创维可靠性测试标准QW-QA-024(A3)
深圳创维-RGB电子有限公司
创维移动通信技术（深圳）有限公司
编号：SMC/QW-QA-024
可靠性测试标准
第12页 共17页 第A版
第3次修改
4.2.4.6 点笔插拔试验
验证目的: 检验点笔的使用寿命
试验设备: 拔插寿命测试机或手工 试验样品: 2 sets
试验内容: 1、对手写笔与手机进行外观检查并进行配合检查
2、将手写笔插入手机壁管再拔出，插拔为一次；速率：12次/分钟，
试验次数：20000次。.
判定标准: 允许机壳插入位掉漆、插入壁管内可轻微松动，能卡住。不允许机壳掉漆、
手写笔内管与外管变形、漏润滑油等不良现象。
4.2.4.7 耳机插拔试验
验证目的: 检验手机长期插拔耳机对相关器件的影响。
试验设备: 拔插寿命测试机或手工 试验样品: 2 sets
试验内容: 将耳机垂直方向插入耳机孔之后，再以垂直方向拔出，如此反复插拔。按
外观结构检查→耳机话音通信检查顺序进行。每100次检查其耳机发受话功能，插拔寿命至少为3000次
判定标准: 插拔寿命至少为3000次，必须通过耳机话音通信测试；外观和结构正常
4.2.4.8 耳塞拉拔试验（参考项）
验证目的: 检验耳塞外观及紧固程度
试验设备: 拉力计 试验样品: 2 sets
试验内容: 1.5Kg静拉力，拉伸1分钟；正常拉拔2千次 判定标准: 耳塞拔不出，无破损
4.2.4.9 卡座与电池插拔试验
试验目的: 检验手机长期插拔电池及SIM卡对相关器件的影响
试验设备: 手工 试验样品: 2 sets
试验内容：按正常步骤，插入SIM卡与存储卡，装上电池，然后取下电池和SIM卡与
存储卡，如此反复安装，按外观结构检查→开机功能测试顺序进行，存储卡每插拔10次作一次开机全功能检测; SIM卡插拔50次作一次开机全功能检测；前 期电池插拔100次作一次开机检测；100次后不再拔插存储卡，300次后不再拔插SIM卡,仅进行电池插拔，至1500次时每50次检查开机是否正常。电池插拔3000次。
判定标准:试验后SIM卡扣无变形松动，SIM卡触片无下陷及变形，电池推纽弹性良
好，电池触片及电池连接器无明显变形，电池无掉漆等外观不良。电池标