鼠标点PHD(脉冲高度分析器)，再测量决定上阈和下阈值。 上述条件的选择可参见附录1。
F.鼠标点quantitative program(定量分析程序)，最后确定分析时间。存盘后退出。
G.标样浓度(在界面上以两个天平法码表示)栏，选择分析方法(RAW)名称， 将标样名称加入，并输入标样各组分浓度。
H.将分析方法先存盘，再在SYSTEM SET UP中点漂移校正，建立新的漂移校正，如RAW，具体方法参见附录3。
I.打开分析方法，在MONITOR一档中选择上面所确定的漂移校正方法名称。
4. 进入XRF-MEASURE & ANALYSE界面，选择测量(MEASURE)，再用鼠标点标样测定栏(以两个天平法码表示)，然后鼠标点分析方法(rock)名称，即在右侧显示标样名，将待测标样放进试样室，鼠标点标样名后，再点MEASURE。按此将全部标样测完。
5. 再进入XRF-SYSTEM SET UP界面，在《APPLICATION》栏中打开校正曲线计算程序(或用鼠标点计算器形象图)，用鼠标选定分析方法(RAW)名称，在出现的界面上，在待测元素上方，用鼠标点之，使待测元素档呈深色，再用鼠标点下方的计算(CALCULATE)，检查每个待分析元素的曲线，每个标样的计算结果和化学值之间差是否满足要求。若某元素不满足要求，如Si。则在本计算界面的下方，鼠标点Si后，Si档呈深色，再点ADD，从?栏中点Al，OK后再计算，以此类推。
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亦可用理论?系数，即在下方用鼠标点correction coefficients下方所要计算的元素，再点理论(theory)，进入理论?系数计算界面，在calculate alphas上用鼠标点之，然后执行OK。
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粉末压片法较少使用理论?系数法和基本参数法，即使用也要适当加经验系数，校正颗粒度和矿物效应。熔融法和金属样品一般用理论?系数法和基本参数法，有时为了校正因加工工艺等因素引起的结构效应，也适当引用经验系数，如NiFeCo程序中?系数。
6. 将 matrix model中CLASSIC改为基本参数法(FP)，用鼠标点Calculate。
7. 经?校正后，若某标样仍超差，可在曲线中删去，方法是用鼠标点超差的标样后，再用鼠标点曲线下方的(EXCLUDE)。若欲恢复，则用鼠标点欲恢复的标样，然后按下方的包括(INCLUDE)。但是标样含量中最低和最高的标样，最好不要删去。对删去的国家标样，需要查明原因，是含量输错还是制样引起的。
附录1波长色散谱仪定量分析条件的选择
1 X光管的高压和电流的选择
端窗靶X射线管，高压电源供给X射线管的电压和电流为60kV和125mA或更高。设置的X射线管高压和电流的乘积不能超过谱仪给出的总功率，MagiX系列谱仪通常有2.4、3和4 千瓦之分，，2.4kW的X射线管的电压和电流为60kV和100mA。
SuperQ软件所推荐的电压和电流，其乘积通常是满功率，而且电压和电流值随元素而异。推荐值是依据元素而定，并未根据实际试样。众所周知，在选择高压时，其必要条件是设定的值必须大于待测元素激发电位，当所加电压是待测元素的激发电位4倍时，通常可获得90%的强度。管流可根据试样中待测元素含量进行选择。高压推荐的一般原则列于表1。长期实践表明，在许多情况下不应采用满功率，而应取满功率的
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0.7 ～0.9倍，这有助于延长X射线管的使用寿命。此外，若测定多个元素，其管压和管流的选择也不能变化太多，通常只需设定两种，如30、60kV分别满足轻、重元素的测定即可。这样有助于提高工作效率和仪器的稳定性。对于水泥工业中生料、熟料中诸成分的分析，用MagiX谱仪通常采用50kV，40mA。 2 角度的校正、背景的扣除和计数时间的确定
角度的选择取决于待测元素所选的谱线和晶体，当这两个条件一旦定下来后，软件将提供2θ角度值等。
A.谱线的选择原则
谱线的选择大体遵循下述原则：
