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4.7.2.2 直探头的晶片直径为14mm～30mm。 4.7.2.3 斜探头的K值一般为0.5～2。
4.7.2.4 为了准确测定缺陷，必要时也可采用其他探头。 4.7.3 试块
4.7.3.1 对比试块应符合3.5的规定。
4.7.3.2 对比试块的晶粒大小和声学特性应与被测锻件大致相近。
4.7.3.3 应制备几套不同晶粒度的奥氏体钢锻件对比试块，以便能将缺陷区衰减同试块作合理的比较。 4.7.3.4 对比试块的形状和尺寸按图11和表14所示。
图11 奥氏体钢锻件试块
表14 奥氏体钢锻件试块尺寸 mm
φ3 L 20 40 60 80 — — — — — — D 50 50 50 50 — — — — — — L 20 50 80 120 160 200 — — — — φ6 D 50 50 50 60 80 80 — — — — L 20 50 100 150 200 250 300 — — — φ10 D 50 50 60 80 80 100 100 — — — L 20 50 100 150 200 250 300 400 500 600 φ13 D 50 50 60 80 80 100 100 150 150 200
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4.7.3.5 在条件允许时，可在锻件有代表性的部位加工一个或几个适当大小的对比孔或槽，代替试块作为校正和检测的基准。 4.7.4 检测时机和工件要求
4.7.4.1 锻件原则上应在最终热处理后、粗加工前进行超声检测。检测表面粗糙度Ra≤6.3μm。检测面应无氧化皮、漆皮、污物等。
4.7.4.2 锻件应加工成简单的形状，以利于扫查和声束的覆盖。 4.7.5 检测方法
一般应进行直探头纵波检测。对筒形锻件和环形锻件必要时还应进行斜探头检测，但扫查部位和验收标准应由合同双方商定。 4.7.5.1 斜探头检测
奥氏体钢锻件斜探头检测应按附录E（规范性附录）的要求进行。 4.7.5.2 直探头纵波检测
直探头纵波检测应符合4.2.5.2的规定。 4.7.6 灵敏度的校正
4.7.6.1 当被检锻件厚度小于或等于600mm时，应根据定货锻件厚度和要求的质量等级，在适当厚度和当量的平底孔试块上校正，并根据实测值做出距离－波幅曲线（定量线）；当被检锻件厚度大于600mm时，在锻件无缺陷部位将底波调至满刻度的80%，以此作为基准灵敏度。
4.7.6.2 扫查灵敏度应至少比距离－波幅曲线（定量线）或基准灵敏度提高6dB。 4.7.7 缺陷记录
4.7.7.1 由于缺陷的存在，而使底波降为满刻度25%以下的部位。 4.7.7.2 波幅幅度大于基准线高度50%的缺陷信号。 4.7.8 质量分级
4.7.8.1 单直探头检测的质量分级见表15。 4.7.8.2 斜探头检测的质量分级见表16。
4.7.8.3 表15和表16的级别应作为独立的等级使用。
表15 单直探头检测的质量分级 mm
工件公称厚度 工件质量等级 缺陷当量直径φ或因缺陷引起底波降低后的幅度 ≤φ3 ＞φ3 ≤φ6 ＞φ6 ≤80 Ⅰ Ⅱ ＞80～200 Ⅰ Ⅱ ＞200～300 Ⅰ ≤φ10 Ⅱ ＞φ10 ＞300～600 Ⅰ ≤φ13 Ⅱ ＞φ13 ＞600 Ⅰ Ⅱ ≥5% 〈 5% 表16 斜探头检测的质量分级 mm
等级 缺陷大小 Ⅰ V形槽深为工件壁厚的3%，最大为3 Ⅱ V形槽深为工件壁厚的5%，最大为6 5 承压设备对接焊接接头超声检测和质量分级 5.1 钢制承压设备对接焊接接头超声检测和质量分级 5.1.1 适用范围
本条规定了钢制承压设备对接焊接接头的超声检测和质量分级。
