AEC - Q101 - Rev – D1 September 6, 2013
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AEC-Q101-001 ESD（人体模型） AEC-Q101-003邦线切应力测试 AEC-Q101-004同步性测试方法 ?钳位感应开关 ?電介质完整性 ?破坏性物理分析
AEC-Q101-005 ESD（带电器件模型）
AEC-Q101-006 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 1.2.4其他
QS-9000 ISO-TS-16949 1.2.5废止
AEC-Q101-002: 人体模式静电放电测试 (廢止)
?由于过时从JEDEC中删除。HBM和CDM涵盖几乎所有已知的ESD失效机理。 1.3定义
1.3.1 AEC Q101认证
如果成功完成根据本文件各要点需要的测试结果，那么将允许供应商声称他们的零件通过了AEC Q101认证。供应商可以与客户协商，可以在样品量和条件的认证上比文件要求的要放宽些，但是只有完成所有要求时候才能认为該器件通过了AEC-Q101认证。如静电放电,承受电压在任何一个供應商的帶Pin元件数据表中都要註明，該要求被高度推薦.但允许供应商作出聲明，例如，“AEC-Q101 qualified to ESD H1B”，这意味着除AEC ESD外，供应商通过了所有的测试。请注意，即使合格的器件AEC也不会颁发證書.
根據本規範,离散半导体的最低温度的范围应为-40℃ ~ +125℃，所有LED的最小的范围应为40℃到85℃。（注：某些器件最高溫度可能降到零） 1.3.2应用承认
承认被定义为客户同意在他们的应用中使用某零件，但客户承认的方式已经超出了本文件的范围 1.3.3术语
在本文中，“器件”是指“設備”或“组件”，如，單個二极管，晶体管，电阻等芯片封裝在塑膠模中並有連接到板端的引線.
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2 通用要求 2.1优先要求
当该标准中的要求与其他文件相冲突时，可采用以下优先顺序：。 a、采购订单
b、個人同意的器件規範 c、本文件标准
d、本文件的1.2节中的参考文件 e、供应商的数据规格
本規範認為合格的器件,其採購訂單或特殊器件規格不能免除和偏離本文件的要求. 2.2满足认证和重新认证要求的通用数据的使用
使用通用数据来简化认证过程非常值得提倡，需要考虑到的是，通用数据必须基于一系列特殊要求:
a. 表2中器件认证要求.
b. 表3与每个零件的特性相关的具体要求矩阵和制造工艺 c. 附录1中的认证家族定义. d. 有代表性的随机样本
附录1定义了标准，通过它各个成员可以组成这个认证家族，为的是所有家族成员的数据对于质疑的器件认证都能是均等的和普遍接受的。
当关注这些认证家族的指导原则，就能够积累起适用于该家族其他器件的信息。这些信息能够用来证实一个器件家族的通用可靠性并使特殊器件认证测试项目的需要减少到最低，这可以通过以下途径可以实现：
认证和监测认证家族中最复杂的器件（例如高/低电压、极大/极小晶片），对后来加入此认证家族不太复杂的器件应用这些信息数据。通用数据的来源应该是供应商经过鉴定的测试实验室，它包括内部供应商认证，客戶特殊认证，以及供应商过程监控。提交的通用数据必须达到或超过表2中列出的测试条件。表1提供的指南,表明部分合适的测试数据可用于减少很多认证要求. 特殊用户器件必须完成电气特性测试，通用性能数据在认证呈报时是不允许的。使用者有最终权接受通用数据来代替测试数据。
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組件技術委員會 表1 零件认证和重新认证的批次要求 零件信息 新器件,未使用通用数据 某认证家族的零件需要经过认证的，要认证的零批次认证要求 表2要求的批次和样品量 仅要求4.2节中定义的器件特殊测试，批次件不能过复杂，能符合附录1中认证家族的定义 和样品量须根据表2中测试要求 具有可通用数据的新零件 参考附录1来决定表2中要求的相应测试，批次和样品量须根据表2中的测试要求 零件加工工艺改变 参考表3来决定需要表2中何种测试，批次和样品量须根据表2中测试要求 表2定义了一组认证测试,须考虑新器件认证和设计或过程变化的重认证 表3描述了一组必须考虑到器件有任何改变的认证测试，其中的矩阵图也同样描述了与制程改变相关的新工艺制程和重新认证。