(1)通常选择K?、K?、L?、L?和M?等几条主要特征谱线，这些谱线在各自谱线系列中是强线。对同一元素，其灵敏度依次为K?,L?,L?,K?和M?。通常选择K?,L?线。 (2)选择何种谱线视试样和制样方法而异。如元素Zr若含量较高(?20%)，用熔融法制样时，为避免厚度的影响则选用L? 线，而不是K?。这主要由于X射线荧光透射试
样的厚度与射线的能量和基体成函数关系，令有99%的X射线荧光能透射到试样表面，其强度以Id表示，I0 为样品表面的强度，则
Id?0.99?e?(??d)?Sin?2 (1) I0?ln(0.99) d(?m)?????Sin?2(1)式中?为基体对X射线荧光总质量吸收系数，?为基体的密度。为了说明问题，现将不同谱线在不同基体的透射厚度列于表2(使用PW24系列谱仪)。。
表1 高压的选择
KV 60 50 40 30 24 K系线 Fe-Ba Cr-Mn Ti-V Ca-Sc Be-K L系线 Sm-U Pr-Nd Cs-Ce Sb-I Ca-Sn
表2 不同谱线在不同基体的透射厚度(?m) (pw24××) CrK?(5.41keV) SnK?(25.19keV) MgK?(1.25keV) 基 体 铅 黄铜 铁 Fe2O3 SiO2 Li2B4O7 H2O 0.6 0.7 0.9 1.6 7 12 14 4 20 30 60 100 800 900 50 170 260 550 8000 50000 50000 9
由于待测元素和基体对原级X射线谱和待分析元素的特征X射线的质量吸收系数存在很大差异，待测元素相对强度和浓度之间的关系，并不呈比例。如表3中列出的铁及其各种氧化物中FeKα谱线相对强度及临界厚度数据。
从表3可知,当试样中铁的浓度从70%增加到77.8%,而FeKα线的相对强度仅从95%增加到95.7%。究其原因是氧对原级谱和FeKα谱基本上是透明的,即吸收系数很小。而基体中铁基本决定各种氧化物的吸收系数、临界厚度以及试样中FeKα线的出射厚度,由于在70% Fe2O3中FeKα临界厚度增大,因此其相对强度依然较大。
表3 铁及其氧化物中FeKα强相对强度和临厚度数据
铁的浓度% FeKα相对强度 FeKα临界厚度(cm×10-3) Fe 100 100 FeO 77.8 95.7 Fe3O4 72.5 95.5 Fe2O3 70.0 95
1.36 2.31 2.72 2.77 (3)在可能的情况下，所选谱线应避免基
体中其它元素的谱线干扰。在X射线荧光光谱分析中，特别是波长色散谱仪，与其他发射光谱相比，其干扰是很少的，但在有些情况下谱线干扰不仅存在且很严重，如PbL?和AsK?谱线几乎完全重叠，因此为获得待测元素的净强度，必须对谱线干扰进行校正。现代谱仪的软件通常可提示或自动予以校正干扰谱线。干扰谱线校正的方法通常是：
(a).如在测定低含量As时,一般不选用AsK?线，若Pb的含量与As相比较，不是很高时，可选AsK?用于测定砷；选PbL?测定Pb，然后在仪器提供的软件中，用数学方法扣除铅对砷的干扰；
表4 常见的谱线干扰 待测元素 OK? Mg K? P K? 主要干扰元素 Ca K?(7)， Na K?(2) Ca K?(3) MoLl，YL?1，WL?(4) Cd L?1 Ti K?，BaL?3， WL?2 PbL?3，CeL?2 Ni K?，WL? TaL?2 WL?2，Mo K?1(2)，HgL?2 HgL?1，As 待测元素 F K? Al K? S K? 主要干扰元素 P K?(3) Cr K?1(4)， BaL?1(3) MoL?1，Co K?(3)，ZrL?1 SnL?4， Ni K?(2) V K?，BiL?1 待测元素 Na K? Si K? Cl K? 主要干扰元素 ZnL?1 Sn L?1(2)， Co K?(4) MoL?1 K K? V K? Ca K? Cr K? Ti K? Mn K? CuK?1(2)， BaL? Cr K?，EuL?1 Fe K? Co K? Cu K? Ge K? Zn K? As K? Fe K?，ErL?1， HfLl MoK?(2)， PbL?，Ba K?2(2) Br K?1，Ni K? Ga K? Se K? WLl，Co K?， Y K?(2) TaL?1，PbLl TaL?1，WL?1 PtL?1 PbL?5 Br K? Rb K? Sr K? 10