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e. 无用信号的电平设置按照表13。
f. SS对它发给手机的数据信号与从手机接收机环回的经解调、译码后的信号进行比较，并检查帧擦除指示。
SS测量II类比特RBER的方法是检查II类的最大样本序列的连续比特，其中各比特只从没有坏帧指示的帧中提取，并记录差错事件。 如果d项中2）、3）、4）预计的频率上出现测量结果失败，那么便在±200kHz的相邻频道上重复测量，若这两个频率中任何一个失败，那么应该测量下一个±200kHz的邻频道，此过程一直持续到测量出所有失败频率，记录这一组连续失败频率的个数。 5.5.2.7.2 控制信道的阻塞与杂散响应
a. 除非BCCH频率表为空，SS按一般呼叫建立过程建立与手机的通信，在手机支持的任意一个ARFCN的TCH上，功率控制级设为最大。
SS在TCH/FS上输出标准测试信号C1。(TCH频率FR)
b. SS发送一个不需要手机层3响应的消息，由于存在干扰信号，手机可能不能证实层2帧，每一个重发的层2帧将指示一个帧擦除事件。SS判定最小FACCH/F帧样本数序列中的帧擦除事件。 c. SS同时产生一个TU高的有用信号和静态干扰信号。SS设置有用信号的幅度比参考灵敏度高4dB。
d. 静态无用信号为频率是FB的C.W.信号（标准测试信号I0）。FB为处于100kHz至12.75GHz(FR±600kHz除外)范围内的一系列频点上。
FR为RX的中心频率，FB为200kHz的整数倍频率。 测量信号的频率为以下3项的组合： 1） 总的频率范围为：
P-GSM900：[F10+(IF1+ IF2+222 IFn+12.5MHz)]与[F10-(IF1+ IF2+222 IFn+12.5MHz)]之间的频率； E-GSM900：[F10+(IF1+ IF2+222 IFn+17.5MHz)]与[F10-(IF1+ IF2+222 IFn+17.5MHz)]之间的频率； DCS1800： [F10+(IF1+ IF2+222 IFn+37.5MHz)]与[F10-(IF1+ IF2+222 IFn+37.5MHz)]之间的频率； 其中距相关接收带宽两边缘±100MHz范围内的频率除外。 按200kHz的间隔取测试频率。 2）IF1，IF1+200kHz，IF1-200kHz
3）mF10 +IF1，mF10 -IF1，m是≥2的正整数，计算出的频率必须位于100kHz～12.75GHz的频率范围内。
如果2）与3）的中频率位于1）中规定的频率范围内不必重复测试。
4）对于1）中规定的频率以外，应该从距离1）定义的边缘10MHz的频点开始测试，以10MHz的间隔在100kHz～12.75GHz频带内测试。
注：F10为接收机第一次混频的本振频率； IF1……IFn为n个中频；
F10、IF1 、IF2 、……IFn应由制造厂家给定。
e. 无用信号的电平设置按照表13。
f. SS判定最小样本数序列的帧擦除事件数。如果指示失败，就将被记录。 如果d项中2）、3）、4）预计的频率上出现测量结果失败，那么便在±200kHz的相邻频道上重复测量，若这两个频率中任何一个失败，那么应该测量下一个±200kHz的邻频道，此过程一直持续到测量出所有失败频率，记录这一组连续失败频率的个数。 5.5.3 杂散发射
5.5.3.1 传导型杂散发射
5.5.3.1.1 手机被分配一个信道(专用模式)
a. SS建立与手机的通信（业务信道的射频频道号在ARFCN中端）。并指令手机输出功率为最大。
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SS指令手机将其信道译码器输出环回到信道编码器输入。 SS在TCH/FS上输出标准测试信号C1。 b. 在100kHz～12.75GHz频率范围内进行测试。杂散发射在负载为50Ω收发信机的连接器端测试，对低于限值6dB的杂散发射忽略不计。
