OCH CH C 3 CHOCH CH C 3CH(b)(a)
答: 化合物(a)中有三个共轭双键,化合物(b)只要两个共轭双键;所以,化合物(a)的最
大紫外吸收波长大于化合物(b),所以,296nm对应化合物(a),228nm对应化合物(b)。 16 试计算下列化合物的最大吸收紫外吸收光谱λmax。
OCH2CH2(a)(b)OOHCH3O(c)CH3H3CH3COCH3(d)
解:由Woodward规则计算如下:
(a) 异环二烯母体基数 214 (c) 母体基数 215 环残基32 10 β-OCH3 30 计算值 λmax224nm β-烷基 12 (b) 母体基数 215 计算值 λmax257nm α-OH 35 (d) 母体基数 215 β-烷基32 24 β-烷基32 24 计算值 λmax274nm 计算值 λmax239nm
17 如何用紫外光谱判断下列异构体:
CH CH CH CH 2CH CH CH CH(a)2(b) 2CH CH2CH CHC2H5(c)C2H5(d)
解: 因为(d)有3个共轭双键,而(c)只有2个个共轭双键,所以,(d)的紫外吸收波长一
定比(c)长;同样,(a)的紫外吸收波长一定比(b)长。但是,(c) (d) 的紫外吸收波长一定比(a) (b)长,所以,上述四化合物的紫外吸收波长顺序为(d)>(c)>(a)>(b)。
18 某化合物的分子式为C5H8O, 其红外光谱有如下主要吸收带;3020,2900,1690和
1620 cm-1 ;其紫外吸收光谱λmax=227nm, ε=104。已知该化合物不是醛,试指出它可能的结构。
26
解:与第5章第8题重复!
答: 先根据分子式计算该化合物的不饱和度U: U={(2n+2)+ t-m}/2 ={(235+2)+ 0-8}/2 =2 3020 cm-1 ν=C-H 不饱和的化合物,含有双键,
2900 cm
-1 -1
νC-H 饱和。
1690 cmνC=O 共轭的羰基,占有一个不饱和度,
1620 cm-1 νC=C 共轭双键,占有一个不饱和度,
从ε=10可以知道, 此跃迁是由π–π*产生的, 所以可能有如下结构:
CH2=CH-CO-CH2-CH3 或者 CH3-CH=CH-CO-CH3 用Woodward规则计算,
前者:母体基数 215nm 后者:母体基数 215nm α-烷基取代30 α-烷基取代31 12 计算值 215nm 计算值 227nm 所以该化合物为CH3-CH=CH-CO-CH3。
19 有一晶体物质的红外吸收特征是:在3330 cm-1(3.0μm)和1600 cm-1(6.25μm)处有
锐陡带,在2300 cm-1(4.35μm)或3600 cm-1(2.78μm)处没有吸收带。问下列两化合物哪一个的结构和此红外数据吻合?
a:N C NH2+ CH CH24
OHb:HN CH NH C CH O220 从以下红外数据来鉴定特定的二甲苯: 化合物A:吸收带在767和692 cm-1处, 化合物B:吸收带在792 cm-1处,
-1
化合物C:吸收带在742 cm处。
21 某化合物的分子式为C7H5NO,其红外光谱如11.28图所示,试推断其结构。
T%2.5 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 . . . . . . . . . . . . . ?
.3100 80.. 60. 40. 20100151014521385161022427516862260液体薄膜
03500 2400 2000 1800 1700 1600 1500 1400 1300 1200 1100 1000 900 800 700cm. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .-1
图11.28习题21的红外光谱图
解:先根据分子式计算该化合物的不饱和度U: U={(2n+2)+ t-m}/2 ={(237+2)+ 1-5}/2 =6
27
见《习题p80》
22 某化合物的分子式为C8H7N,熔点29.5℃,其红外光谱如11.29图所示,试推断其结
构。
T%2.5 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16. . . . . . . . . . . . . ?100. 80.303029201450 60.150811771607 40.2217 20.液体薄膜. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .817
03500 2400 2000 1800 1700 1600 1500 1400 1300 1200 1100 1000 900 800 700cm-1
图11.29习题22的红外光谱图
见《习题p81》
23 某化合物的分子式为C7H10O,经红外光谱测定有>C=O, -CH3, -CH2-及>C=C<。紫外光谱测定λEtOHmax?257nm,试推断其结构。
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第12章
1 试从仪器的工作原理、仪器结构和应用三方面对波长色散型和能量色散型X荧光光谱仪进行比较。
答: 波长色散型X荧光光谱仪是基于晶体的衍射,将不同波长的X射
线分别进行检测。晶体与分光系统是仪器的核心,因此,仪器比较复杂;为消除高次X射线衍射干扰,仪器备有脉冲高度分析器。适合于实验室进行分析测定,可以检测原子序数大于4的元素。
能量色散型X荧光光谱仪是基于检测器的脉冲高度的大小进行甄
别,仪器的核心是多道脉冲分析器。仪器结构比较简单,采用γ-放射源
作为激发源,仪器可小型化,适宜于野外检测,可进行多元素同时测定,但轻元素的Kα不能分开,彼此有干扰。
2 从仪器结构比较多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪的异同。 答: 多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪均基于晶体衍射原理,
多晶X射线衍的特点是各种晶面的随机分布,因此只需要测角仪与样
品检测器为θ~2θ联动,就可检测到晶体参数;而四圆单晶X射线衍射仪则需要样品台四园联动联动,调整单晶的各个晶面产生衍射,检测的目的不仅仅是获得晶体的各种晶体参数,主要是通过晶体衍射测定分子电子云密度分布,进而推断出分子的结构。
3 计算激发下列谱线所需的X射线管的最低管压和工作管压,括弧内的数
据为该谱系的吸收限波长。
(1) Ca的K谱系(0.3064nm);(2)As的L? 谱线(0.9370nm);(3)U的L?
