2.00
99.9999998% 0.002
(表2) 中心没偏移目标值
(2) 产品或制程特性中心偏移目标值1.5σ；即 ＝(USL＋LSL)/2
Sigma 水准= ；即T＝USL-LSL＝
l 产品或制程特性中心大於目标值1.5σ
CPU＝(USL - μ)/3σ ＝(kσ - 1.5σ ) / 3σ=( k-1.5 ) / 3
CPL＝(μ - LSL) / 3σ = ( kσ + 1.5σ ) / 3σ = (k+1.5) /3
Cpk = MIN{CPU，CPL}＝(k-1.5)/3
不良率 = P [ X > USL ] + P [ X < LSL ] = P [ Z > 3 x CPU ] + P[ Z > 3 x CPL ] ＝
良率＝
l 产品或制程特性中心小於目标值1.5σ
CPU＝(USL－ )/ ＝( )/ ＝(k+1.5) /3
CPL＝( －LSL)/ ＝( )/ ＝(k-1.5) /3
＝ MIN{CPU，CPL}＝(k-1.5) /3
不良率＝ ＝ ＝
良率＝
Sigma
水准 Cp Cpk 良率 %
不良率 ppm 1σ 0.33 -0.17 30.23% 697,672 2σ 0.67 0.17 69.13% 308,770 3σ 1.00 0.50 93.32% 66,811 4σ 1.33 0.83 99.379% 6,210 5σ 1.67 1.17
99.99767% 233
6σ 2.00 1.50 99.99966% 3.4
(表3) 中心偏移目标值1.5σ
(3) 产品或制程特性中心偏移目标值T/8；即 ＝(USL＋LSL)/2
Sigma 水准= ；即T＝USL-LSL＝
l 产品或制程特性中心大於目标值T/8＝ /8＝
CPU＝(USL－ )/ ＝( )/ ＝3k/12
CPL＝( －LSL)/ ＝( )/ ＝5k/12
＝ MIN{CPU，CPL}＝3k/12
不良率＝ ＝ ＝
良率＝
l 产品或制程特性中心小於目标值T/8＝ /8＝
CPU＝(USL－ )/ ＝( )/ ＝5k/12
CPL＝( －LSL)/ ＝( )/ ＝3k/12
＝ MIN{CPU，CPL}＝3k/12
不良率＝ ＝ ＝
良率＝
Sigma
水准 Cp Cpk 良率 %
不良率
ppm 1σ 0.33 0.25 73.33% 266,686 2σ 0.67 0.50 92.698% 73,017 3σ 1.00 0.75
98.7687% 12,313 4σ 1.33 1.00 99.8650% 1,350 5σ 1.67
1.25
99.99116% 88.4 6σ 2.00 1.50
99.99966% 3.4
(表4) 中心偏移目标值T/8
不管是计数值或计量值，产品或制程的良率均可依制程记录计算或预估出?恚?覀円?表2)、(表3)、(表4)可以比对其品质水准达到几个Sigma。但是产品或制程有些检点多有些少，有些容易有些困难，有的是零件、KD件、CKD件或最终产品，如何以一致的品质指标?肀硎酒焚|水准，以下??碚f明。
4、品质指标的解读
以6 Sigma国际品质标竿3.4 ppm是资?电子的终极目标，几乎有定出品质目标的公司都以6 Sigma或3.4 ppm为最终追求的品质水准。3.4 ppm是以以一个检点而言，不是每一产品或制程都要达到这个水准，要看产品或制程的检点数。以(表5)、(表6)?碚f明检点数在不同品质水准时其相对应的良率。
检点数 n 3σ 4σ 5σ 6σ 1
99.73％ 99.9937％ 99.999943％ 99.9999998％ 2 99.46