SS中功率指示为峰值功率，测试带宽应基于5极同步调谐滤波器且符合表23的规定。 在每一个频率上，测量应持续至少一个TDMA帧，空闲帧除外。 表23 测试带宽 频段 100kHz～50MHz 50MHz～500MHz 500MHz～12.75GHz 不包括:(Tx频带) P-GSM:890～915MHz E-GSM:880～915MHz DCS:1710～1785MHz 和(Rx频带) 925～960MHz 1805～1880MHz P-GSM:890～915MHz E-GSM:880～915MHz DCS:1710～1785MHz 频率偏置 ---- ---- 0MHz～10MHz ≥10MHz ≥20MHz ≥30MHz （偏离TX频带） 滤波器带宽 10kHz 100kHz 100kHz 300kHz 1MHz 3MHz 近似的视频带宽 30kHz 300kHz 300kHz 1MHz 3MHz 3MHz 1.8MHz～6.0MHz >6.0MHz （偏离TX载频） 30kHz 100kHz 100kHz 300kHz 5.5.3.1.2 空闲模式 a. 来自服务小区的BCCH信息内容应确保周期位置更新不被激活，且寻呼模式被连续设为寻呼重组，而BS_AG_BLKS_RES设为0，使得手机接收机连续地工作。
将CCCH_CONF设为000。一个未与SDCCH组合的基本物理信道被用于CCCH。
BCCH分配为空或仅包含服务小区的BCCH。手机工作在MM “空闲、更新”状态。 b. 在100kHz～12.75GHz频率范围内进行测试。杂散发射在负载为50Ω收发信机的连接器端测试，对低于限值6dB的杂散发射忽略不计。
SS中功率指示为峰值功率，测试带宽应基于5极同步调谐滤波器并符合表24的规定。 每一个频率的测量将在一个除去空闲帧的TDMA帧期间完成。 表24 测试带宽 频段 100kHz～50MHz 50MHz～12.75GHz 滤波器带宽 10kHz 100kHz 视频带宽 30kHz 300kHz 5.5.3.2 机箱发射 机箱发射对具有天线接头的手机和整装天线手机都适用。
机箱发射测试须在微波暗室或室外测试场点进行。但优选在微波暗室中进行测试。 5.5.3.2.1 手机被分配一个信道(专用模式) a. SS建立与手机的通信（业务信道的射频频道号在ARFCN中端）。并指令手机输出功率设为最大。 SS指令手机将其信道译码器输出环回到信道编码器输入。 SS在TCH/FS上输出标准测试信号C1。
b. 测试天线靠近手机，在30MHz至4GHz频段内，手机的杂散辐射电平用测试天线与测试接收机测试。
注：在YD1032-2000中，测试范围在30MHz至6GHz频段内，是因YD1032中测的是三次谐波。
c. 测试天线应放置一个适当的测试距离以使得每一个频率上的杂散发射都能检测到。在测试各频率上的杂散发射时，应转动样机以获得最大响应。如果使用微波暗室，则可用预校准法代替置换测试法。
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d. SS中功率指示为峰值功率，测试带宽应基于5极同步调谐滤波器并符合表25的规定。 每一个频率的测量将在一个除去空闲帧的TDMA帧期间完成。 e. 改变测试天线的极化方向重复以上测试。 表25 测试带宽
频段 30MHz～50MHz 50MHz～500MHz 500MHz～4GHz 不包括：（Tx频带） P-GSM:890～915MHz E-GSM:880～915MHz DCS:1710～1785MHz Tx频带 P-GSM:890～915MHz E-GSM:880～915MHz DCS:1710～1785MHz 频率偏置 ---- ---- 0MHz～10MHz ≥10MHz ≥20MHz ≥30MHz (偏离TX频带) 1.8MHz～6.0MHz >6.0MHz (偏离TX频载) 滤波器带宽 10kHz 100kHz 100kHz 300kHz 1MHz 3MHz 近似的视频带宽 30kHz 300kHz 300kHz 1MHz 3MHz 3MHz 30kHz 100kHz 100kHz 300Khz 5.5.3.2.2 空闲模式
a. 来自服务小区的BCCH信息内容应确保周期位置更新不被激活，且寻呼模式被连续设为寻呼重组，而BS_AG_BLKS_RES设为0，使得手机接收机连续地工作。