谱线(0.0592nm);(4)Mg的K谱系(0.0496nm)。 解: 最低管压所产生的连续X射线的波长应小于谱系的吸收限,
所以,最低管压为 V = hc/λ= 6.626310-3436.241310183331010/λ (1) Ca的K谱系的最低管压为
V = hc/λ = 6.62631036.24131033310/0.3064310 = 4.049kV
工作管压为 33 4.049kV = 12.15 kV 其它省略。
-34
18
10
-7
4 以LiF(200)作为分光晶体,检测器从2?角10°扫描到145°,可测定的
X射线光谱波长范围为多少?镁是否能被检测(镁的Kα 9.889?)? 解: LiF(200)的面间距的2d为0.4027,
∴ λ10 = 2dSin10°/2 = 0.40273Sin5°=0.035nm
λ145 = 2dSin145°/2 = 0.40273Sin72.5°=0.383nm
镁的Kα 9.889?大于可测定波长范围(0.383nm~0.035nm),所以不能
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被检测。
5 欲测定SiK?7.216A°,应选择什么分光晶体?
解:∵λ/2=︱dsinθ︱≤1,即λ≤2d λ=7.216?=0.712nm,即2d≥0.712。
查表12.1可知宜采用PET(002)或EDDT(020) 分光晶体。
6 比较几种X射线检测器的工作原理和应用范围。
答: 正比计数器是基于气体电离形成脉冲放电,脉冲高度正比于入射的
X射线的能量,适合于监测波长大于0.2nm的X射线。
闪烁计数器是NaI(Tl)晶体吸收X射线产生可见光子(闪烁)。光子数通过光电倍增管进行监测。光电倍增管输出的脉冲高度正比入射的X射线的能量, 适合于检测波长小于0.2nmX射线。
半导体计数器是基于形成电子-空穴对形成电脉冲。它的最大优点能量分辨率好。前两者适合波长色散型荧光X射线仪。半导体计数器适合于能量色散型荧光X射线仪。
7 X射线检测的测量单位是什么?如何计算出峰值测量的标准差? 答:X射线的强度通常用计数率(单位时间入射X射线光子的数量) 来表示。常用的检测器有:正比计数器、闪烁计数器和半导体计数器。
脉冲高度分析器将计数器的脉冲进一步放大,并进行计数率测定,从而计算出峰值测量的标准差。
8 用CuK?1.542 ?为光源,多晶衍射法测定其晶体物质的的衍射峰的2?
角分别为 31.69°,45.59°,56.45°,计算对应于该晶体的面间距。 解:dρ=λ/2sinθ
∴ d1=0.1542/2sin15.85? =0.077130.2731=0.021 nm
d2=0.1542/2sin22.80? =0.077130.3875=0.030 nm d3=0.1542/2sin28.23? =0.077130.4730=0.036 nm
9 如何利用粉末衍射PDF卡片进行定性相分拆?
答: 第一步获得粉末衍射图谱,计算出各衍射峰的相对强度I和晶体的面
间距d, 编成I-d表。按“强、次强”搭配,检索PDF卡片。应考虑I相对强度的波动和d的测量精度的影响。成功地检索出PDF后,将实验数据和卡片的标准数据进行比较,对物相进行确定。
对多种晶体物质组成的样品,定性按“强-次强”搭配尝试先找出一物相,然后,将该物相的I-d数据标记出来,对剩余的衍射线重新搭配“强、次强”。进行检索。直到所有的衍射谱线得到解释。
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