129.若材质相同、放射强度相同而放射性比活度不同的两个不同的γ射线源，其体积相同（）
130.钴60放射源的剂量率在1米距离处、每居里、每小时的伦琴数为1mR（） 131.钴60放射源的剂量率在1米距离处、每居里、每小时的伦琴数为1μR（） 132.γ射线源的能量单位用居里（Ci）表示（） 133.X射线管有效焦点的大小直接影响管子的功率比（）
134.表示辐射源的浓缩程度的物理量称为放射性比活度，其表示单位为每小时多少伦琴（） 135.表示辐射源的浓缩程度的物理量称为放射性比活度，其表示单位为每克多少居里（） 136.某一放射性物质，其原子蜕变数在每秒为3.7x10时，则其放射性强度为1MeV（）
10
137.某一放射性物质，其原子蜕变数在每秒为3.7x10时，则其放射性强度为1Ci（）
10
138.射线在材料中的衰减与射线源的距离平方成反比（） 139.射线在材料中的衰减与材料的厚度成正比（）
140.由于荧光物质具有直接吸收X射线而发出可见光的特点，从而达到增感的目的，这称之为光电效应（）
141.由于荧光物质具有直接吸收X射线而发出可见光的特点，从而达到增感的目的，这称之为趋光效应（）
142.投射到胶片单位面积上的射线辐照量是随时间按指数变化的与强度成反比的量（） 143.投射到胶片单位面积上的射线辐照量是射线辐照强度和时间的乘积（） 144.由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因，在底片上显示缺陷的边缘轮廓可能发生缺乏完整的清晰度，这个由于几何原因引起的不清晰度称为几何模糊度（）
145.由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因，在底片上显示缺陷的边缘轮廓可能发生缺乏完整的清晰度，这个由于几何原因引起的不清晰度称为图像投影模糊（）
146.把钴59放入核反应堆中，它捕获了一个电子后变成钴60（） 147.把钴59放入核反应堆中，它捕获了一个质子后变成钴60（） 148.把钴59放入核反应堆中，它捕获了一个离子后变成钴60（） 149.把钴59放入核反应堆中，它捕获了一个中子后变成钴60（）
150.为了提高曝光的经济效果，采用快速胶片代替慢速胶片，其后果是降低了图像分辨能力（）
151.射源尺寸、试件厚度和射源到试件的距离确定后，也就确定了射线底片的黑度（） 152.射源尺寸、试件厚度和射源到试件的距离确定后，也就确定了胶片的实际尺寸（） 153.射源尺寸、试件厚度和射源到试件的距离确定后，也就确定了底片上的不清晰度（）
154.射源尺寸、试件厚度和射源到试件的距离确定后，也就确定了射线底片上的对比度（） 155.10Ci的钴60源衰减到2.5Ci，大约需要10.6年（） 156.10Ci的钴60源衰减到2.5Ci，大约需要21.2年（）
157.计算连续X射线谱的最短波长，一般用的计算公式是：λ0=V/12.4 式中：λ0-最短波长（）；V-KV（）
158.计算连续X射线谱的最短波长，一般用的计算公式是：λ0=V/1240 式中：λ0-最短波长（）；V-KV（）
159.计算连续X射线谱的最短波长，一般用的计算公式是：λ0=12.4/V 式中：λ0-最短波长（）；V-KV（）
160.计算连续X射线谱的最短波长，一般用的计算公式是：λ0=12400/V 式中：λ0-最短波长（）；V-KV（）
161.γ射线安全距离的计算公式是：R=(mt/60) 式中：R-离射源的距离（米）；t-照射时间（小时）；m-射源强度（毫克镭当量）（）
162.γ射线安全距离的计算公式是：R=(60m/t) 式中：R-离射源的距离（米）；t-照射时间（小时）；m-射源强度（毫克镭当量）（）
163.γ射线安全距离的计算公式是：R=(60t/m) 式中：R-离射源的距离（米）；t-照射时间（小时）；m-射源强度（毫克镭当量）（）