CCCH_CONF设为的000。一个未与SDCCH组合的基本物理信道被用于CCCH。
BCCH分配为空或仅包含服务小区的BCCH。手机工作在MM “空闲、更新”状态。
b. 测试天线靠近手机，在30MHz至4GHz频段内，手机的杂散辐射电平用测试天线与测试接收机测试。
c. 测试天线应放置一个适当的测试距离以使得每一个频率上的杂散发射都能检测到。在测试各频率上的杂散发射时，应转动样机以获得最大响应。如果使用微波暗室，则可用预校准法代替置换测试法。
d. SS中功率指示为峰值功率，测试带宽应基于5极同步调谐滤波器并符合表26的规定。 每一个频率的测量时间包括手机收到含有寻呼信道的一个TDMA帧。 e. 改变测试天线的极化方向重复以上测试。
表26 测试带宽 频段 30MHz～50MHz 50MHz～4GHz 滤波器带宽 10kHz 100kHz 视频带宽 30kHz 300kHz 5.6 音频性能试验方法 在整个音频测试过程中，应关闭DTX功能。 5.6.1 发送灵敏度/频率响应 a. 将手机装在LRGP中（见原CCITT建议P.76的附录上I）耳承密合于仿真耳的刃形边缘上（见原CCITT建议P.51）。
b. 用仿真嘴在嘴参考点（MRP）送一个声压为－4.7dBPo的纯单音。 c. 手机的DAI连接SS，操作模式为“音响设备及A/D、D/A的测试”。 d. 在100Hz～4000Hz频段内，用1/12倍频间隔进行测试。 e. 在各个频率，测DAI处PCM比特流代表的输出电平。 5.6.2 发送响度评定值（SLR）
a. 在原CCITT建议P.79表3中列出的14频率上，（频段4至17）分别测发送灵敏度。
b. 灵敏度单位表示成dBv/Pa。根据原CCITT建议P.79的公式4.19b计算频段4至17的SLR，采用表2/P.79调节。
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5.6.3 接收灵敏度/频率响应
a. 将手机装在LRGP中，耳承应密合于仿真耳的刃形边缘上。
b. 手机的DAI连接SS，操作模式为“音响设备及A/D、D/A的测试”。 c. SS通过DAI给手机发送一个相当于－16dBmO纯单音的PCM比特流。 d. 在100Hz～4000Hz频段内，用1/12倍频间隔进行测试。 e. 在各个频率，测仿真耳中（耳参考点－ERP）的声压。 5.6.4 接收响度评定值（RLR）
a. 在原CCITT建议P.79表3中列出的14频率上，（频段4至17）测接收灵敏度。
b. 灵敏度表示为dBv/Pa。根据原CCITT建议P.79的公式4.19c计算频段4至17的SLR，采用表2/P.79的加权系数，根据表3/P.79调整。仿真耳的灵敏度必须根据原CCITT建议P.79实际耳的校准表4进行校准。
5.6.5 侧音掩蔽评定值（STMR）
a. 手机的DAI连接SS，工作模式设为“音响设备和A/D、D/A的测试”。 b. SS通过DAI给手机发送编码的一个PCM比特流（No.1即POCSAG码）。 c. 将手机装在LRGP中，耳承要密合在仿真耳的刃形边缘上。
d. 用仿真嘴在嘴参考点（MRP）送一个声压为－47dBPa的纯单音。 e. 对原CCITT建议P.79表2中给出的各个频率，（频段4～17），测仿真耳的声压。
f. 根据原CCITT建议Rec.P79公式8.4计算侧音损耗（dB）和STMR（dB）值，采用表6/P.79中列（3）的加权系数（非密合情形）和4/P.79的LE值（人耳与仿真耳的修正系数）。 5.6.6 电话声耦合损耗（TAL） 5.6.6.1 稳定度储备
a. 在SS中的基准话音译码器的来去通路的环路中插入一个相当最小稳定度边际的增益，并启动任何一声回波控制器。
b. 将一个符合CCITT建议O.131的测试信号在基准话音译码器的数字输入端环路，观察稳定度，测试信号的电平为－10dBmO，持续时间为1s。
c. 若存在用户控制的音量控制器，应设置为最大档。 d. 对手机，将手机放在坚硬平面上，传感器面向平面。 5.6.7 失真
