644.一个射线工作者怀疑自己处于高辐射区域，验证的最有效方法是看剂量笔上的读数是否在增加。（）
645.在分别含有气孔,钨粒和夹渣的钢焊缝X射线底片上,比它们周围其他地方看起来较黑的是钨粒()
646.在分别含有气孔,钨粒和夹渣的钢焊缝X射线底片上,比它们周围其他地方看起来较亮的是钨粒()
647.在分别含有钨粒和夹渣的钢焊缝X射线底片上,比它们周围其他地方看起来较黑的是夹渣()
648.在分别含有钨粒和夹渣的钢焊缝X射线底片上,比它们周围其他地方看起来较亮的是夹渣()
649.在分别含有气孔和钨粒的钢焊缝X射线底片上,比它们周围其他地方看起来较黑的是气孔()
650.在分别含有气孔和钨粒的钢焊缝X射线底片上,比它们周围其他地方看起来较亮的是气孔()
651.如果胶片的γ值大时,底片上缺陷图像的对比度就高() 652.如果胶片的γ值小时,底片上缺陷图像的对比度就高() 653.散射线对穿透射线的比率小时,底片上缺陷图像的对比度较高() 654.散射线对穿透射线的比率大时,底片上缺陷图像的对比度较高()
655.要使底片的缺陷图像清晰,X射线管的焦点要小,被检物与焦点之间的距离要长,被检物与胶片的距离要短()
656.要使底片的缺陷图像清晰,X射线管的焦点要大,被检物与焦点之间的距离要短,被检物与胶片的距离要远()
657.为检查背散射,可以在装入底片的暗盒朝向投射射线的正面贴附一个\铅字,随同胶片一起曝光,观察该铅字在胶片上的影像来判断()
658.为检查背散射,可以在装入底片的暗盒朝向投射射线的背面贴附一个\铅字,随同胶片一起曝光,观察该铅字在胶片上的影像来判断()
659.在室外,野外进行放射工作时应注意划出安全区域和设置辐射危险标志,必要时还应设专人警戒()
660.像质计灵敏度与缺陷探测灵敏度是一回事() 661.像质计灵敏度不等于缺陷探测灵敏度()
662.用像质指数表示的灵敏度称为像质计的绝对灵敏度()
663.射线束在透照区端部斜向最大穿透厚度与该处实际厚度的比值称为透照厚度比K值()
664.控制透照厚度比K值的主要目的是保证底片内的黑度在规定范围内变化() 665.底片上缺陷的黑度大小不作为合格与否的依据()
666.像质计是用来检查透照技术和胶片处理质量的()
667.用像质计检查透照技术和胶片处理质量时,衡量该质量的数值是像质指数,对于金属丝型像质计,它等于底片上能识别出的最细金属丝的线编号() 668.射线检验灵敏度包含了底片清晰度和对比度两个因素（）
669.选用低的管电压可以提高底片对比度，从而提高射线检验灵敏度（） 670.选用焦距越小越好（）
671.较高能量（波长短）的射线可在射线底片上得到较高的工件对比度（） 672.“胶片衬度”和“工件对比度”都与工件厚度变化引起的黑度差有关（） 673.通过同一工件相邻部位后的射线强度差别越大，则工件对比度越大（） 674.当射线穿过铅增感屏时，能发生光电效应和康普顿效应，这就是它起增感作用的原因（）
675.在管电压低于150千伏时，才使用铅增感屏（） 676.像质计（透度计）的主要用途是确定缺陷是否合格（）
677.某一材料的等效系数乘以它的实际厚度，就等效于标准材料厚度（） 678.在管电压低于100千伏时，金属增感屏几乎没有什么增感作用（） 679.从胶片放入定影液到胶片乳黄色消失的时间叫做通透时间（） 680.从胶片放入定影液到胶片乳黄色消失的时间叫做定影时间（） 681.在显影操作过程中，显影液的温度应控制在室温（） 682.在显影操作过程中，显影液的温度应控制在18±2℃（） 683.在显影操作过程中，显影液的温度应控制在20±2℃（） 684.在显影操作过程中，显影液的温度应控制在24±2℃（）
685.手工冲洗胶片时，如果没有停影液可供使用，则可以将胶片直接放入定影液（） 686.手工冲洗胶片时，如果没有停影液可供使用，则可以将胶片显影时间缩短一分钟后直接放入定影液（）
687.手工冲洗胶片时，如果没有停影液可供使用，则可以将胶片先在活水中至少冲洗2分钟，然后放入定影液（）
688.防止底片产生水斑的方法是将湿底片快速干燥（）
689.防止底片产生水斑的方法是先将湿底片在润湿液中浸一、两分钟（） 690.防止底片产生水斑的方法是使用新鲜的定影液（） 691.防止底片产生水斑的方法是延长水洗时间（） 692.｜△D｜≥｜△Dmin｜时，才能发现缺陷（）
693.未焊透和未熔合的主要区别是产生原因不同，因此缺陷的形状和产生部位也不同（）
694.在底片上观察透度计金属丝时，应先从粗丝端开始向细丝端方向观察（） 695.在焊缝上摆放线条型像质计时，粗线端应接近射线透照场边缘方向（） 696.铅增感屏的剥落部位，在底片上的黑度大（）
