《数字电路设计实训》实验指导书资料(2)

2018-12-29 22:16

(a)将异或门表达式转化为与非门表达式。 (b)画出逻辑电路图。 (c)测试并填表1.6.

五、实验报告

1. 按各步骤要求填表并画逻辑图。 2. 回答问题:

(1)怎样判断门电路逻辑功能是否正常?

(2)与非门一个输入接连续脉冲,其余端什么状态时允许脉冲通过?什么

状态时禁止脉冲通过? (3)异或门又称可控反向门,为什么?

实验二 组合逻辑电路(半加器全加器及逻辑运算)

一、实验目的

1. 掌握组合逻辑电路的功能测试。 2. 验证半加器和全加器的逻辑功能。 3. 学会二进制数的运算规律。

二、实验仪器及材料

器件

74LS00 二输入端四与非门 3片 74LS86 二输入端四异或门 1片 74LS54 四组输入与或非门 1片

三、预习要求

1. 预习组合逻辑电路的分析方法。

2. 预习用与非门和异或门构成的半加器、全加器的工作原理。 3. 预习二进制数的运算。

四、实验内容

实验1: 组合逻辑电路功能测试。

1213A&111G3&1342112&2G63Y1G15B10&16G4945&1G2CG51213&26Y2G7(1)用2片74LS00组成图2.1所示逻辑电路。为便于接线和检查,在图中要注明芯片编号及各引脚对应的编号。

8&211

图2.1

(2)图中A、B、C接电平开关,Y1、Y2接发光管电平显示。

(3)按表2.1要求,改变A、B、C的状态填表并写出Y1、Y2 逻辑表达式。

(4)将运算结果与实验比较。

表2.1 输入 A 0 0 0 1 1 1 1 0 B 0 0 1 1 1 0 0 1 C 0 1 1 1 0 0 1 0 Y1 输出 Y2

实验2:基于一个74LS86芯片和一个74LS00芯片的半加器设计

测试用异或门(74LS86)和与非门组成的半加器的逻辑功能。根据半加器的逻辑表达式可知,半加器Y是A、B的异或,而进位Z是A、B相与,故半加器可用一个集成异或门和二个与非门组成如图2.2。

图2.2 半加器的逻辑电路 (1)在学习机上用异或门和与门接成以上电路。A、B接电平开关S。Y、Z

接电平显示。

(2)按表2.2要求改变A、B状态,填表。

表2.2 输入端 A B 输出端 Y Z 0 0 1 0 0 1 1 1

实验3:实验2:基于三个74LS00芯片的全加器设计

测试全加器的逻辑功能

(1)写出图2.3电路的逻辑表达式。 (2)根据逻辑表达式列真值表。

(3)根据真值表画逻辑函数SiCt的卡诺图。

图2.3

Bi、Ci-1 Bi、Ci-1 Ai 0 0 0 1 1 1 10 Ai 0 0 0 1 1 1 10 0 1 0 1

Si= Ci=

(4)填写表2.3各点状态

表2.3

Ai Bi Ci-1 Y Z X1 X2 X3 Si Ci

0 0 0

0 1 0

1 0 0

1 1 0

0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 1


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