协力设备操作标准(飞针) 2 - 图文(2)

2019-02-15 11:17

2-3.测试 6

2-3-3.测试的设定

【步骤】

①点击工具栏中的图标 参考 可[视图]菜单选择[参数设定]打开相应的对话窗口。

②在测试选项对话框中,可以进行各种设定。 ③设定完成,点击[确定]。 ●常规参数设定

探针速

低速/

定探向的

速/高速

针在X,Y,Z轴方移动速度。

提针

高度

基板到探针前端部的距离。

※最初设定为3。在基板的弯曲及歪斜程度大的情况下请調大其探幅(设定范围:0~15)。

扎痕设定

需要减轻扎痕时使用。 ※不适用于通孔测试点。

速度/位置

设定探针在Z轴方向(探针向基板下探而接触的方向)的移动速度(设定范围:1(最低速)~9)。

调整探针高度

测试弯曲或有段差的基板時选择,加入了Check的步骤。

※通常测试中若有探针接触不良的情况时,选择后可以减少接触不

良。

孔润边设定

需要避开通孔时选择,有图所示的对话框中选择对应的设定。

※圆盘直径与通孔的直径相差很小的时候,由于阻焊较小,有可能会

引起接触不良,请注意。

2-3.测试 7

所有测试点都不使用润边测试

设定为对所有通孔从中心进行测试。

所有测试点都使用润边测试

设定为对全体通孔从圆盘进行测试。

只有导通孔使用润边测试

设定为对超过指定尺寸(mm/inch)的通孔从圆盘进行测试。

忽略测试数据中圆形PAD的扎针位置

在测试数据指定了位置的情况下选择,与测试数据的位置无关,避开通孔进行测试。 ※仅支持IPC-D-356A格式(.emm文件及.356文件)。

润边测试位置选择设置 圆形PAD润边

仅指定避开圆形通孔的扎针方向(上/下/左/右)。

矩形PAD润边测

仅指定避开方形通孔的扎针方向(左上/左下/右上/右下)。

方孔与圆孔相对应同方向避开扎针

方形通孔角 (左上/左下/右上/右下)同圆形通孔(上/下/左/右)相对应同方向避开扎针的情况下选择。

方孔与圆孔相对应反方向避开扎针

方形通孔角 (左上/左下/右上/右下)同圆形通孔(上/下/左/右)相对应反方向避开扎针的情况下选择

报告文件

输出测试报告文件

把测定值输出至文档是选择。 ※一般是不需要的。

输出DEBUG参数至BOX文件夹

需要将debug情报存储进相关的文件夹中时选择,如果有什么问题需要本公司给于解决的时候,请将相关的debug情报传给我们。

错误中断

跳过 * 错误点 / 图像

到指定的error数时中断测试,测试下一面。

※仅对多排板数据有效。

暂停 * 错误点 / 测试板

到指定的error数时中断

测试。

对位设定

2-3.测试 8

CCD对位模式选择 自动图像对位

第1枚基板手动对位,从第2枚开始机器自动图像确认对位。

手动对位

始终通过操作盘手动定位。

半自动对位(人工确认)

图像定位后,转为手动操作,摄像头保持不动,直到手动按下操作盘的 ENTER 键为止。

CCD调整(设定选项) 快速框测试

使用快速框架、多排框架、单片框架(选配)时,请务必选择。

吸盘测试

使用真空吸盘 (选配)时,请务必选择。

手动调整

可以手动操作调整测试位置。

调整后的位置保存到OFS文件中.

测试点的offset情报保存到OFS文件中。

3 点对位

把toolingpin设定为第3个对位点,仅限于toolingpin设定在基板内的情况。

4 点对位

各轴2个对位点+2个追加的对位点,进行对位,对每根轴进行补正。 ※通常不使用该设定。

每根针进行两次重复对位

在各轴2处进行对位,对每根轴进行补正。 ※通常不使用该设定。

多排板单片对位测试

多排基板的情况下,通常全部的对位点对位完成后开始测试,现在采用每面板对位→测试,这一程序反复进行。

忽略对位错误继续后续片测试

测试前对位失败的时候,跳过对位失败的那一面板,继续下面板的测试。

●导通测试的设定

选择相位差进行开路测试

导通测试使用相位差测试的

话请

选择。

※导通测试使用相位差的话,通常是第1枚和第2枚以后两个选项都选择[精准]。

2-3.测试 9

相位差 首片 精确

各网络间阻值测试的时候,对没有问题的网络进行相位差取样。

快速

从一开始对测试点就进行相位差(线长)测试,找出相同网络中测试数值不同的点,这些点再进行阻值测试,对没有问题的网络进行相位差取样。

※网络中点附近有开路的话,可能无法测出。

后续片 精确

测试所有测试点的相位差,与样本作比较。

快速

只测试网络中的一个测试点,与样本作比较,测试值与样本不同的网络进行阻抗测试。 ※网络末端有开路等,根据开路点的不同,有可能无法测出。

2-3.测试 10

量程

1/2/3/4/5/6/7

选择阻抗测试的范围,范围不同,可设定的阻抗值也不相同。

VltVer.11 - 范围1 - 范围2 范围3 范围4 范自动调整 围5 VltVer.12~14 VltVer.15~17 - 范围1 范围2 范围3 范围4 范围5 范围6 范围1 范围2 范围3 范围4 范围5 范围6 范围7 指定范围 0.005~0.03Ω 0.05~0.3Ω 0.3~3Ω 0.5~8Ω 5~80Ω 50~800Ω 500~8000Ω 最小分辨值 0.01mΩ 0.1mΩ 1mΩ 2.5mΩ 25mΩ 250mΩ 2500mΩ ※电压发生板的型号不同,范围和阻抗判断值都不相同。 部分就是初期值,然后根据这个初期值开始测试。 ※如果没有特别指定测试的方法的情况下,请使用5~80Ωの的范围。 开路阻值 Ω范围以下的的情况,请使用kelvin探针(4端子)。通常的探针(2端子)的情况由于接※ 3触阻抗的影响从而导致精度不够,会产生误判。 是可以的 超出设定值的测试值就判断为导通error,在测试范围内设定测试值※这是阻抗测试时的判定阻抗值,不适用于 ※用针形探针的情况下,也可能发相位差测试。生由于接触阻抗的影响从而导致精度不够的情况。 自动复测错误点 * 次 根据阻抗测试的结果,自动切换测试范围。确认后自动切换测试部分会变为灰色无法选择。这个灰色表示的测试导通测试之后,自动追加「导通再测试」项目,error的测试点再次测试确认。可以指定再测试的回数(设定范围:1~9回)。不需要更改数据文件,同时可以和各种功能和在一起使用。

检查项目 导通孔检查

不选择的情况下测试面以测试速度为优先进行自动分配。

测试基准网络

需要测试电源网络时选择。

与良好的样品比较检查

用在阻抗测试值与良品测试值測定抵抗値进行补交的时候。 ※通常不要选择。

独立孔导通检查

需要从正反面测试单点导通孔时选择。

※单点通孔中有开路,或与邻接网络之间有短路的情况下,为了避免出现漏测,请选择该选项。

不检查中间点

不测试正反面内部有线的中间点时选择。

※ *.ipc & *.mic文件或是从*.ipc & *.mic文件转出的.emm文件,不能使用该功能。


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