不良品 50件 30件 20件
缺点数 80点 45点 25点
（图3）
A制程的dpu＝缺点数／检查件数
＝80点 ／ 1000件
＝0.08dpu
B制程的dpu＝缺点数／检查件数
＝45点 ／ 1000件
＝0.045dpu
C制程的dpu＝缺点数／检查件数
＝25点 ／ 1000件
＝0.025dpu
全制程的dpu＝缺点总数／检查件数
＝(80+45+25)点／4000件
＝0.0375dpu
一般不同产品的每件检点数不同，检点数愈多，dpu就可能愈大，以dpu的大小?肀容^产品品质的好坏似乎不太合理，因此用总检点数与总缺点数之比?肀容^品质会客观一点；以dppm（Defect Parts Per Million）为单位，如（图4）的流程图。
输入1000件 输出1000件
检点数 50点 50点 400点
INPUT 1000件 1000件 1000件
不良品 50件 30件 20件
缺点数 80点 45点 25点
（图4）
A制程每百万检点平均缺点数
＝（总缺点数／总检点数）× 106
＝(80 ／(1000×50）)×106
＝1600 dppm
B制程每百万检点平均缺点数
＝（总缺点数／总检点数）× 106
＝(45 ／(1000×50）)× 106
＝900 dppm
C制程每百万检点平均缺点数
＝（总缺点数／总检点数）× 106
＝(25 ／(1000×400）)× 106
＝62.5 dppm
全制程每百万检点平均缺点数
＝（总缺点数/总检点数）× 106
＝(（80+45+25）／(1000×50+1000×50+1000×400）)×106
＝300 dppm
dpu是代表每件产品平均有几个缺点，而dppm是每检查一百万的检点平均有几个缺点。一个检点代表一产品或制程可能会出现缺点的机会，它可能是一个零件、特性、作业等等，有些地方以ppm/part(注2)，dpmo(Defects Per Million Opportunities)(注3)为品质指标，其?与dppm是同样的意义。时下许多资?电子装配?S，其制程上记录是以dppm 为单位，不同检点数的产品或制程就可依下式换算为dpu。
dpu＝产品或制程检点数×dppm×106
良率是最容易了解的品质指标；投入制程的产品，经制造过程后，就可以?际交给下工程或可以直接出货的比率，良率愈高代表效率愈高，报?U愈少，修理愈少，对品质、成本、交期都有直接的关系，这是人人皆知的道理，因此，良率应为最终的品质指标。假若可以事先估算出产品或制程的dpu，就可以预估产品在该制程的良率，以卜氏分配的性质可计算其良率。假设X为某件产品经某制程后之观测缺点数，当X＝0时，即表示该件产品没有缺点，因此，P[X=0]即表示该产品无缺点的机率；就是良率。以下式表示
P[X=0]＝ e-dpu
dpu与制程良率的关系如(表1)。 dpu 5.0 4.0 3.0 2.0 1.0 0.5 0.05 0.01
Yield% 0.67% 1.83% 4.98% 13.5% 36.8% 60.7% 95.1% 99.0%
(表1)
以上之品质指标皆以计数值之计件或计点?斫忉尸渑c良率之关系，而计量值之品质指标Cp或Cpk也可以定义一产品或制程特性的良率；此处可以计数值之一检点为同样的意义，一检点可以为一产品或制程特性。
l 计量值的品质指标
制程能力指标Cp或Cpk之值在一产品或制程特性分配为常态且在管制状态下时，经由常态分配之机率计算，可以换算为该产品或制程特性的良率或不良率，同时亦可以几个Sigma?韺φ铡F?以产品或制程特性中心没偏移目标值，中心偏移目标值1.5σ及中心偏移目标值T/8分别说明之，品管先进?文化先生认为对於Sigma水准较小时，偏移的幅度应相对的小，才较合理，因此提出偏移目标值T/8的考量。
先定义以下几个符号
l X：个别产品或制程特性值
l USL：规格上限
l LSL：规格下限
l m：目标值或规格中心，一般为(USL＋LSL)/2
l T=USL-LSL：规格界限宽度
l ：产品或制程特性中心或平均数
l ：产品或制程特性标准差
(1) 产品或制程特性中心没偏移目标值；即 ＝m＝(USL＋LSL)/2
Sigma 水准= ；即T＝USL-LSL＝
＝ ＝ ＝ ＝ ＝ ＝
不良率＝ ＝ ＝标准常态分配右尾机率×2
良率＝ ( 1-不良率)
Sigma
水准 Cp
Cpk 良率 %
不良率
ppm 1σ 0.33 68.27% 317,400 2σ 0.67 95.45% 45,600 3σ 1.00 99.73% 2,700 4σ 1.33 99.9937% 63 5σ
1.67
99.999943% 0.57 6σ