该表是一个测试总括，使用者应将其作一个基本准则来讨论那些存在疑问需要认证的测试。供应商有责任介绍为什么某些被推荐的测试不须要进行的基本原理。 2.4 測試樣品 2.4.1. 批次要求 批次要求在表2中有定義 2.4.2 生产要求 所有认证器件都应在制造场所加工处理，有助于量产时零件的传输 2.4.3 测试样品的再利用性 已被用于非破坏性测试的器件还可用来进行其它认证测试。已被用于破坏性认证的器件，除工程分析外,不得再作他用。 2.4.4 样品量要求 样本用于测试和/或通用数据的提交必须符合指定的最小样品量和表2中的验收标准。如果供应商选择使用通用数据来认证,则特殊的测试条件和结果必须记录.现有适用的通用数据应该首先被用来满足表2中的每个测试要求和2.3节中这些要求。如果通用数据不能满足这些要求,应进行器件特定的认证测试. Page 8 of 21
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組件技術委員會 供应商必须执行待认证的特定器件或可接受的通用器件的任何组合，数量不少于3 批次x 77片/批次. 2.4.5通用数据接受的时间限制 只要从初始认证的所有可靠性数据被呈交给客户评估起，通用数据的可接受性就不存在时间上的限制，以下图表可作为可靠性数据的合适来源,此数据必须取自按照附录1定义的特殊器件或同样认证家族中的器件，包括任何客户的特殊数据（如果客户非AEC，保留客户的名字）,制程认证改变，周期可靠性监控数据（见图1） 注：一些制程改变（如元件缩小化）将会影响通用数据的使用，以至于这些改变之前得到的数据就不能作为通用数据接受使用。 過去 現在 證客 戶特殊認證製程改變認證客戶特殊認證製程改變認證#1#2 認證數據+製程改變認證數據+可靠性監測數據=可接受的通用數據 內證部器件描述供應商內部認製程改變認證週期可靠性監控測試 注：一些制程改变（如元件缩小化）将会影响通用数据的使用，以至于这些改变之前得到的数据就不能作为通用数据接受使用。 2.4.6预前应力测试和应力后测试要求 所有的预前应力测试和应力后测试都必须在室温条件下,根据用户器件详细规范定义的电气特性来进行。 Page 9 of 21
图1 通用数据时间进程 AEC - Q101 - Rev – D1 September 6, 2013
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2.5 应力测试失效后的定义
有以下任一表现的器件即定义为测试失效:
a.器件不符合用户的元件规范定义的电气测试限制或合适的供应商通用规范。最小测试参数要求在附录5中有规定。
b.器件測試數據在完成環境測試後不能保持在初始讀數± 20%偏差內(超出漏電極限的數值在濕度測試時不超過出初始讀數的10倍,其它測試不超過初始讀數的5倍).器件超出規範必須修改並得到客戶核準.如漏電低于100nA, 測試機精度可能阻止後應力測試。 c.任何由于环境测试导致的外部物理破坏 2.6通过重新认证的标准
通过所有表1中所指定适当的认证测试，或执行特殊器件测试（接受使用指定的最小样本的零缺陷）或可接受的通用数据（采用附录1中认证家族定义的数据、批次和样本尺寸需求量）来进行认证.
若器件沒有通過本文件要求的認證測試,供應商必須找出失效原因並採取糾正措施,以確保客戶端的用户的失效机理都能預見並包含其中.在失效根源找到和矯正預防措施取得成效之前,不能認為該器件通過應力測試認證. 要求用新樣品或數據來驗證矯正措施.如果通用數據包含所有失效,該數據就不能稱之為通用數據,除非供應商形成文件的糾正措施或失效條件集.
客戶要求的和在本文件中沒規定的任何獨立的可靠性測試或條件,都應在供應商和客戶要求的測試中達成共識, 且不影響器件通過本文件定義的內應力測試. 2.7 替代性測試要求
與表2中列出的測試要求和條件的任何偏差都超出了本文件的範圍.偏差(如加速測試方法)應陳述給AEC審議並納入本文件的後續版本. 3.认证和重新认证 3.1新器件认证
表2描述了新器件认证的应力测试要求和相关条件。对于每个认证，无论是特殊器件的应力测试结果还是可接受的通用数据，供应商都必须有这些所有的数据。复审也应由同类家族的器件构成，以确保在这个家族中没有存在普遍的失效机理。无论何时认为通用数据的可用性，都要得到供应商的论证和使用者的核准。对每个器件的认证，供应商须出示设计、生产、认证的证书给有需求的用户。
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