697.射线照像质量等级是根据射线源(能量),胶片和增感屏的不同组合来划分的() 698.射线照像质量等级是根据底片的黑度、清晰度和对比度的不同来划分的（） 699.携带式X光机通常采用自整流式的半波整流，因而产生X射线的利用率比较低() 700.X光管阳极靶材料用钨的重要原因之一是其熔点高() 701.γ射线源的储罐采用贫化铀材料主要是减轻重量() 702.X光管加热电流的微小变化，就会引起阳极电流较大的变化() 703.金属增感屏的金属箔是由铅、钢、铜、钽或钨等金属分别轧制而成的() 704.金属增感屏的结构是金属箔及与其紧密胶粘在一起的衬纸组成的()
705.金属增感屏（金属箔或衬纸）的表面应光滑清洁和平整，不应有肉眼可辨的孔洞、划痕、擦伤、皱纹、油污、氧化等 ()
706.金属增感屏的表面质量可用肉眼在紫外光下进行检查（）
707.不锈钢的晶粒较粗大，在一定的射线透照条件下，射线底片上可能产生衍射斑纹() 708.国产天津工业III型胶片与Agfa D7胶片性能相似，均为中速胶片() 709.焊缝的焊冠越高，缺陷的检出就越困难()
710.壁厚为16毫米的压力容器不适合采用钴60进行射线检验()
711.如果焊缝的加强高较高或者厚度差较大，为使焊缝及其热影响区的黑度均在规定的范围内，可以适当降低射线能量 （）
712.胶片的粒度是影响小缺陷可见性的唯一因素（）
713.一般情况下应尽量避免使用荧光增感屏，除非出于缩短曝光时间的需要，并且必须保证达到满足规范要求的底片质量，而且还应取得合约双方认可()
714.当射源侧无法放置像质计时，也可将像质计放置在胶片侧，但应通过对比试验，使实际像质指数达到规定的要求()
715.当采用像质计置放在胶片侧时，应在胶片上放置识别铅字母，例如“F”，以示该底片上像质计影像与放置在射源侧情况的区别()
716.对于环焊缝，在条件许可的情况下，最适宜的做法是采用内照中心法进行透照() 717.单层卷焊压力容器的环焊缝承受轴向应力，纵焊缝承受环向（切向）应力，在承压状态下，轴向应力大于环向应力，因此对环焊缝的验收标准应高于纵焊缝（） 718.为了保证焊接接头的强度，焊缝的加强高应尽量高一些（）
719.铅增感屏上的深度划伤在射线底片上呈黑色条痕() 720.荧光增感屏上的深度划伤在射线底片上呈白色条痕() 721.识别界限对比度的值越大，发现小缺陷的能力越强()
722.为了获得高衬度和高清晰度的射线图像，在选择X射线机时，焦点的有效面积应尽可能小()
723.当设计低压X射线管时，为了考虑到滤波、效率、散热等因素，X射线管的窗口一般采用铝合金制成（）
724.采用中子照相法时，其曝光方法是直接使用X射线胶片曝光
725.采用中子照相法时，其曝光方法是利用镉屏和钇屏受中子激发后再使用X射线胶片曝光()
726.一般采用钴60照射钢材时，适用的检查厚度范围在200毫米以内或其当量厚度() 727.一般采用钴60照射钢材时，适用的检查厚度范围在100毫米以内或其当量厚度（） 728.钴60的半衰期为5.3年，如该放射源已存放三年，则透照时的曝光时间应增加约37%（）
729.钴60的半衰期为5.3年，如该放射源已存放三年，则透照时的曝光时间应增加约49%() 730.铱192的半衰期为75天，若目前检验工件的最佳曝光时间为20分钟，则经过150天后，在相同的摄影条件下要达到同样的黑度，曝光时间需要60分钟（）
731.假定管电压和曝光时间一定，在焦距500毫米和管电流5毫安的情况下可得到曝光适宜的底片，若把焦距增加到1000毫米，则应采用30毫安的管电流才能得到相同的曝光量（）
732.假定管电压和曝光时间一定，在焦距500毫米和管电流5毫安的情况下可得到曝光适宜的底片，若把焦距增加到1000毫米，则应采用50毫安的管电流才能得到相同的曝光量（）
733.已知铱192源的放射性强度为10居里，在焦距400毫米时可得到正确的曝光量，若其他条件不变，把焦距增加到800毫米，则要求更换放射性强度为20居里的新源（） 734.已知铱192源的放射性强度为10居里，在焦距400毫米时可得到正确的曝光量，若其他条件不变，把焦距增加到800毫米，则要求更换放射性强度为30居里的新源（） 735.对于管电压和管电流都不变的某一曝光量，当焦距从1200毫米减少到800毫米时，其曝光时间将从原来的10分钟缩短到7分钟（）
736.已知铱192源在距离1米时的曝光时间为60分钟，如果把曝光时间缩短为15分钟，则需要将距离缩短到0.5米()
737.假设正确的曝光量为20毫安4分钟，如果管电流改为10毫安，则曝光时间就应该是2分钟（）
