相控阵探头与便携式超声相控阵设备中的探头一样. 8.3.6显示记录
输出显示记录包括A扫描、扇形扫描、TOFD、耦合监视通道及编码器记录的位置。如图8-61所示。
图8-61 BIG-PA-AUT显示记录
8.3.7检测标准
BIG-PA-AUT检测设备即有便携式超声相控阵设备功能，又有TOFD技术功能，所以其适用范围很广。例如JB/T4730.3-2005和JB/T4730.10标准，ASME标准。如果设计允许其它常规手动超声波检测标准与TOFD标准结合应用也适用于该设备。 8.3.8检测设置
BIG-PA-AUT检测既含有TOFD技术，又有相控阵技术，所以设置也是从这两个方面考虑的。 （1）TOFD设置
根据被检工件按照TOFD标准进行设置。 （2）相控阵设置
与便携式超声相控阵检测设置基本一致，所不同的是它们显示方式不同。采用理论软件进行设置。该设备主要应用在厚壁工件上检测，因此要注意以下几点：
①按一次波和二次波分开设置。处在不同的通道上。并能在同一个界面上显示。 ②分区设置时，要注意相邻分区间的重合覆盖。 ③扇形角度范围不要过大。 8.3.9应用示例及结果分析
现以检测132㎜厚的模拟缺陷试件为例分析介绍BIG-PA-AUT检测技术的应用。模拟缺陷试
件规格为1000㎜×650㎜×132㎜。分别采用BIG-PA-AUT、MUT及RT对该试件进行对比检测，以验证BIG-PA-AUT检测的先进性及可靠性。 (1)检测工艺参数设置 ①检测设备
采用以色列Sontron NDT公司生产的BIG-PA-AUT检测系统。 ②探头
◆采用2个线性相控阵探头，参数为5MHz、32个晶片，一次激发32晶片。 ◆3对TOFD探头，频率为5MHz和2.5MHz，直径为6㎜，折射角度为70°、60°和45°。 ③试块
采用CSK-ⅣA(Φ6.4)的试块，用其制作DAC曲线。采用R100半圆试块做扇形角度增益补偿。
④检测设置
（a）探头前端据焊缝中线的距离为170mm。
（b）在焊缝上下端各分两个区，即一次波检测区域为1区(即GROUP1），二次波检测区域为2区（即GROUP2）。
一次波检测中下部，扇形角范围56°～71°，二次波检测中上部，扇形角度范围38°～56°。
(c)采用CSK-ⅣA(Φ6.4)试块制作DAC曲线。 (d)灵敏度
灵敏度按JB/T4730.3-2005 B级。评定线灵敏度为DAC-16dB，定量线灵敏度DAC-10dB，判废线灵敏度DAC。
耦合补偿3dB。 ⑤扫查
扫查结果见图8-62所示。
图8-62检测结果图
（2）检测结果分析
现以模拟试件中下表面裂纹缺陷分析为例，检测结果见图8-63 a～d。 ①BIG-PA-AUT检测结果
在BIG-PA-AUT中的West-Group1通道、East-Group1通道和TOFD-132㎜-3通道中均有下表面裂纹缺陷的显示。
◆在West-Group1通道：测其长度为34㎜，深度为124.8㎜，幅度为DAC+13.7dB，处于Ⅲ区。
◆在TOFD-132㎜-3通道：测量其长度为24㎜，深度为118.6㎜。 ②MUT检测结果 ◆从正面检测
采用K1探头检测：测量其长度为25㎜、深度为128㎜、幅度为SL+2dB、位于Ⅱ区，评定为Ⅰ级。
采用K1.5探头检测：测量其长度为30㎜、深度为130㎜、幅度为SL+8dB、位于Ⅱ区，评定为Ⅰ级。
◆从反面检测
采用MUT从反面检测未发现该缺陷。因为该缺陷是表面开口缺陷，再加上焊缝余高的存在，故采用MUT检测不能扫查到该缺陷。
③RT检测结果
RT底片上显示其长度为35㎜。
规格：33㎜×0.3㎜×10㎜
（a）缺陷示意图
（b）BIG-PA-AUT检测结果
（c）MUT检测结果（正面检测）
（d）RT检测结果
图8-63 下表面裂纹缺陷检测结果
（2）检测结果分析
①BIG-PA-AUT、MUT及RT三种检测方法均检测出下表面裂纹缺陷。
②在BIG-PA-AUT中TOFD-132㎜-3通道上，该缺陷有一条亮线显示，底面反射波没有断开，故可判定该缺陷为内部缺陷，不是表面开口缺陷。
③在West-Group1通道和East-Group1通道上，该缺陷有显示，且显示都来至于焊缝下表面。在合成通道Overlap上显示为V形，故可判定为下表面开口型缺陷，见图8-64所示。在West-Group1通道测量该缺陷自身高度为14.3㎜，且距焊缝中心线为5.9㎜，说明该缺陷位于East探头侧。
图8-64 在Overlap通道上显示V形
④MUT检测采用双面四侧扫查，两种K值探头，共计检测8遍，劳动强度很大，检测效率很低。而BIG-PA-AUT采用扇形扫描进行检测，检测一遍即可完成整个焊缝的扫查。
⑤MUT采用K1.5探头检测该缺陷时幅度最大，处于Ⅱ区。而MG-AUT检测在62°声束时幅度最大，处于Ⅲ区。
⑥对TOFD-132㎜-3通道测量结果，按JB/T4730.10-2010评定为Ⅱ级。对West-Group1通道测量的结果，按JB/T4730.3-2005评定为Ⅲ级。对MUT测量结果，按JB/T4730.3-2005评定为Ⅰ级，但从深度看该缺陷属于表面的，作外观检查或表面检测便可发现是下表面裂纹。
⑦综上所述，仅按TOFD-132㎜-3通道对该缺陷的评定会造成误判，只有将West-Group1通道、East-Group1通道与TOFD-132㎜-3通道结合起来评定，才能判定该缺陷为下表面开口裂纹，不会造成误判和误评。由此可见，BIG-PA-AUT检测技术的优越性。