实验1 TTL集成逻辑门参数测试
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一、实验目的：
（1）加深了解TTL逻辑门的参数意义。
（2）掌握TTL逻辑门电路的主要参数及测量方法。 （3）认识各种电路及掌握空闲端处理方法。
二、实验设备：
数字电路实验箱，数字双踪示波器，函数信号发生器，数字万用表，74LS00，电位器，电阻。
三、实验原理：
门电路是数字逻辑电路的基本组成单元，目前使用最普遍的双极型数字集成电路是TTL逻辑门电路。
TTL集成电路的使用规则：
（1） 插集成块时，要认清定位标记，不得插反。
（2） 使用电源电压范围为+4.5V~+5.5V。实验中要求使用Vcc=+5V。电源极性不允
许接错。
（3） 空闲输入端处理方法。悬空，相当于正逻辑“1”，一般小规模集成电路的数据
输入端允许悬空处理。但易受外界干扰，导致电路逻辑功能不正常。因此，对于接有长线的输入端，中规模以上的集成电路和使用集成电路较多的复杂电路，所有控制输入端必须按逻辑要求接入电路，不允许悬空。
（4） 输入端通过电阻接地，电阻值的大小将直接影响电路所处状态。 （5） 输出端不允许并联使用（三态门和OC门除外），否则不仅会使电路逻辑功能混
乱，并会导致器件损坏。
（6） 输出端不允许直接接电源Vcc，不允许直接接地，否则会损坏器件。
四、实验内容： 1、 TTL信号的产生 2、 与非门的测试
3、 用74LS00实现逻辑函数：
F=AB F=A+B
+B F=A○
五、实验结果： F=AB=AB?? F=A+B=A?1????
+B=A?AB????? F=A○
CH1—A：TTL CH2—B：0V CH2—B：+5V F=AB F=A+B +B F=A○