738.假设正确的曝光量为20毫安4分钟，如果管电流改为10毫安，则曝光时间就应该是4分钟（）
739.在胶片特性曲线上连接给定两点密度的直线的斜率称为平均梯度() 740.根据胶片特性曲线上的斜率可以判别胶片的感光度（）
741.通过尽量提高X射线管的管电压，可以起到降低底片衬度的作用() 742.通过尽量提高X射线管的管电流，可以起到降低底片衬度的作用（） 743.利用分辨率测定法可以测定X射线管的焦点() 744.利用针孔成像测定法可以测定X射线管的焦点()
745.在X射线机中，一般通过调节阴极负载电阻来控制X射线管的电流（） 746.在X射线机中，一般通过调节灯丝电流来控制X射线管的电流()
747.用荧光增感屏进行X射线照相时，曝光时间可以显著缩短，但底片的像质较差() 748.在管电压不太高时，用铅箔增感屏进行X射线照相时，主要的目的是为了减少散射线的影响()
749.铅箔增感屏比荧光增感屏的增感作用大（） 750.只要不超出几何模糊度允许值，应使焦距尽可能短() 751.若仅从高清晰度的需要出发，焦距应尽可能短（）
752.在X射线管窗口处加装滤光板可以增强二次辐射的X射线（）
753.在X射线管窗口处加装滤光板可以滤掉软辐射线，得到更均匀的X射线束() 754.X射线管的管电压值影响X射线束的能量和强度()
755.如果提高管电流，而管电压不变，射线束的穿透力没有变化()
756.铅的密度是11.4，钢的密度是7.8，铅的密度约是钢的1.5倍，用220KV的X射线进行照相时，2.5mm厚的铅吸收相当于30mm厚钢的吸收，因此铅的吸收是钢的8倍（） 757.铅的密度是11.4，钢的密度是7.8，铅的密度约是钢的1.5倍，用220KV的X射线进行照相时，2.5mm厚的铅吸收相当于30mm厚钢的吸收，因此铅的吸收是钢的12倍() 758.使用铅或铅化锑高原子序数增感屏的目的是为了减小散射线和缩短曝光时间() 759.关于底片清晰度，它与物体至胶片的距离成正比，与焦点大小成反比（） 760.关于底片清晰度，它与焦点大小成正比，与射线源至物体的距离成反比() 761.粒度大的X射线胶片其感光速度比粒度小的胶片快() 762.粒度大的X射线胶片其照相的清晰度比粒度小的胶片好（）
763.强度一定的两种同位素源，若其放射性比活度值不同，则对放射性比活度值较高的源来说，其半衰期比放射性比活度值低的源短（）
764.强度一定的两种同位素源，若其放射性比活度值不同，则对放射性比活度值较高的源来说，其外形尺寸比放射性比活度值低的源小()
765.强度一定的两种同位素源，若其放射性比活度值不同，则对放射性比活度值较高的源来说，其外形尺寸比放射性比活度值低的源大（）
766.提高荧光屏观察法（即时射线成像）灵敏度的主要困难是结果无法再现和周期性地置换荧光屏难以实现（）
767.提高荧光屏观察法（即时射线成像）灵敏度的主要困难是受到亮度和荧光屏材料晶粒尺寸的限制()
768.表达式：（毫安x时间）/距离平方，称之为胶片的梯度（）
769.在X射线管和胶片距离一半处放置一块用高密度材料制成并钻有小孔的板，这是用来测量中心射线的强度（）
770.在X射线管和胶片距离一半处放置一块用高密度材料制成并钻有小孔的板，这是用来过滤散射线的（）
771.在试样周围放置铅板的目的是防止照相时试样移位（） 772.在试样周围放置铅板的目的是增加被检测对象的对比度（）
773.每一台X射线机必须制作专用的曝光曲线，这是因为对于不同的仪器，即使高压和毫安值相同，而所产生的X射线束的强度和波长仍然有区别() 774.X射线照相时使用的电压值越高，其衬度越高（） 775.胶片的增感因子在40-400KV之间的变化情况是不规则的()
776.如果荧光增感屏的种类一定，则感光速度主要取决于荧光物质的颗粒度，颗粒越大，感光速度越快()
777.在胶片背面放一个“B”铅字，曝光后冲洗出来的底片上出现该铅字的影像，说明对背散射的防护过度（）
778.工件内部如有一面积型缺陷，当该缺陷面与射线投照方向成45°夹角时，在底片上的影像最清晰（）
779.工件内部如有一面积型缺陷，当该缺陷面与射线投照方向成180°夹角时，在底片上的影像最清晰()
780.把经显影后的胶片放入定影液中，胶片从原色变到略有透明的时间称为定影时间（） 781.220KV的X射线对钢和铜进行射线照相，两者的厚度当量系数为1:1.4，若以12mm的铜板进行射线照相时的曝光条件对钢进行射线照相，则该钢板的厚度应为6mm（） 782.当管电压超过400KV时，如果采用铅防护会发生其他有害因素，故应采用含钡水泥混凝土作防护材料()