实验题目：（二）TTL与非门电路参数测试
实验类型： 验证性 时 间： 年 月 日
实验课时： 指导教师： 课 次：第 节 教学周次：第 周
实验分室： 实验台号： 实 验 员： 一、 实验目的
1. 熟悉TTL与非门外型和管脚的排列。 2. 通过测试了解与非门的直流参数。 3. 加深对与非门逻辑功能的认识。
二、 实验器材
数字万用表1块. 直流稳压电源1台. 双踪示波器1台. 数字电路学习机1台. 数字集成块74LS001块
三、 实验内容和要求
1、TTL 74LS00二输入端四与非门管脚排列
2、TTL与非门的直流参数测量 A.电源电流——I∞
按规定的输入条件，使输出开路，由Vcc流入一个电路的电流，它标着电路功耗的大小。 ICCL：当输入条件为输入端均接+5V，输出为低电平时电源电流。
ICCH：当输入条件为所有输入端均接地，电路截止，输出为高电平时电源的电流。
2-1
I∞=（ICCL + ICCH）/2
B.低电平输入电流测试——IIL
IIL也叫输入短路电流，它直接反映前级带负载个数，将被测输入端加上一个低电平，其余接高电平，由被测输入端流出电路和IIL，一般IIL≤0.4mA，见图2-2。
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2-2
C.高电平输入电流测试——IIH
IIH也叫交叉漏电流，是指被测输入端接高电平，流进被测输入端的电流，一般IIH≤1mA，见图2-3。
2-3
D.电压传输特性的测量
测试电路见下2-4图，改变电位器W及改变VI的电压值，用数字万用表分别测出VI.VO的值填入下表中，并根数据绘出VI—VO，曲线如图2-5，同时找出VOL.VOH.VOFF.VON。
VI（V） VO（V） VI（V） VO（V） 0 1.6 0.2 1.8 0.4 2.0 0.6 2.2 0.8 2.4 0.9 3.2 1.0 3.6 1.2 4.0 1.4 5.0 Vol表示输入端全部为高电平时,输出为低电平,VOL<0.5V（输出电压）.
Voh表示输出高电平,VOH>＝2.7V,当输入端之中的任何一个接低电平时,输出得到的高电平. VON——开门电平:在保证输出为额定低电平是允许的最小输入高电平的值,一般<2V.
VOFF——关门电平:在保证输出为额定高电平的90％的条件下的最大输入低电平,一般VOFF>＝0.8V.
E.Tpd——平均传输时间:
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在TTL集成电路中,由于存在着二极管的结电容和寄生电容效应,把一个矩形波加到TTL与非输入端时,输出端的波形在时间轴上要滞后输入脉冲,且脉冲的上升与下降沿要变坏.为描述数字块TTL的动态特性,引入Tpd（平均传输时间）。 Tpd=（Tp1+Tp2）/2
图2-6
四、 实验结果及分析
本次 实验 成绩 项目及比例 实验操作 （50%） 报告书写 （30%） 出勤和课堂纪律 （10%） 课堂提问 （10%） 得分 成绩合计 教师签字： 批改日期：
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实验题目：（三）基本TTL逻辑电路功能测试
实验类型： 验证性 日 期： 年 月 日
实验课时： 指导教师： 时 间： 教学周数：
实验分室名称： 实验台号： 实 验 员： 一、实验目的
1．熟悉基本TTL逻辑门电路功能。 2．掌握基本TTL逻辑门功能测试方法。
二、实验器材
直流稳压电源，74LS00二块，74LS20一块，74LS55一块，74LS86一块，电平输出板，发光二极管显示板。
三、实验内容和要求
（一）四种门功能测试
1、74LS00二输入四与非门功能测试。
将一个门的输入端A、B接入高、低电平（利用电平输出板获得）输出接高，低电平指示灯（利用发光二极管显示板）测试与非门逻辑功能。
注：实验前列出表格，填入实验结果，写出逻辑表达式。
A 0 0 1
2、测试74LS20四输入双与非门功能 测试方法同1，将实验结果填入表中
A 0 X X X
X为任意状态（下同）。 3、测试74LS55与或非门功能
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B 0 1 0 1 y 1 B X 0 X X 1 C X X 0 X 1 D X X X 0 1 Y 1 测试方法同1，将实验结果填入表中
A B C D E F G H Y X X X O O X X X 1 1 1 1 X X X X X X X X 1 1 1 1
4、测试74LS86二输入异或门功能 测试方法同1，将实验结果填入表中
A 0 0 1
1 B 0 1 0 1 y （二）用与非门实现其它逻辑功能
1、按图3-1、3-2组成逻辑电路，测试输出与输入的逻辑关系。 注：要求实验前列出真值表输入取值，由实验填入结果，写出表达式。
图3-1
3-2
2、利用与非门组成一定的逻辑功能的电路，并测试其功能。 注：实验前画逻辑图及真值表输入变量取值。
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