一个与运算放大器相连的内部节点，在实际工作中，我们无法实现对这种节点的测量。同时，许多SPICE宏模型上的这种内部节点接入，也并非易事。对1/β进行分析（相对于VOA），已涵盖了Ro、Riso、CL、CF以及RF 的影响。如果未采用Zo外部模型，SPICE中的最终稳定性仿真就无法标绘出1/β的曲线；但是，如果采用Zo外部模型，则可标绘出环路增益的曲线以确认我们分析的正确性。
首先，我们要分析如图10.10所示的FB#1。请注意，由于我们只分析FB#1，所以CF可视为处于开路状态。接下来，我们将分析FB#2。然后，通过采用叠加的方法，将两条反馈通道合并在一起，求取最终的1/β。分析结果如图上所示，有关的公式推导和具体细节，请参阅下一张图（图10.11）。我们发现，当fzx=183.57Hz时，FB#1 1/β曲线的增益为零。低频1/β值为1。如欲获得该增益，那么低频1/β值应大于1。
图 10.10 FB#1分析：发射极跟随器
图 10.11 FB#1 1/β公式的推导：发射极跟随器
FB#1β的公式推导如图10.11左侧所示。由于1/β是β的倒数，所以FB#1 1/β的计算结果可以轻而易举的被推导出来，具体推导过程，请参阅图10.11右侧。从图中我们还发现，在β推导过程中的pole, fpx变成了1/β推导过程中的 zero, fzx。我们将采用如图10.12所示的电路来开展AC分析：通过Tina SPICE，求取FB#1的1/β，OPA177的Aol以及只采用FB#1电路的环路增益。正因为如此，所以我们将CF从图中除去。
图 10.12 FB#1 AC电路分析：发射极跟随器
FB#1 1/β的结果标示在图10.13中的OPA177 Aol曲线上。在环路增益为零的fcl处，我们发现，接近速率为 40dB/decade：[（Aol曲线上的–20dB/decade） – （FB#1 1/β曲线上的+20dB/decade ）= –
40dB/decade 接近速率）]接近速率的经验数据表明了存在的不稳定性。我们对FB#1的分析是基于zero、fzx = 183.57Hz，低频1/β = 1的情况。从图10.13中可以看出，我们的一阶分析准确地推算出了FB#1 1/β的数值。
图 10.13 FB#1 1/β曲线图：发射极跟随器
从图10.14中我们发现，只配置FB#1的电路环路增益分析显示，在环路增益为零的fcl处，相位裕度接近零。这样，就明确证实了电路的不稳定性。通过检测图10.13中Aol曲线上的FB#1 1/β曲线，可推算出环路增益曲线上的极点和零点。
图 10.14 FB#1环路增益分析：发射极跟随器
图 10.15 FB#1瞬态稳定性测试电路：发射极跟随器
如果我们有任何疑问，或如果只采用FB#1构建参考缓冲电路，此时，我们可运用如图10.15中的电路，进行实际的瞬态稳定性测试。
图10.16中的瞬态稳定性测试结果同时与Aol曲线上的1/β值和环路增益曲线一致，因此，证明了只采用FB#1构建参考缓冲电路，将导致电路运行的不稳定性。