164.γ射线安全距离的计算公式是：R=(60/mt) 式中：R-离射源的距离（米）；t-照射时间（小时）；m-射源强度（毫克镭当量）（）
165.几何不清晰度的数学表达式为：Ug=f1b/d 式中：Ug-几何不清晰度；f1-物体表面到射线源的距离；b-物体表面到胶片的距离；d-焦点大小（）
166.几何不清晰度的数学表达式为：Ug=f1d/b 式中：Ug-几何不清晰度；f1-物体表面到射线源的距离；b-物体表面到胶片的距离；d-焦点大小（）
167.几何不清晰度的数学表达式为：Ug=db/f1 式中：Ug-几何不清晰度；f1-物体表面到射线源的距离；b-物体表面到胶片的距离；d-焦点大小（）
168.几何不清晰度的数学表达式为：Ug=f1/db 式中：Ug-几何不清晰度；f1-物体表面到射线源的距离；b-物体表面到胶片的距离；d-焦点大小（） 169.1Ci=3.7x10Bq（）
-10
1/21/21/21/2
170.1居里=3.7x10贝可（）
-10
171.微波辐射、红外辐射属于非电离辐射（） 172.微波辐射、红外辐射属于电离辐射（） 173.X射线属于非电离辐射（） 174.X射线属于间接电离辐射（） 175.γ射线属于间接电离辐射（）
176.γ射线属于非电离辐射（） 177.中子射线属于间接电离辐射（） 178.中子射线属于非电离辐射（） 179.β射线属于直接电离辐射（） 180.β射线属于间接电离辐射（） 181.α射线属于直接电离辐射（） 182.α射线属于间接电离辐射（） 183.描述放射性衰变规律的数学表达式为：N=N0e
-λt
，式中N为经过时间t后尚未衰变的原
子数目，N0为t=o时的原子数目，λ为衰变常数（）
184.描述放射性衰变规律的数学表达式为：N=N0e，式中N为经过时间t后尚未衰变的原子数目，N0为t=o时的原子数目，λ为衰变常数（） 185.描述放射性衰变规律的数学表达式为：N=N0e
-2λtλt
，式中N为经过时间t后尚未衰变的原
子数目，N0为t=o时的原子数目，λ为衰变常数（） 186.描述放射性衰变规律的数学表达式为：N=N0e
2λt
，式中N为经过时间t后尚未衰变的原
子数目，N0为t=o时的原子数目，λ为衰变常数（） 187.X、γ射线都属于电磁波，因而具有波动性和粒子性（）
188.任何γ放射性物质，在距离其1厘米处的照射率为8.4R/h时，其放射性强度即相当于1mg镭当量（）
189.对于β射线，其剂量当量D中的线质系数Q值为1（） 190.对于γ射线，其剂量当量D中的线质系数Q值为1（） 191.对于X射线，其剂量当量D中的线质系数Q值为1（） 192.对于α射线，其剂量当量D中的线质系数Q值为10（） 193.对于快中子射线，其剂量当量D中的线质系数Q值为10（） 194.对于β射线，其剂量当量D中的线质系数Q值为10（） 195.对于γ射线，其剂量当量D中的线质系数Q值为10（） 196.对于X射线，其剂量当量D中的线质系数Q值为10（） 197.对于α射线，其剂量当量D中的线质系数Q值为1（） 198.对于快中子射线，其剂量当量D中的线质系数Q值为1（）
199.放射性物质每秒发生3.7x10次原子衰变时的放射性活度就是1居里（）
10
200.放射性物质每秒发生3.7x10次原子衰变时的放射性比活度就是1居里（）
10
201.1居里（Ci）相当于1克镭每秒的原子衰变数（） 202.1贝可（Bq）是指每秒钟有原子衰变一次的放射性活度（）
203.制造低压X射线管窗口的材料一般是铝() 204.制造低压X射线管窗口的材料一般是铜() 205.X射线管阳极罩的作用是吸收一次电子()
206.在相同的管电压和管电流情况下,焦点尺寸越大,其焦点温度越高（） 207.显影液呈碱性，定影液呈酸性（）
208.显影液长期暴露在空气中时容易氧化而导致显影液浓度降低（）
209.与射线照相法相比，荧光屏观察法的优点是检测速度快，可即时判别，但灵敏度较低，难以将缺陷永久记录保存（）
