创维可靠性测试标准QW-QA-024(A3)
深圳创维-RGB电子有限公司
创维移动通信技术（深圳）有限公司
编号：SMC/QW-QA-024
可靠性测试标准
第10页 共17页 第A版
第3次修改
500转，即手机跌落1000次；每旋转50转，需要检查一次试验样机的外观和基本功能， 按外观结构检查→基本功能测试→RF测试→开壳检查顺序进行。每跌落200次，进行外观检查，有部件松脱，可复原装回再进行下一次试验；每跌落200次进行基本功能测试，记录外观结构损伤地方和功能异常项目。试验结束进行RF测试。出货标准为200次，200-500次为参考项。
判定标准：功能无不可复原的故障，结构无不可复原的破坏，RF性能正常。
4.2.3.6 包装跌落测试
试验目的：验证整箱跌落对手机的影响 试验设备: 跌落测试机 试验样品: 1 carton 试验内容：
1） 跌落面为水泥地面
2） 跌落顺序：1个角—3条边—6个面 3） 跌落高度：
重量（KG）0—10 10—15 15—20 20—25 25以上
跌落高度（CM）
包装箱 100 85 60 45 30
手机包装盒
90 75 60 45 30
礼品包装盒
120 100 80 60 40
判定标准：测试后手机及配件的基本功能正常，外观及结构不应有任何的磨损、损
坏或变形。
4.2.4 寿命试验 4.2.4.1 翻盖试验
试验目的: 验证机壳材料、FPC、转轴的寿命，以及翻盖组件结构的配合寿命
试验设备: 翻盖寿命测试机或手工 试验样品: 4 sets
试验内容:手机在开机状态下，以25-35次/分的速度机械或手工翻动翻盖，要求翻盖
达到最大活动位置，来回为一次；每500次后对手机外观、功能全检一次；翻盖总次数为80000次。出货标准为5万次。
判定标准: 翻盖寿命至少为8万次；外观和结构正常，未有明显的裂纹/破损；无明
显异常响声；允许打开时有阻滞感，打开后整个翻盖组件可前后左右轻微晃动；必须通过基本功能测试