电科《集成电路原理》期末考试试卷
一、填空题
1.(1分) 年,第一次观测到了具有放大作用的晶体管。 2
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为 、 、 。 4.(4分)光刻的工艺过程有底膜处理、涂胶、前烘、 、 、 、 和去胶。 5.(4分)MOSFET可以分为 增强型NMOS,耗尽型NMOS,增强型PMOS,耗尽型PMOS___四种基本类型。
6.(3分)影响MOSFET阈值电压的因素有: 、 以及 。
7.(2分)在CMOS反相器中,Vin,Vout分别作为PMOS和NMOS的 栅极, 和 漏极 ; VDD, 作为PMOS的源极和体端, ,GND 作为NMOS的源极和体端。
8.(2分)CMOS逻辑电路的功耗可以分为 和 。
9.(3分)下图的传输门阵列中VDD?5V,各管的阈值电压VT?1V,电路中各节点的初始电压为0,如果不考虑衬偏效应,则各输出节点的输出电压Y1= 4 V,Y2= 3 V,Y3= 3 V。
VDDY1Y2Y3
10.(6分)写出下列电路输出信号的逻辑表达式:Y1= ;Y2= ;Y3= 。
VDDCBADCDBAVDDAV1MP1MP2V2M1VDDY1Y3CBY2ABM2M3M4MN2?MN1
二、画图题:(共12分)
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1.(6分)画出由静态CMOS电路实现逻辑关系Y?ABD?CD的电路图,要求使用的MOS管最少。
2.(6分)用动态电路级联实现逻辑功能Y?ABC,画出其相应的电路图。
三、简答题:(每小题5分,共20分)
1.简单说明n阱CMOS的制作工艺流程,n阱的作用是什么?
2.场区氧化的作用是什么,采用LOCOS工艺有什么缺点,更好的隔离方法是什么?
3.简述静态CMOS电路的优点。
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4.简述动态电路的优点和存在的问题。
四、分析设计题:(共38分
1.(12分)考虑标准0.13?m CMOS工艺下NMOS管,宽长比为W/L=0.26?m/0.13?m,栅氧厚度为tox?2.6nm,室温下电子迁移率?n?220cm2/Vs,阈值电压VT=0.3V,计算VGS?1.0V、已知:?o?8.85?10?14F/cm,?ox?3.9。 VDS?0.3V和0.9V时ID的大小。
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2.(12分)如图所示,M1和M2两管串联,且VB?VG?VT?VA,请问: 1) 若都是NMOS,它们各工作在什么状态? 2) 若都是PMOS,它们各工作在什么状态?
3) 证明两管串联的等效导电因子是Keff?K1K2/(K1?K2)。
3.(14分)设计一个CMOS反相器,要求在驱动10fF外部负载电容的情况下,输出
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上升时间和下降时间都不能大于40ps,并要求最大噪声容限不小于0.55V。针对0.13?m工艺,已知:VTN?0.30V,VTP??0.28V,?n?220cm2/Vs,?p?76cm2/Vs,ln14.33=2.66,ln14=2.64。 tox?2.6nm,?o?8.85?10?14F/cm,?ox?3.9,VDD?1.2V,
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