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本条适用于母材厚度为8mm～400mm全熔化焊对接焊接接头的超声检测。母材厚度为6mm～8mm全熔化焊对接焊接接头的超声检测应按照附录G(规范性附录)的规定进行。承压设备有关的支承件和结构件以及螺旋焊接接头的超声检测也可按本条的规定进行。钛制承压设备对接焊接接头超声检测参照附录M（资料性附录）的规定进行，奥氏体不锈钢承压设备对接焊接接头超声波检测参照附录N（资料性附录）的规定进行。
如确有需要，壁厚为4mm～6mm的环向对接焊接接头的超声检测可参照6.1进行。
本条不适用于铸钢对接焊接接头、外径小于159mm的钢管环向对接焊接接头、内径小于或等于200mm的管座角焊缝的超声检测，也不适用于外径小于250mm或内外径之比小于80%的纵向对接焊接接头超声检测。
5.1.2 超声检测技术等级 5.1.2.1 超声检测技术等级选择
超声检测技术等级分为A、B、C三个检测级别。超声检测技术等级选择应符合制造、安装、在用等有关规范、标准及设计图样规定。 5.1.2.2 不同检测技术等级的要求
5.1.2.2.1 A级仅适用于母材厚度为8mm～46mm的对接焊接接头。可用一种K值探头采用直射波法和一次反射波法在对接焊接接头的单面单侧进行检测。一般不要求进行横向缺陷的检测。 5.1.2.2.2 B级检测：
a) 母材厚度为8mm～46mm时，一般用一种K值探头采用直射波法和一次反射波法在对接焊接接头
的单面双侧进行检测。
b) 母材厚度大于46mm至120mm时，一般用一种K值探头采用直射波法在焊接接头的双面双侧进
行检测，如受几何条件限制，也可在焊接接头的双面单侧或单面双侧采用两种K值探头进行检测。
c) 母材厚度大于120mm至400mm时，一般用两种K值探头采用直射波法在焊接接头的双面双侧进
行检测。两种探头的折射角相差应不小于10°。
d) 应进行横向缺陷的检测。检测时，可在焊接接头两侧边缘使探头与焊接接头中心线成10°～
20°作两个方向的斜平行扫查，见图12。如焊接接头余高磨平，探头应在焊接接头及热影响区上作两个方向的平行扫查，见图13。
5.1.2.2.3 C级检测：
采用C级检测时应将焊接接头的余高磨平，对焊接接头两侧斜探头扫查经过的母材区域要用直探头进行检测，检测方法见5.1.4.4。
a) 母材厚度为8mm～46mm时，一般用两种K值探头采用直射波法和一次反射波法在焊接接头的单
面双侧进行检测。两种探头的折射角相差应不小于10°，其中一个折射角应为45°。 b) 母材厚度大于46mm至400mm时，一般用两种K值探头采用直射波法在焊接接头的双面双侧进
行检测。两种探头的折射角相差应不小于10°。对于单侧坡口角度小于5°的窄间隙焊缝，如有可能应增加对检测与坡口表面平行缺陷有效的检测方法。
c) 应进行横向缺陷的检测。检测时，将探头放在与焊缝及热影响区上作两个方向的平行扫查，见
图13。
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图12 斜平行扫查 图13 平行扫查
5.1.3 试块
5.1.3.1 试块制作应符合3.5的规定。
5.1.3.2 采用的标准试块为CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA和CSK-ⅣA。其形状和尺寸应分别符合图14、图15、图16、图17和表17的规定。
注：尺寸误差不大于±0.05mm
图14 CSK-ⅠA试块
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注1：L—试块长度，由使用的声程确定 注2：尺寸误差不大于±0.05mm
图15 CSK-ⅡA试块
注：尺寸误差不大于±0.05mm
图16 CSK-ⅢA试块
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