(ISE使用流程)逻辑设计实验(4)

2018-12-20 15:12

频率,如果最开始没有选择clkfx输出,则可以跳过。

图表 22

8.点击next,点击finish,完成DCM的生成。完成后的界面如图所示。

图表 23

9.在ise 里面新建工程,将生成的dcm_test拷贝到工程目录下,并添加到工程文件中。 建完后如下图所示

16

图表 24

观看综合后的原理图方法为:

17

10.给dcm_test添加测试文件,具体过程可参考实验一,建完后修改补充测试文件如下( 这里的dcm为高电平复位):

`timescale 1ns / 1ps `define clk_cycle 15

//////////////////////////////////////////////////////////////////////////////// // Company: // Engineer:

// Create Date: 18:42:43 01/02/2010 // Design Name: dcm_test

// Module Name: E:/xilinx/project/lab2/dcm_11M/dcm_11M_tb.v // Project Name: dcm_11M // Target Device: // Tool versions: // Description:

// Verilog Test Fixture created by ISE for module: dcm_test // Dependencies: // Revision:

// Revision 0.01 - File Created // Additional Comments:

/////////////////////////////////////////////////////////////////////////////// module dcm_11M_tb_v;

// Inputs reg CLKIN_IN; reg RST_IN; // Outputs

wire CLKDV_OUT; wire CLKFX_OUT; wire CLKIN_IBUFG_OUT; wire CLK0_OUT; wire LOCKED_OUT;

// Instantiate the Unit Under Test (UUT)

18

dcm_test uut (

.CLKIN_IN(CLKIN_IN), .RST_IN(RST_IN),

.CLKDV_OUT(CLKDV_OUT), .CLKFX_OUT(CLKFX_OUT),

.CLKIN_IBUFG_OUT(CLKIN_IBUFG_OUT), .CLK0_OUT(CLK0_OUT), .LOCKED_OUT(LOCKED_OUT)

);

always #(`clk_cycle/2) CLKIN_IN=~CLKIN_IN;

initial begin

// Initialize Inputs CLKIN_IN = 0; RST_IN = 0;

// Wait 100 ns for global reset to finish #500 RST_IN = 1; #500 $stop;

end

#100 RST_IN = 0 ;

endmodule

11.添加管脚时许约束文件,先建立约束文件,然后双击creat timingconstraints—》global—》双击clock——in的period,如图所示进行配置,然后保存退出。

19

图表 25

12.调用modelsim进行联合仿真,实验结束,可对DCM设置参数进行修改不断改变波形。

图表 26

13.综合后几个常用的工具,如观察RTL级的电路结构和门级结构的原理图

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