5.6.7.1 发送失真
a. 将手机装在LRGP中，耳承要密合在仿真耳的刃形边缘上。
b. 手机的DAI连接SS，操作模式为“音响设备及A/D、D/A的测试”。 c. 在MRP中输入一个正弦波信号，频率介于1004～1025Hz之间。
调节此信号的电平直到DAI处输出的PCM比特流等效为－10dBmO，此时MRP处的信号电平即为声参考电平（ARL）
d. 输入测试信号，其电平相对于ARL分别为：
－35dB －30dB －25dB －20dB －15dB －10dB －5dB 0dB +5dB +10dB
e. 在每一个信号电平上，用噪声加权滤波器测DAI处信号与总失真的频率之比（见原CCITT建议G.714和O.132）。
测试过程中，声压不得超过＋10dBPa。 5.7 电磁兼容性试验方法
参照YD 1032-2000 900/1800MHz TDMA数字蜂窝通信系统电磁兼容性限值和测量方法 第一部分:移动电话机及其辅助设备中的试验方法进行。但杂散发射的测量方法按本标准5.3.3执行。 5.8 环境条件试验方法
试验样品进行环境试验时，按以下顺序：低温试验、高温试验、温度冲击试验、自由跌落试验、
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振动（正弦）试验、潮热试验。
环境条件试验后的基本功能、电性能检验项目如表27所示。 表27 环境条件试验后的基本检验项目 功能检测要求的章条号 4.2.1.1 基本电性能检测要求的章条号 4.3.1 4.3.2.2 4.3.2.3 5.8.1 低温试验 试验样品在标准大气试验条件下使之达到温度稳定后，进行外观、结构检查和功能、电性能的初始检测。
5.8.1.1 低温贮存试验
a. 将受试手机关机后用聚乙烯薄膜密封好，放入室温的试验箱中； b. 调节试验箱温度，逐步降至-30℃，保持4h； c. 将受试手机从试验箱中取出，立即检查外观。置于标准大气试验条件下恢复2h后，开机检查，检验项目见表27，并应符合相应的要求。 5.8.1.2 低温运行试验
a. 将受试手机开机后用聚乙烯薄膜密封好，放入室温的试验箱中； b. 调节试验箱温度，逐步降至-10℃;
c. 待-10℃稳定后，运行2h，进行检查，检验项目见表27,并应符合相应的要求。检查通常在试验箱内进行。但如果不能在试验箱内检查，必须在拿出之后立即进行上述检查。 5.8.2 高温试验
试验样品在标准大气试验条件下使之达到温度稳定后，进行外观检查和功能、电性能初始检测。 5.8.2.1 高温贮存试验
a. 将受试手机关机后，放入室温的试验箱中； b. 调节试验箱温度，逐步升高至65℃，保持4h； c. 将受试手机从试验箱中取出，立即检查外观。置于标准大气试验条件下恢复2h后，开机检查，检验项目见表27,并应符合相应的要求。 5.8.2.2 高温运行试验
a. 将受试手机开机后，放入室温的试验箱中； b. 调节试验箱温度，逐步升高至55℃；
c. 待55℃稳定后，运行2h，对受试手机检查，检验项目见表27,并应符合相应的要求。检查通常在试验箱内进行。但如果不能在试验箱内检查，必须在拿出之后立即进行上述检查。 5.8.3 温度冲击试验
a. 将低温试验箱调到规定的贮存温度-30℃，高温试验箱调到规定的高温贮存温度+65℃。 b. 将试验手机关机后放入低温箱中，在规定的贮存温度下持续2h，在5min内将试验样品移到高温箱内，在规定的贮存温度下保持2h，循环三次。
c. 将手机在标准大气试验条件下放置，直至温度恢复2h后，进行外观、功能以及电性能检测。检验项目见表27,并应符合相应的要求。 5.8.4 跌落试验
a. 对普通手机1.0m高带电池自由跌落，跌落处为放置在水泥地板上20mm厚的硬木板，跌落后允许电池脱落，但仍可以正常通话使用。
试验样品除面板和装有天线的一面外共跌落5次，其它面朝下均可，有翻盖的手机应将翻盖合上。 进行外观及功能、电性能检查，检验项目见表27。磨损是可以的，但不应有裂缝，检验项目应符合相应的要求。
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