毕业设计 基于单片机的温度采集控制系统45(7)

2019-06-05 14:52

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会很高,可以设计使用循环完成。

温度℃12时间 秒34

图3—6—1 温度控制曲线图

可将7个过程分成图中的4段,每段都包括一个升温或降温过程和一个恒温过程。恒温过程使温度保持恒定,高于恒定温度启动降温设备,低于恒定温度启动升温设备,同时使用计时器计时,本系统恒温时间为60秒。

编写一段4次的循环完成该功能,代码如下:

for (i=0;i<4;i++)//4个过程:温度变化+恒温.i case 0,1升.2,3降

{numstart; //开始计时 if (i<2)

{do 升温 while(温度<界限[i]);} {do 降温while(温度>界限[i]);} else

if (i<3) do 恒温 while(60秒以内); numend; //结束计时}

3.7采样

为了满足曲线的技术指标,对系统的采样方式进行了改进。一般的温度控制程序采样是根据系统的速度采样或是延时采样,前者会使系统反复振荡。例如温度升高时由27度到28度,系统会由27度到28度来回振荡,从液晶显示器上根本看清显示的是什么。如果使用打印机将十分可怕,系统将始终打印而不做其它工作。虽然使用采样延时可以缓解这种情况,但延时的时间过长会影响控制,因为延时时间是占用CPU的,延时时间内什么工作也做不了。通常看到的现象是系统不连续工作,例如系统处于降温过程,但风扇不连续旋转,而是一会停一会转。并且采样的时间没有单位,满足不了温度曲线的要求。

解决这个问题的根本方法是采用定时采样的方法。具体方法是使用计时器计时,每到特定的时间采样一次,例如本系统是每隔2秒采样一次。采样后根据采样结果再采取

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方案,采样以外的时间来实施方案。由于采样的时间非常短,用户是感觉不到系统停顿的。更为重要的是采样时间有了单位,这样曲线的纵轴(温度)、横轴(时间)都有了单位,满足了曲线的技术指标。

采样的代码如下:

if (sec%2==0&&k==0) { t_last=t; t=adc0809(); control(tt[i],t); print(t_last,t); k=1; }

变量k的作用是每到2的倍数秒时保证只取样一次,否则在这一秒之内将连续采样。 3.8 时间函数

时钟的基本显示原理:时钟开始显示为0时0分0秒,也就是液晶显示器显示000000,然后每秒秒位加1,到9后,10秒位加1,秒位回0。10秒位到5后,即59秒 ,分钟加1,10秒位回0。依次类推,时钟最大的显示值为23小时59分59秒。这里只要确定了1秒的定时时间, 其他位均以此为基准往上累加。开始程序定义了秒, 十秒, 分, 十分,小时, 十小时,共6位的寄存器, 分别存在30h,31h,32h,33h,34h,35h单元,便于程序以后调用和理解。

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结 论

本次毕业设计使我受益匪浅,不但了解了8051型单片机及其相关芯片的系统结构、工作原理,还学会了单片机C语言的设计方法。对今后走上工作岗位打下了良好的基础。

本系统采用了符合温度控制需要的DDC控制方法,有效的减小了所控温度的振荡。对数据的每一次转化过程都保持了科学严谨的态度。其两种工作模式能够满足多数设备温度控制的需要,尤其是温度曲线的设计采用了循环算法、改进了采样原理。还增加了液晶显示功能,将系统的实用型大大提高。人性化的设计理念始终贯穿系统设计的全过程,对用户的每一步操作都有相应的提示。

由于时间的仓促,系统还有许多不完善之处。个人还有不少想法没有应用到系统设计中去。例如:提高数据的精度,将数据精度提高到小数点后五位;可更好的解决温度保持在绝对恒定温度值。

总体来说这次所设计的温度测控系统符合技术指标,能够达到预期的目标。

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致 谢

此次毕业设计是在朱爱军导师的精心指导及全力支持下完成的。本系统的设计成功全赖朱老师毫不吝惜的把所有的相关知识教授于我。朱老师对新知识、新事物有独到的理解,这也影响了我对知识的学习态度,将使我一生受益匪浅。同时还要感谢在很多模块设计上指导过我的黄新导师。朱老师对单片机有着非常独到的见解和想法,黄老师对单片机的知识十分全面,他们一丝不苟的态度和认真负责的教导同样给了巨大的收益和鼓舞。这些将使我毕生受用!

最后,再次感谢本次毕业设计的所有导师,是你们用辛勤的劳动、无私的奉献换来了我们巨大的进步。感谢各位同学对我的帮助,只有我们不断的学习,明天才会更加美好

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参考文献

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[6].高海生,杨文焕.单片机应用技术大全.成都:西南交通大学出版社,1996.10 [7].郁有文,常健.传感器原理及工程应用.西安:西安电子科技大学出版社,2003 [8].苏铁力.传感器及其接口技术.北京:中国石化出版社,1998

[9].Hafted, M.M,Roberts, G.W.Techniques for high-frequency integrated test and measurement[J].Instrumentation and Measurement,2003,52(6):1780—1786


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