B. 测量阶段主要是测量过程的 绩效，即Y，在测量前要验证测量系统的 有效性，找到并确认影响Y的 关键原因。
C. 分析阶段主要是针对Y 进行原因分析，找到并验证关键原因。 D. 改进阶段主要是针对关键原因X 寻找改进措施，并验证改进措施。 20.
对于离散型数据的 测量系统分析，通常应提供至少30 件产
品，由3 个测量员对每件产品重复测量2 次，记录其合格与不合格数目。对于30 件产品的 正确选择方法应该是：（ B ） A. 依据实际生产的 不良率，选择成比例的 合格及不合格样品 B. 至少 10 件合格，至少10 件不合格，这与实际生产状态无关 C. 可以随意设定比率,因为此比率与测量系统是否合格是无关的 D. 以上都不对 21.
在钳工车间自动钻空的 过程中，取30 个钻空结果分析，其中
心位置与规定中心点在水平方向的 偏差值的 平均值为1 微米，标准差为8 微米。测量系统进行分析后发现重复性
（Repeatability）标准差为3 微米，再现性（Reproducibility） 标准差为4 微米。从精确度/过程波动的 角度来分析，可以得到结论:（ C ）
A. 本测量系统从精确度/过程波动比(R&R%)来说是完全合格的 B. 本测量系统从精确度/过程波动比(R&R%)来说是勉强合格的 C. 本测量系统从精确度/过程波动比(R&R%)来说是不合格的 D. 上述数据不能得到精确度/过程波动比(R&R%), 从而无法判断
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22. 离散型数据测量系统分析有专家评估、 、和 ，其中
不知真值（ A ）
A：循环研究／检查一致性／检查一致性 B：循环研究／检查一致性／循环研究 23.
下面列举的 工具中，哪个一般不是在项目选择时常用的 工
具：（ B）
A. 排列图（Pareto） B. 实验设计 C. QFD D. 因果矩阵 24.
在六西格玛改进DMAIC过程中，确定当前水平(基线)是
阶段的 活动要点。B a．界定 c．分析 25.
b．测量 d．控制
对于正态分布的 过程,有关Cp 、Cpk和缺陷率的 说法，正确
的 是（ D ）
A: 根据Cp不能估计缺陷率, 根据Cpk才能估计缺陷率 B: 根据Cp 和Cpk 都能估计缺陷率 C: 缺陷率与Cp 和Cpk 无关 D: 以上说法都不对 26.
一批数据的 描述性统计量计算结果显示，均值和中位数都是
100。这时，在一般情况下可以得到的 结论是( D )
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A :此分布为对称分布 B :此分布为正态分布 C :此分布为均匀分布 D :以上各结论都不能肯定 27.
对同一工序的 四台设备进行过程能力研究，得到如下数据：
设备号 均值?X? 过程波动(6σ) #1 1.495 0.004″ #2 1.502 0.006″ #3 1.500 0.012″ #4 1.498 0.012″
假定规格要求是1.500±0.01″且可得到稳定的 平均值，那么最好的 设备是 B ： a．设备# 1 c．设备# 3 28.
b．设备# 2 d．设备# 4
下列内容中，最适合对X’s进行筛选的 工具是（ B ） A:因果图， B: 因果矩阵， C: GAGE R&R， D: 流程图
29. 在某检验点，对1000 个某零件进行检验，每个零件上有10 个
缺陷机会，结果共发现16个零件不合格，合计32 个缺陷，则DPMO 为 （ B ）
A: 0.0032 B: 3200 C: 32000 D: 1600 30.
正态分布的 特征是：无论分布多分散其总几率为（ B ） A：O．5 B：1 C：O．8 D：0．2 31.
检验A 和 B 的 总体均值是否有差异时，应选择哪一个工具
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（ C ）
A : 1-Sample Z B : 1-Sample t C : 2 Sample t D : 2 Proportions 32.
一般线性模型GLM可用于Y是 数据，X是 数据（ A ） A：连续型／连续和离散 B：离散型／连续型 C：离散型／离散型 D：连续型／仅连续型 33.
DOE实验中的 32指的 是（ B ）的 实验方案 A：3因素2水平 B：2因素3水平 C：3因素3水平 D：2因素2水平 34.
光洁磁砖厂在20 天内，每天从当日生产的 磁砖中随机抽取 5
块，测量其平面度（Flatness），并求出其平均值。其平均值的 趋势图如图1 所示。粗略看来，生产是稳定的 。下面将每天5 块磁砖的 平面度数值全部直接画出，则其趋势图如图2 所示。从这两张图中可以看出生产中存在什么问题？（ C ）
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A. 生产根本不稳定。 B. 平面度指标不服从正态分布
C. 每天内的 平面度波动不大，但每天间的 平面度波动较大
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