210.在制作胶片特性曲线时，显影时间延长，会使胶片特性曲线形状变陡，且在坐标上的位置左移（）
211.胶片成象的颗粒性会随着射线能量的提高而变好（） 212.铅增感屏除有增感作用外，还有减少散射线的作用（）
213.对Χ射线，增感系数随射线能量的增高而降低，对γ射线来说也是这样，例如，Co的增感系数比
192
60
Ir小（）
214.通常认为黑度是决定射线照相灵敏度的最主要因素（） 215.射线照相主因对比度与入射线的强度能谱有关，与能谱无关（） 216.用增大焦距的方法可减小射线照相固有不清晰度（）
217.利用阴极侧射线照相所得到的底片几何不清晰度比阳极侧小（）
218.像质计灵敏度1.8%，就意味着尺寸大于透照厚度1.8%的缺陷均可被检出（） 219.射线透照方向的选择，应尽可能使射线与缺陷垂直（）
220.如怀疑背散射线影响清晰度，可在胶片背后放一铅字来验证背散射线的存在（） 221.对某一曝光曲线的使用，应按照与曝光曲线相同的条件实施，包括使用同一类型的胶片和相同的Χ射线机（）
222.增大透照厚度宽容度最常用的办法是适当降低射线能量（）
223.射线透过有焊冠的焊缝后到达胶片上的散射比，大于透过厚度与焊缝相同的平板后到达胶片上的散射比（）
224.如果胶片的γ值小,底片上缺陷图像的对比度就低() 225.散射线对穿透射线的比率大时,底片上缺陷图像的对比度较差() 226.像质计灵敏度与缺陷探测灵敏度不是一回事() 227.像质计灵敏度等于缺陷探测灵敏度()
228.用像质指数表示的灵敏度称为像质计的相对灵敏度() 229.底片上缺陷的黑度大小要作为合格与否的依据()
230.选用高的管电压可以提高底片对比度，从而提高射线检验灵敏度（） 231.选用焦距越大越好（）
232.较低能量（波长较长）的射线可在射线底片上得到较高的工件对比度（） 233.使用γ曝光曲线时，首先应知道在给定时期射线源的活度（）
234.如果已知等效系数，用X射线曝光曲线来代替γ射线曝光曲线，也能够求出曝光参数（）
235.在底片上观察透度计金属丝时，应先从细丝端开始向粗丝方向观察（） 236.在焊缝上摆放线条型像质计时，细线端应接近射线透照场边缘方向（）
237.携带式X光机通常采用自整流式的半波整流，因而产生X射线的利用率比较高（） 238.Χ射线机操作时高压升不上和高压跳闸是一回事（） 239.X光管阳极靶材料用钨主要是因为其熔点低（） 240.焊缝的焊冠越高，缺陷的检出就越容易（）
241.在允许的能量范围内，为提高底片对比度，应尽可能选用能量较高的射线（） 242.如果焊缝的焊冠较高或者厚度差较大，为使焊缝及其热影响区的黑度均在规定的范围内，也可适当提高射线能量()
243.壁厚为16毫米的压力容器采用钴60进行射线检验是适合的（） 244.胶片的粒度是影响小缺陷可见性的重要因素() 245.荧光增感屏常常用于锅炉压力容器焊缝的射线检验（）
246.当射源侧无法放置像质计时，也可将像质计放置在胶片侧来进行射线照相，其效果是一样的（）
247.铅增感屏上的深度划伤在射线底片上呈白色条痕（） 248.荧光增感屏上的深度划伤在射线底片上呈黑色条痕（） 249.识别界限对比度的值越小，发现小缺陷的能力越差()
250.为了获得高衬度和高清晰度的射线图像，在选择X射线机时，焦点的有效面积应尽可能呈圆形（）
251.为了获得高衬度和高清晰度的射线图像，在选择X射线机时，焦点的有效面积应尽可能呈方形（）
252.当设计低压X射线管时，为了考虑到滤波、效率、散热等因素，X射线管的窗口一般采用铍制成()
253.采用中子照相法时，其曝光方法是利用铅箔+X射线胶片曝光（）
254.一般采用钴60照射钢材时，适用的检查厚度范围在50毫米以内或其当量厚度（） 255.钴60的半衰期为5.3年，如该放射源已存放三年，则透照时的曝光时间应增加约57%（）