PCB全流程下(8)

2019-04-02 09:44

PCB制造流程及說明

鋼板上殘膠)造成;局部小面積範圍的細線或斷路比例高, 則有可能是乾膜曝光抬面吸真空局部不良的問題。諸如此類,由品管或 製程工程師做經驗上的判斷,就可解決某些製程操作上的問題。

2. 可歸成某些特別料號的問題,這些問題往往是因客戶的規格和廠內製程 能力上的某些衝突,或者是資料上的某些不合理的地方,因而會特別 突出這個料號製造上的不良。通常這些問題的呈現,須經歷一段的時 間及一些數量以上,經由測試顯現出它的問題,再針對此獨立料號加 以改進,甚至更改不同的製程。

3. 不特定屬於作業疏忽或製程能力造成的不良,這些問題就比較困難去做 歸納分析。而必須從成本和獲利間差異來考量因為有可能須添購設備 或另做工治具來改善。 D. 品質管制 測試資料的分析,可做品管系統設計的參數或改變的依據, 以不斷的提昇 品質, 提高製程能力, 降低成本. 16.3測試不良種類 A. 短路

定義:原設計上,兩條不通的導體,發生不應該的通電情形。 見圖16.2 B. 斷路

定義:原設計,同一迴路的任何二點應該通電的,卻發生了斷電的情形。 見圖16.3 (a,b)

C. 漏電(Leakage) 不同迴路的導體,在一高抗的通路測試下,發生某種程度的連通情形,屬於短路的一種。其發生原因,可能為離子污染及濕氣。

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16.4電測種類與設備及其選擇

電測方式常見有三種:1.專用型(dedicated) 2.汎用型(universal) 3.飛針型 (moving probe), 下面會逐一介紹。決定何種型式,要考慮下列因素:1.待 測數量2.不同料號數量3.版別變更類頻繁度4.技術難易度 5.成本考量。 圖16.4是數量的多寡,測試種類及成本的關係 圖16.5則是製程技術須求與測試方式種類的關係。 另外有一些特殊測試方式, 也會簡述一二. A. 專用型(dedicated)測試 專用型的測試方式之所以取為專用型,是因其所使用的治具 (Fixture) 僅適 用一種料號,不同料號的板子就不能測試,而且也不能回收使用. (測試針 除外)

a. 適用

1.測試點數,單面10,240點,雙面各8,192點以內都可以測

2測試密度,0.020\以上都可測,雖然探針的製作愈來愈細, 0.020\以下也可測,但一成本極高,且測試穩定度較差,這些都會影響使用何種測試方式的決定.

b. 設備 其價位是最便宜的一種,隨測試點數的多寡價格有所不同,從台幣40到200 萬不到。若再須求自動上、下板及分類良品,不良品的功能, 則價格更高。

c. 治具製作 治具製作使用的資料,是由CAD或Gerber的netlist所產生,所以選點、 編號、壓克力測試針盤用的鑽孔帶(含SMT各焊墊自動打帶)以及測試程式 等都由電腦來加以處理。

1 製作程序: 選點→壓克力(電木板)鑽孔→壓針套→繞線→插針→套FR4板。 2 針的種類及選擇 現有針號2,1,0,00,….一直到6個0都有,pitch愈小須愈多0的針. 圖16.6是各類型探針及適用方式.

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d. 測試

找出標準板→記憶資料→開始測試 e. 找點、修補 找點方式有兩種

1是手製點位圖,用透明Mylar做出和板大小一樣的測試各點位置及編 號,並按順序以線連接。

2利用標點機及工作站,在螢幕上,顯示問題之線,即可立即對照板而 找正確的位置 標示出正確位置後即進行確認修補,而後再進行重測,確認的過程中, 通常會以三用電錶做工具來判斷。 f. 優,缺點 優點:

1Running cost低 2.產速快 缺點: 1治具貴 2.set up慢 3.技術受限 B. 汎用型(Universal on Grid)測試

a. Universal Grid觀念早於1970年代就被介紹,其基本理論是PCB線路Lay-out以Grid(格子)來設計, Grid之間距為0.100\見圖16.7或者以密度觀點來看,是100points/in2,爾後沿用此一觀念,線路密度,就以Grid的距離稱之. 板子電測方式就是取一G10的基材做

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Mask,鑽滿on grid的孔,只有在板子須測試的點才插針,其餘不插.因此其治具的製作簡易快速,其針且可重複使用

b. On-grid test 若板子之lay-out,其孔或pad皆on-grid,不管是0.100\或0.050\其測試就叫on-grid測試,問題不大.見圖16.8

c. Off-grid test 現有高密度板其間距太密,已不是on-grid設計,屬Off-grid測試,見圖16.9 其fixture就要特殊設計.

d. 先進的測試確認與修補都由技術人員在CAM Workstation上執行.由key- board或mouse來移動x,y座標,多層板各層次之線路以不同顏色重疊顯示 在螢幕上,因此找點確認非常簡易.

e. 優,缺點 優點:

1.治具成本較低

2.set-up時間短,樣品,小量產適合. 3.可測較高密度板 缺點:

1設備成本高 2.較不適合大量產 C. 飛針測試(Moving probe)

a. 不須製作昂貴的治具,其理論很簡單僅須兩根探針做x,y,z的移動來逐一測試各線路的兩端點

b.有ccd配置,可矯正板彎翹的接觸不良.

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c.測速約10~40點/秒不等. d.優,缺點

優點:1極高密度板如MCM的測試皆無問題 2.不須治具,所以最適合樣品及小量產. 缺點:1設備昂貴 2.產速極慢 D. 其他測試方式 a. 非接觸式E-Bean b.導電布,膠 c.電容式測試

d.最近發表的刷測(ATG-SCAN MAN)

十七、終檢

17.1 前言

PCB製作至此,將進行最後的品質檢驗,檢驗內容可分以下幾個項目: A. 電性測試 B. 尺寸 C. 外觀 D. 信賴性

A項之電測,己在十六章介紹,本章將針對後三項LIST一般檢驗的項目,另外也列出國際間慣用的相關PCB製造的規範,供大家參考。

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